Since a pattern defects "repair" system using a diode pumped solid state laser for Flat Panel Display (FPD) was suggested, a lot of laser systems have been explored and developed for mass-production microfabrication process. A maskless lithography system using 405 nm violet laser and Digital Micromirror Device (DMD) has been developed for PDP and Liquid Crystal Display (LCD) Thin Film Transistor (TFT) photolithography process. In addition, a "Laser Direct Patterning" system for Indium Tin Oxide (ITO) for Plasma Display Panel(PDP) has been evaluated one of the best successful examples for laser application system which is applied for mass-production lines. The "heat" and "solvent" free laser microfabrications process will be widely used because the next-generation flat panel displays, Flexible Display and Organic Light Emitting Diode (OLED) should use plastic substrates and organic materials which are very difficult to process using traditional fabrication methods.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.11a
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pp.511-514
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2000
This work aimed to develop ITO (Indium Tin Oxide) thin films ablation with a KrF Eximer laser required for the application in flat panel display, especially patterning into small geometry on a large substrate area. The threshold fluence for ablating ITO on glass substrate is about 0.1 J/cm$^2$. And its value is much smaller than using third harmonic Nd:YAG laser. Through the optical microscope measurement the surface color of the damaged ITO is changed into dark brown and irradiated spot is completely isolated form the undamaged surroundings by laser light. The XPS analysis showed that the relative surface concentration of Sn and In were essentially unchanged (In :Sn=5:1) after irradiating Eximer laser. Using aluminium mask made by second harmonic Nd:YAG laser the ITO patterning is carried out.
Journal of the Korean Society of Manufacturing Technology Engineers
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v.24
no.1
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pp.94-97
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2015
In this study, we introduce a yellowing phenomenon in silver nanowire laser patterning and attempt to understand the cause of this phenomenon. Silver nanowire is a promising alternative to indium tin oxide as a transparent electrode owing to its flexibility. Additionally, silver nanowire can be easily patterned by laser ablation, which is free of dangerous chemicals. However, a yellowish color change reducing visibility is observed on the patterned area of the silver nanowires, and this yellowing phenomenon prevents the use of silver nanowire as a transparent electrode material. We concluded that resolidified debris of melted and evaporated silver nanowires after laser ablation causes the color change of the electrode. Further research is needed to determine a means of mitigating this yellowing phenomenon.
Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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v.24
no.5
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pp.104-109
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2007
Photochemical patterning of self-assembled mono layers (SAMs) has been performed by diode pumped solid state (DPSS) 3rd harmonic Nd:$YVO_4$ laser with wavelength of 355 nm. SAMs patternings of parallel lines have subsequently been used either to generate compositional chemical patterns or fabricate microstructures by a wet etching. This paper describes a selective etching process with patterned SAMs of alkanetiolate molecules on the surface of gold. SAMs formed by the adsorption of alkanethiols onto gold substrate employs as very thin photoresists. In this paper, the influence of the interaction between the functional group of SAMs and the etching solution is studied with optimal laser irradiation conditions. The results show that hydrophobic functional groups of SAMs are more effective for selective chemical etching than the hydrophilic ones.
In this study, the laser patterning of sputter-deposited amorphous CoNbZr films has been tried usig Nd: YAG laser. However, the metal film was not removed because of its high reflectance of the alser on the metal surface. To solve this problem, authors tried to screen-print a block polymer on the metal film and then irradiate the laser on the polymer. This is a new method which was suggested by this study. Using this new method, the metal films were effectively removed with the laser power of 114W even though the metal films was not removed with the laser power of 332W using the conventional method. This result leads to the conclusion that the block polymer acts as a laser energy absorbing and transferring layer.
Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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2003.06a
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pp.612-615
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2003
Maskless laser patterning process is developed using 3rd harmonic Diode Pumped Solid State Laser with near visible wavelength of 355 nm. Photo-sensitive curable polymer is irradiated by UV laser and developed using polymer solvent to obtain quasi-3D patterns. We performed basic experiments for the various process conditions such as laser power, writing speed, laser focus, and polymer optical property to gain the optimal conditions. Experimentally, the patterns of trapezoidal shape were manufactured into dimension of 8${\mu}{\textrm}{m}$ width and 5.4${\mu}{\textrm}{m}$ height. This process could be applied to fabricate a single mode waveguide without expensive mask projection method.
Kim, Yong-Woo;Lee, Jin-Seok;Kim, Kyoung-Sik;Hahn, Jae-Won
Proceedings of the Korean Society of Laser Processing Conference
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2006.06a
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pp.123-128
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2006
We constructed a micro-patterning system that build patterns on a photoresist coated wafer using laser direct writing system. Confocal microscope system was adapted for real-time auto-focusing of the laser writing lens to generate lines of uniform width.
Kim, Myung-Ju;Kim, Yong-Hyun;Yoon, Ji-Wook;Choi, Won-Seok;Cho, Sung-Hak;Choi, Jiyeon
Laser Solutions
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v.16
no.4
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pp.1-6
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2013
Femtosecond laser patterning of ITO on a touch screen panel with a shaped fs laser beam was investigated. A quasi flat-top beam was formed using a variable mask and a planoconvex lens. The spatial profile of the original Gaussian beam and the shaped beam were monitored by a CCD beam profiler. The laser patterned ITO film was examined using an optical microscope, Scanning Electron Microscope (SEM) with Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS), and Atomic Force Microscope (AFM). It turned out that the quality of the ITO pattern fabricated by a shaped beam is superior to that of the pattern without beam shaping in terms of debris generation, height of the craters, and homogeneity of the bottom. Optimum processing window was determined at the laser irradiance exhibiting 100% removal of Sn. The removal rate of In was measured to be 83%.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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