Transactions of the Korean hydrogen and new energy society
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v.25
no.3
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pp.305-310
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2014
This study examined the morphological changes in lithium surface immersed in 1mol $dm^{-3}$ (M) $LiPF_6 $ dissolved in propylene carbonate (PC) containing different 1,2-dimethoxyethane (DME) concentrations as a co-solvent. A passivation film was formed on the surface of lithium metal by electrolyte decomposition. The passivation film formation reactions were significantly affected by the amount of co-solvent, DME, in electrolyte solution. A stable film was obtained from the 1 M $LiPF_6 $ / PC:DME (67:33) solution in which lithium electrode showed good electrochemical performances. Atomic force microscope (AFM) and electrochemical impedance spectroscopy (EIS) results revealed that there were no direct correlations between changes in the surface morphology of lithium metal and the resistance behavior of its passivation film.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.9
no.6
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pp.553-557
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1999
In order to investigate the optical properties of the $Al_XGa_{1-X}N/GaN$ thin film grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) method, the photoluminescene (PL), photocurrent (PC) and persistent photoconductivity (PPC) measurements were carried out at room temperature. The band gap of the $A1_x$$Ga_{1-x}$N/GaN was determined to 3.70 eV by the PL and PC measurements. The PC measurement on the light illumination from the top of the $A1_x$$Ga_{1-x}$N/GaN thin film provides peaks at 3.70, 3.43, and around 2.2 eV. The PC spectrum by the illumination passing through from the substrate of the sample can be shown at 3.43 eV together with a broad tail band from the GaN band edge to around 2.23 eV. The photocurrent quenching and anomalous PPC decay observed in PPC measurements indicate that metastable electron states are fomed in the band gap of GaN layer to trap electrons which can be tunneled the potential barrier for long recovery time.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.6
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pp.739-744
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1996
Lanthanide diphthalocyanines have interesting properties on electrochemical and chemical redox reactions. It is however, difficult to use because of thier short device life. Plasma-polymerization attends to improvement thier device life. Yb-diphthalocyanine ($YbPc_2$) polymer film was deposited in a parallel plate electrodes-type RF plasma reactor. $YbPc_2$ was sublimed into the argon plasma, and polymer film was obtained on a substrate. Radio frequency was constant of 13.56MHz. Pressure of argon gas, sublimation rate of $YbPc_2$ and RF power were variable parameters depending on film quality. Surface of polymer films include a lot of sub-micron order lumps. It was indicated that size of lumps depends on polymerization degree controled by parameters. Size of lumps and polymerization degree are increased with RF power. However, by the high RF power over 40W, polymerization degree is decreased with RF power and surface of film is rough. In condition of RF power is high, polymerization will compete with etching of film. We obtained good films for electrochromic display with RF power of 20W, argon gas pressure of 8.0 Pa and sublimationrate of $1.2 \times 10$ mol/min, and good films for gas sensor with RF power of 30W, argon gas pressure of 10.6Pa and sublimation rate of $1.2 \times 10$ mol/min.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2013.02a
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pp.320-320
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2013
Film thickness monitoring with plasma impedance monitoring (PIM) is demonstrated for small area $SiO_2$ RF plasma etching processes in this work. The chamber conditions were monitored by the impedance signal variation from the I-V monitoring system. Moreover, modified principal component analysis (mPCA) was applied to estimate the $SiO_2$ film thickness. For verification, the PIM was compared with optical emission spectroscopy (OES) signals which are widely used in the semiconductor industry. The results indicated that film thickness can be estimated by 1st principal component (PC) and 2nd PC. Film thickness monitoring of small area $SiO_2$ etching was successfully demonstrated with RF plasma harmonic impedance monitoring and mPCA. We believe that this technique can be potentially applied to plasma etching processes as a sensitive process monitoring tool.
In this study, ZnO film was deposited on polycarbonate substrate by spin-spray method at low substrate temperature of $85^{\circ}C$. Surface morphology of ZnO films was changed by adding citrate from rod to dense structure. As-deposited ZnO film indicated high transmittance above 80%. In case of the resistivity, as-deposited ZnO film had high resistivity due to the existence of organic substance in the film. However, organic substance was removed and resistivity was decreased to $3.9{\times}10^{-2}{\Omega}{\cdot}cm$, after UV irradiation.
The phthalocyanine(Pc) film can not be prepared by LB method because it is insoluble in organic solvents. In order to increase its solubility, two kinds of copper phthalocyanine derivatives (CuPc$(COOH)_2$ and CuPc$(COOH)_4$) were synthesized and their monolayers were prepared by LB method. It is found from the surface pressure-area curves that the LB monolayer film of CuPc$(COOH)_2$ have more ordered structure than that of CuPc$(COOH)_4$. In the photocurrent characteristic the value Of CuPc$(COOH)_2$ was superior to that of CuPc $(COOH)_4$. Therefore, it is found that the charge generation efficiency for phthalocyanines have influenced on its ordered structure as the functional groups.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers
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v.44
no.4
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pp.496-501
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1995
The N $O_{2}$ gas-detection characteristics were investigated using the functional organic Langmuir-Blodgett (LB) films of Copper-tetra-tert-butylphthalocyanine (CuTBP), Dilithium phthalocyanine (Li$_{2}$Pc), N-docosylpyridinium TCNQ(C$_{22}$Py(TCNQ)), Polyamic acid alkylamine salts (PAAS). The optimum conditions for a film deposition were obtained through a study of .pi.-.ALPHA. isotherms and the deposited film status was confirmed by electrical and optical methods such as UV/visible absortion spectra, thickness measurements by ellipsometry, and electrical capacitances. A response of the LB films to the N $O_{2}$ gas was measured by a change of the electrical conductivities when the film is exposed to the gases. The CuTBP LB film shows the biggest change of the electrical conductivities when it is exposed to the N $O_{2}$ gases. And the order of gas-detection performance is the following;Li$_{2}$Pc, $C_{22}$Py(TCNQ), and PAAS LB films. Especially, the CuTBP and Li$_{2}$Pc LB films not only show the bigger change in the electircal conductivities when exposed to the gas, but return to the original state when the gas is desorbed.d.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1995.05a
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pp.31-34
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1995
The NO$_2$ gas-deteotion characteristics were investigated using the functional organic Langmuir-Blodgett(LB) files of Dilithium phthalocyanines(Li$_2$Pc). The optimum conditions for a film deposition were obtained through a study of $\pi$-A isotherms, and the deposited film status was confirmed by the ellipsometry measurements. A propel number of layers for the gas-detection was proved to be 9 layers from a measurement of a measurement of change in the electrical conductivities when the films were exposed to the 200 ppm of the NO$_2$ gases. A response time, recovery time, and reproducibility were also studied. A proper temperature which was able to activate gas interaction between NO$_2$ gases and Li$_2$Pc LB films was around 150$^{\circ}C$ judging from the electrical conductivities in a temperature range of 20 to 200$^{\circ}C$. It was found that at 150\ulcorner there are increments of electrical conductivities by 65 tines, 30 seconds of response time and 60 seconds of recovery tine when the filmswere exposed to the gasses.
Ruiono, Yo Tomota;Momose, Yoshihiro;Takeuchi, Manabu
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.29
no.6
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pp.673-677
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1996
Copper phthalocyanine(CuPc) thick film solar cells were fabgricated byspin coating and their photovoltaic behavior was studied. Polyvinylidene fluoride (PVdF) was used for the binder. Aluminum and indium were employed as electrode metals to form Schottky contact to CuPc layer. The cells showed rectifying J-V characteristics in the dark and photovoltaic effect associated with white light irradiation. The photovoltaic performance of the cells strongly depended on contact metals, in which the formation of oxide layer between binder layer and electrode interface affected the solar cell. Influnce of the CuPc layer thickness, CuPc/PVdF ratio on the photovoltaic performance of the cells were also examined.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2006.06a
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pp.420-421
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2006
The ITO thin films were prepared by FTS (Facing Targets Sputtering) system on polycarbonate(PC) substrate. The ITO thin films were deposited with a film thickness of 100nm at room temperature. As a function of sputtering conditions, electrical and optical properties of prepared ITO thin films were measured. The electrical and optical characteristics of the ITO thin films were evaluated by Hall Effect Measurement(EGK) and UV-VIS spectrometer(HP), respectively. From the results, the ITO thin film was deposited with a resistivity $8{\times}10^{-4}[{\Omega}-cm]$ and transmittance over 80%.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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