We investigated the effect of ZnO seed layer thickness on the density of ZnO nanorod arrays. ZnO has been deposited using two distinct processes consisting of the seed layer deposition using ALD and subsequent hydrothermal ZnO growth. Due to the coexistence of the growth and dissociation during ZnO hydrothermal growth process on the seed layer, the thickness of seed layer plays a critical role in determining the nanorod growth and morphology. The optimized thickness resulted in the regular ZnO nanorod growth. Moreover, the introduction of ALD to form the seed layer facilitates the growth of the nanorods on ultrathin seed layer and enables the densification of nanorods with a narrow change in the seed layer thickness. This study demonstrates that ALD technique can produce densely packed, virtually defect-free, and highly uniform seed layers and two distinctive processes may form ZnO as the final product via the initial nucleation step consisting of the reaction between $Zn^{2+}$ ions from respective zinc precursors and $OH^-$ ions from $H_2O$.
This study was composed of four treatments [no treatment, phosphate + limestone layer treatment, phosphate + sodium bicarbonate + cement layer treatment, and phosphate + sodium bicarbonate + limestone layer treatment] for figuring out vegetation effects on the acid drainage slope. Treated acid neutralizing techniques were effective for neutralizing acidity and vegetative growth in order of [first: phosphate + sodium bicarbonate + limestone layer treatment, second: phosphate + sodium bicarbonate+cement layer treatment, third: phosphate + limestone layer treatment and fourth: no treatment] on the acid drainage slope. We found out that sodium bicarbonate treatment was additory effect on neutralizing acidity and increasing vegetaive growth besides phosphate and neutralizing layer treatments. In neutralizing layer treatments, Limestone layer was more effective for vegetation and acidity compared to cement layer treatment. Cement layer showed negative initial vegetative growth probably due to high soil hardness and toxicity in spite of acid neutralizing effect. Concerning plants growth characteristics, The surface coverage rates of herbaceous plants, namely as Lotus corniculatus var. japonicus and Coreopsis drummondii L were high in the phosphate + sodium bicarbonate + limestone layer treatment while Festuca arundinacea was high in the phosphate + sodium bicarbonate + cement layer treatment. We also figured out that soil acidity affected more on root than top vegetative growth.
Park, Hyunggil;Kim, Younggyu;Ji, Iksoo;Kim, Soaram;Lee, Sang-Heon;Kim, Jong Su;Leem, Jae-Young
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 2013년도 제45회 하계 정기학술대회 초록집
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pp.203.1-203.1
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2013
Zinc oxide (ZnO) nanocrystalline thin films on various growth temperatures for active layer and different buffer layer thickness were grown by plasma-assisted molecular beam epitaxy (PA-MBE) on Si substrates. The ZnO active layer were grown with various growth temperature from 500 to $800^{\circ}C$ and the ZnO buffer layer were grown for different time from 5 to 40 minutes. To investigate the structural and optical properties of the ZnO thin films, scanning electron microscope (SEM), X-ray diffractometer (XRD), and photoluminescence (PL) spectroscopy were used, respectively. In the SEM images, the ZnO thin films have high densification of grains and good roughness and uniformity at $800^{\circ}C$ for active layer growth temperature and 20 minutes for buffer layer growth time, respectively. The PL spectra of ZnO buffer layers and active layers display sharp near band edge (NBE) emissions in UV range and broad deep level emissions (DLE) in visible range. The intensity of NBE peaks for the ZnO thin films significantly increase with increase in the active layer growth temperature. In addition, the NBE peak at 20 minutes for buffer layer growth time has the largest emission intensity and the intensity of DLE peaks decrease with increase in the growth time.
This study presents a numerical model to predict the behavior of frost layer growth. The characteristics of the heat and mass transfer inside the frost layer are analyzed by coupling the air flow with the frost layer. The present model is validated by comparing with the several other analytical models. It has been known that most of the previous models cause considerable errors depending on the working conditions or correlations used in predicting the frost thickness growth, whereas the model in this work estimates the thickness of the frost layer more accurately within an error of 10% in comparison with the experimental data. Simulation results are presented for variations of heat and mass transfer during the frost formation and for the behavior of frost layer growth along the direction of air flow.
Epitaxial growth of a high-quality thin Si film is essential for the application to low-cost thin-film Si solar cells. A polycrystalline Si film was grown on a $SiO_2$ substrate at $450^{\circ}C$ by a Al-assisted crystal growth process. For the purpose, a thin Al layer was deposited on the $SiO_2$ substrate for Al-assisted crystal growth. However, the epitaxial growth of Si film resulted in a rough surface with humps. Then, we introduced a thin amorphous Si seed layer on the Al film to minimize the initial roughness of Si film. With the help of the Si seed layer, the surface of the epitaxial Si film was smooth and the crystallinity of the Si film was much improved. The grain size of the $1.5-{\mu}m$-thick Si film was as large as 1 mm. The Al content in the Si film was 3.7% and the hole concentration was estimated to be $3{\times}10^{17}/cm^3$, which was one order of magnitude higher than desirable value for Si base layer. The results suggest that Al-doped Si layer could be use as a seed layer for additional epitaxial growth of intrinsic or boron-doped Si layer because the Al-doped Si layer has large grains.
The effect of Air/$C_3H_8$ gas addition on the compound layer growth of steels nitrocarburised in $NH_3+Air+C_3H_8$ mixed gas atmospheres was investigated. It is considered that amount of residual $NH_3$ was varied according to alternation of Air/$C_3H_8$ mixing ratio and volume content. The compound layer formed from nitrocarburising was composed of ${\varepsilon}-Fe_{2-3}$(C, N) and ${\gamma}^{\prime}-Fe_4$(C, N). According as Air/$C_3H_8$ mixing ratio increased, the superficial content of ${\gamma}^{\prime}-Fe_4$(C, N) within the compound layer was increased, at the same time the growth rate of compound layer and porous layer was increased. In the case of alloy steel at the fixed gas composition, the growth rate of compound layer and porous layer was worse than carbon steel and compound layer phase composition structure primarily consisted of E phase. As the carbon content of materials was increasing in the given gas atmospheres, the growth rate of compound layer and porous layer was increased and the superficial content of ${\varepsilon}-Fe_{2-3}$(C, N) within the compound layer was increased.
Mechanical properties of the gas nitrocarburized product depend on the surface compound layer and the diffusion zone formed. The compound layer improves the wear resistance, and the corrosion resistance. Though phase composition, pore layer and growth rate of the compound layer varies according to the treatment time, temperature and the kind of the steel substrate, they are strongly influenced by the environmental gas composition. In the current study, the growth behavior of the compound layer and diffusion zone of the carbon steel and the alloy steel upon nitrocarburizing treatment at $570^{\circ}C$, and the phase composition and the variation in the growth rate of the compound layer according to the variation of the gas environment which was the medium of the nitriding and carburizing reaction were investigated.
한국전기전자재료학회 2002년도 춘계학술대회 논문집 유기절연재료 전자세라믹 방전플라즈마 일렉트렛트 및 응용기술
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pp.208-211
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2002
$Bi_2Sr_2CuO_x$(Bi-2201) thin films were fabricated by atomic layer-by-layer deposition using an ion beam sputtering method. 10 wt% and 90 wt% ozone mixed with oxygen were used with ultraviolet light irradiation to assist oxidation. At early stages of the atomic layer by layer deposition, two dimensional epitaxial growth which covers the substrate surface would be suppressed by the stress and strain caused by the lattice misfit, then three dimensional growth takes place. Since Cu element is the most difficult to oxidize, only Sr and Bi react with each other predominantly, and forms a buffer layer on the substrate in an amorphous-like structure, which is changed to $SrBi_2O_4$ by in-situ anneal.
In order to study the interfacial reaction between Nb thin sheet and Fe-C-(Si) alloy with different Chemical compositions, they were cast-bonded. The growth of carbide layer formed at the interface after isothermal heat treatment at 1173K, 1223K, 1273K and 1323K for various times was investigated. The carbide formed at the interface was NbC and the thickness of NbC layer was increased linearly in proportional to the heat treating time. Therefore, It was found that the growth of NbC layer was controlled by the interfacial reaction. The growth rate constant of NbC layer was slightly increased with increase of carbon content when the silicon content is similar in the cast irons. However, as silicon content increases with no great difference in carbon content, the growth of NbC layer was greatly retarded. The calculated activation energy for the growth of NbC layer was varied in the range of 447.4~549.3 kJ/moI with the compositions of cast irons.
Ha, Yong-Ho;Kahng, Se-Jong;Kim, Se-Hun;Kuk, Young;Kim, Hyung-Kyung;Moon, Dae-Won
한국진공학회:학술대회논문집
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한국진공학회 1998년도 제14회 학술발표회 논문개요집
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pp.156-157
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1998
It is a diffcult and challenging pproblem to control the growth of eppitaxial films. Heteroeppitaxy is esppecially idfficult because of the lattice mismatch between sub-strate and depposited layers. This mismatch leads usually to a three dimensional(3D) island growth. But the use of surfactants such as As, Sb, and Bi can be beneficial in obtaining high quality heteroeppitaxial films. In this study medium energy ion scattering sppectroscoppy(MEIS) was used in order to reveal the growth mode of Ge on Si(001) and the strain of depposited film without and with dynamically supplied atomic hydrogen at the growth thempperature of 35$0^{\circ}C$. It was ppossible to control the growth mode from layer-by-layer followed by 3D island to layer-by-layer by controlling the hydrogen flux. In the absent of hydro-gen the film grows in the layer-by-layer mode within the critical thickness(about 3ML) and the 3D island formation is followed(Fig1). The 3D island formation is suppressed by introducing hydrogen resulting in layer-by-layer growth beyond the critical thickness(Fig2) We measured angular shift of blocking dipp in order to obtain the structural information on the thin films. In the ppressence of atomic hydrogen the blocking 야 is shifted toward higher scattering angle about 1。. That means the film is distorted tetragonally and strained therefore(Fig4) In other case the shift of blocking dipp at 3ML is almost same as pprevious case. But above the critical thickness the pposition of blocking dipp is similar to that of Si bulk(Fig3). It means the films is relaxed from the first layer. There is 4.2% lattice mismatch between Ge and Si. That mismatch results in about 2。 shift of blocking dipp. We measured about 1。 shift. This fact could be due to the intermixing of Ge and Si. This expperimental results are consistent with Vegard's law which says that the lattice constant of alloys is linear combination of the lattic constants of the ppure materials.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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