• 제목/요약/키워드: MEIS

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Development and Applications of TOF-MEIS (Time-of-Flight - Medium Energy Ion Scattering Spectrometry)

  • Yu, K.S.;Kim, Wansup;Park, Kyungsu;Min, Won Ja;Moon, DaeWon
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2014년도 제46회 동계 정기학술대회 초록집
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    • pp.107.1-107.1
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    • 2014
  • We have developed and commercialize a time-of-flight - medium energy ion scattering spectrometry (TOF-MEIS) system (model MEIS-K120). MEIS-K120 adapted a large solid acceptance angle detector that results in high collection efficiency, minimized ion beam damage while maintaining a similar energy resolution. In addition, TOF analyzer regards neutrals same to ions which removes the ion neutralization problems in absolute quantitative analysis. A TOF-MEIS system achieves $7{\times}10^{-3}$ energy resolution by utilizing a pulsed ion beam with a pulse width 350 ps and a TOF delay-line-detector with a time resolution of about 85 ps. TOF-MEIS spectra were obtained using 100 keV $He^+$ ions with an ion beam diameter of $10{\mu}m$ with ion dose $1{\times}10^{16}$ in ordinary experimental condition. Among TOF-MEIS applications, we report the quantitative compositional profiling of 3~5 nm CdSe/ZnS QDs, As depth profile and substitutional As ratio of As implanted/annealed Si, Ionic Critical Dimension (CD) for FinFET, Direct Recoil (DR) analysis of hydrogen in diamond like carbon (DLC) and InxGayZnzOn on glass substrate.

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우리별 3호 영상의 복사학적 보정 알고리즘 (Radiometric Correction Algorithm for KITSAT-3 Images)

  • 신동석;곽성희;김탁곤
    • 한국지리정보학회지
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    • 제2권2호
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    • pp.9-14
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    • 1999
  • 본 논문에서는 우리별 3호에 탑재된 지구관측 센서인 MEIS (Multi-spectral Earth Imaging System) 영상의 복사학적 보정 알고리즘에 대해서 기술한다. MEIS 영상은 다른 관측위성 카메라 영상과 마찬가지로 여러 가지 복사학적 오차를 포함하고 있다. 이러한 오차 중 영상의 질적 측면에 가장 큰 영향을 주는 두가지 원인을 소개하고 이 오차의 보정 알고리즘을 제시한다. 제시된 알고리즘은 우리별 3호 영상의 전처리 소프트웨어에 구현되어 여러 영상에 적용하여 검증하였고, 사용자에게는 이러한 복사학적 보정 알고리즘을 통해 보정된 영상이 제공될 예정이다.

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항해지원을 위한 해양환경정보 실시간 예보시스템 개발 (Development of Real-Time Forecasting System of Marine Environmental Information for Ship Routing)

  • 홍기용;신승호;송무석
    • 한국해양환경ㆍ에너지학회지
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    • 제8권1호
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    • pp.46-52
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    • 2005
  • 대양을 운항하는 선박의 최적 항로계획 수립에 중요한 해양환경정보를 실시간으로 예보하는 시스템(MEIS)을 개발하였다. 예보정보는 위성관측 대양환경 자료를 기반으로 유럽중기기후예보센터가 처리한 실시간 자료를 바탕으로 하며, 장기 관측자료 데이터베이스에 근거한 통계적 정보와 함께 제공된다. MEIS시스템은 육상 기지국에 설치되어 해양환경정보를 취득하고 처리하는 육상자료처리시스템(MEIS-Center)과 선박에 탑재되어 가공된 해양환경정보를 화상으로 구현하고 최적항로 선정을 돕는 선박탑재화상구현시스템(MEIS-Ship)으로 구성되며, 운항중인 선박과 육상기지국간의 정보 송수신을 위한 위성통신 시스템을 활용한다. 해양환경 요소는 바람, 파랑, 기압, 폭풍을 포함하며, 바람은 풍향과 풍속 정보를 제공하고, 파랑은 너울과 풍파로 구분하여 파고, 파향, 파주기 정보를 제공할 수 있다. 실시간 정보는 0.5°해상도로 5시간 간격의 10일 예보치가 매일 제공되며, 통계적 정보는 1.5° 해상도의 15년 관측자료를 이용하여 월평균 및 재현주기별 최대값이 산정된다. MEIS-Ship은 항로 시뮬레이션 기능을 제공하며, 설정된 항로에 대해 예보 및 통계적 해양환경정보를 그림 또는 표의 형태로 제공한다. MEIS는 예정 항로상의 정확한 실시간 해양환경 예보를 제공하므로 선박운항자가 항로의 위험도와 운항경제성을 고려하여 최적 항로를 선정하는 것이 가능하다.

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In-Orbit Performance Result of KITSAT-3 Earth Imaging System (MEIS)

  • Yoo, Sang-Keun;Kim, Ee-Eul;Chang, Hyon-Sock;Kang, Kyung-In;Choi, Soon-Dal
    • 대한원격탐사학회:학술대회논문집
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    • 대한원격탐사학회 1999년도 Proceedings of International Symposium on Remote Sensing
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    • pp.37-42
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    • 1999
  • A compact imaging system, the Multi-spectral Earth Imaging System (MEIS) was developed and operated on an engineering test satellite, KITSAT-3 at the orbital altitude of 720 km. The MEIS takes multi-spectral images of the earth's surface with the swath width of 48 km and the ground sampling distance of 13.8 m in three spectral bands. A brief technical description of the KITSAT-3 MEIS and the result from its initial operation since early June, 1999 are presented. The quality of images produced by the KITSAT-3 MEIS was found comparable to that of images from existing commercial earth observation satellites from its preliminary assessment.

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TOF-MEIS 나노분석법 (NanoAnalysis with TOF-MEIS)

  • 유규상;문대원
    • 진공이야기
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    • 제2권2호
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    • pp.17-23
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    • 2015
  • Medium Energy Ion Scattering (MEIS) has been successfully used for ultrathin film analysis such as gate oxides and multilayers due to its single atomic depth resolution in compostional and structural depth profiling. Recently, we developed a time-of-flight (TOF) MEIS for the first time, which can analyze a $10{\mu}m$ small spot. Small spot analysis would be useful for test pattern analysis in semiconductor industry and various thin film technology. The ion beam damage problem is minimized due to its improved collection efficiency by orders of magnitude and the ion beam neutralization problem is removed completely for quantitative analysis. Newly developed TOF-MEIS has been applied for gate oxides, ultra shallow junctions, nanoparticles, FINFET structures to provide compositional and structural profiles. Further development for submicron spot analysis and applications for functional nano thin films and nanostructured materials are expected for various nanotechnology and biotehnology.

NMR Hydrogen Exchange Study of DNA Duplex Containing the Consensus Binding Site for Human MEIS1

  • Choi, Seo-Ree;Jin, Ho-seong;Seo, Yeo-Jin;Lee, Joon-Hwa
    • 한국자기공명학회논문지
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    • 제24권4호
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    • pp.117-122
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    • 2020
  • Transcription factors are proteins that bind specific sites or elements in regulatory regions of DNA, known as promoters or enhancers, where they control the transcription or expression of target genes. MEIS1 protein is a DNA-binding domain present in human transcription factors and plays important roles in various biological functions. The hydrogen exchange rate constants of the imino protons were determined for the wild-type containing the consensus DNA-binding site for the MEIS1 and those of the mutant DNA duplexes using NMR spectroscopy. The G2A-, A3G- and C4T-mutant DNA duplexes lead to clear changes in thermal stabilities of these four consensus base pairs. These unique dynamic features of the four base pairs in the consensus 5'-TGAC-3' sequence might play crucial roles in the effective DNA binding of the MEIS1 protein.

Surface and Interface Analysis with Medium Energy Ion Scattering Spectroscoppy

  • Moon, Dae-Wom
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 1998년도 제14회 학술발표회 논문개요집
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    • pp.129-129
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    • 1998
  • Most of the surface/interface analysis tools have limited depth profiling c capability in terms of the profiling range and the depth resolution. However, M MEIS can profile the surface and subsurface composition and structure q quantitatively and non-destructively with atomic layer depth resolution. I In this presentation, the MEIS system developed at KRISS will be briefly d described with an introduction on the principle of MEIS. Recent MEIS r results on the surface and interface composition and structural change due to i ion bombardment will be presented for preferential sputtering of T:없Os and d damage depth profiles of SHooD, Pt(l11), and Cu(l1D due to Ar+ ion b bombardment. Direct observation of strained Si lattices and its distribution i in the SHool)-SiCh interface and the initial stage of Co growth on Pt(l11) w will be reported. H surfactant effects on epitaxial growth of Ge on Si(ooD w will be discussed with STM results from SND.

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TOF-MEIS System을 이용한 Ultra Thin Film 및 Composition and the Core/Shell Structure of Quantum Dot 분석

  • 정강원;김재영;문대원
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2013년도 제45회 하계 정기학술대회 초록집
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    • pp.284-284
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    • 2013
  • 중 에너지 이온 산란 분석법(Medium Energy Ion Scattering Spectrometer, MEIS)은 50~500 keV로 이온을 가속 후 시료에 입사시켜 시료의 원자와 핵간 충돌로 산란되는 일차이온의 에너지를 측정하여 시료를 분석하는 기법으로, 원자층의 깊이 분해능으로 초박막의 표면 계면의 조성과 구조를 분석 할수 있는 유용한 미세 분석기술이다. 본 실험에서 에너지 70~100 keV의 He+ 이온을 사용하여 Pulse Width 1 ns의 Pulsed ion beam을 만들어 Start 신호로 사용하고 Delay-line-detector에 검출된 신호를 End 신호를 이용한 TOF-MEIS System을 개발하였다. 활용 가능한 분석시편으로 Ultra thin film 시편으로 1, 1.5, 2, 2.5, 3, 4 nm의 HfO2, 1.8, 4nm의 SiO2 시편을 분석 하였으며 Ultra Shallow Junction 시편으로 As Doped Si, Cs Doped Si 시편 및 Composition, Core/shell 구조의 Q-dot 시편으로 CdSe, CdSe/ZnS등 다양한 분석 실험을 진행 하였다. Composition, Core/shell 구조의 Q-dot 시편은 Diamond Like Carbon(DLC)의 Substrate에 Mono-layer로 형성하여 분석하였다.

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Nano Bio Imaging for NT and BT

  • Moon, DaeWon
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2015년도 제49회 하계 정기학술대회 초록집
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    • pp.51.2-51.2
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    • 2015
  • Understanding interfacial phenomena has been one of the main research issues not only in semiconductors but only in life sciences. I have been trying to meet the atomic scale surface and interface analysis challenges from semiconductor industries and furthermore to extend the application scope to biomedical areas. Optical imaing has been most widely and successfully used for biomedical imaging but complementary ion beam imaging techniques based on mass spectrometry and ion scattering can provide more detailed molecular specific and nanoscale information In this presentation, I will review the 27 years history of medium energy ion scattering (MEIS) development at KRISS and DGIST for nanoanalysis. A electrostatic MEIS system constructed at KRISS after the FOM, Netherland design had been successfully applied for the gate oxide analysis and quantitative surface analysis. Recenlty, we developed time-of-flight (TOF) MEIS system, for the first time in the world. With TOF-MEIS, we reported quantitative compositional profiling with single atomic layer resolution for 0.5~3 nm CdSe/ZnS conjugated QDs and ultra shallow junctions and FINFET's of As implanted Si. With this new TOF-MEIS nano analysis technique, details of nano-structured materials could be measured quantitatively. Progresses in TOF-MEIS analysis in various nano & bio technology will be discussed. For last 10 years, I have been trying to develop multimodal nanobio imaging techniques for cardiovascular and brain tissues. Firstly, in atherosclerotic plaque imaging, using, coherent anti-stokes raman scattering (CARS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) multimodal analysis showed that increased cholesterol palmitate may contribute to the formation of a necrotic core by increasing cell death. Secondly, surface plasmon resonance imaging ellipsometry (SPRIE) was developed for cell biointerface imaging of cell adhesion, migration, and infiltration dynamics for HUVEC, CASMC, and T cells. Thirdly, we developed an ambient mass spectrometric imaging system for live cells and tissues. Preliminary results on mouse brain hippocampus and hypotahlamus will be presented. In conclusions, multimodal optical and mass spectrometric imaging privides overall structural and morphological information with complementary molecular specific information, which can be a useful methodology for biomedical studies. Future challenges in optical and mass spectrometric imaging for new biomedical applications will be discussed.

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중 에너지 이온산란 분광장치의 제작 및 성능 평가 (Construction and performance evaluation of a medium energy ion scattering spectroscopy system)

  • 김현경;문대원;김영필;이재철;강희재
    • 한국진공학회지
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    • 제6권1호
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    • pp.97-102
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    • 1997
  • 이온-고체 표면 사이의 상호작용에 관한 연구를 수행하기 위하여 중 에너지 이온산 란 분광장치를 개발하였고 그 특성 평가를 수행하였다. 제작된 MEIS의 에너지 분해능은 $4\times 10^{-3}$으로 측정되었다. MEIS의 표면분석의 응용으로 60keVH+을 $Ta_2O_5$(300$\AA$)/Si에 적용하 여 에너지 손실인자와 깊이분해능을 얻은 결과는 42eV/$\AA$와 9.7$\AA$이었다. 또한, Si(100)표면 에 97.5KeV$H^+$이온을 random방향으로 입사시켜 이차원 스펙트럼을 얻었다.

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