• 제목/요약/키워드: JTAG Generator

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특수 명령어를 지원하는 자동 경계 주사 생성기 구현에 관한 연구 (An Implementation of Automatic Boundary Scan Circuit Generator Supporting Private Instructions)

  • 박재흥;장훈
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권11호
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    • pp.115-121
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    • 2004
  • 본 논문에서 구현한 GenJTAG은 웹기반 경계 주사 회로 자동 생성기이다. GenJTAG은 경계 주사 기법의 공개 명령어를 모두 지원하고 다른 테스트 용이화 기법을 위한 특수 명령어를 지원할 수 있는 경계 주사 회로를 생성하여 준다. 생성된 경계주사 회로는 행위 수준 verilog-HDL 코드로 기술되므로 요구 사항이 변경될 경우 사용자가 용이하게 수정할 수 있다. 특히, GenJTAG은 웹을 통하여 사용할 수 있으므로 누구나 쉽게 경계 주사 회로를 생성할 수 있는 이점이 있다.

파이프라인 구조를 갖는 회로를 위한 내장된 자체 검사 설계에 관한 연구 (A Study on Design of BIST for Circuits with Pipeline Architecture)

  • 양선웅;한재천;진명구;장훈
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1998년도 추계학술대회 논문집 학회본부 B
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    • pp.600-602
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    • 1998
  • In this paper, we implement BIST to efficiently test circuits with pipeline architecture and JTAG to control implemented BIST and support board level test. Since implemented BIST is designed to be initialized using new seed, hard-to-detect faults are easily detected. Besides, to optimize area overhead, it uses JTAG instead of BIST controller and modified pipeline register instead of added test pattern generator and signature generator. And, to optimize pin overhead, it uses pins of JTAG. Function and efficiency of implemented BIST is verified by simulation.

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JTAG 기반 테스트의 성능향상을 위한 PIDM(Preceding Instruction Decoding Module (Preceding Instruction Decoding Module(PIDM) for Test Performance Enhancement of JTAG based Systems)

  • 윤연상;김승열;권순열;박진섭;김용대;유영갑
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권8호
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    • pp.85-92
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    • 2004
  • 본 논문에서는 IEEE 1149.1 표준인 JTAG 기반 테스트 성능향상을 위한 Preceding instruction decoding module(PIDM)을 제안하였다. PIDM은 test access port(TAP) 명령어 디코딩과정을 TAP 제어회로(TAP-controller) 이전에 수행하여 클럭회수를 최소화하였으며 테스트 타겟 안에서 test mode select(TMS) 같은 신호를 생성할 수 있게끔 설계되었다. CORDIC 프로세서의 테스트 시뮬레이션 결과 PIDM은 non-PIDM에 비해 15% 정도의 성능향상을 나타내었으며 TAP 제어회로의 게이트 수는 기존에 비해 48% 이상 감소하였다.

BIST를 지원하는 경계 주사 회로 자동 생성기 (Automatic Boundary Scan Circuits Generator for BIST)

  • 양선웅;박재흥;장훈
    • 한국통신학회논문지
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    • 제27권1A호
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    • pp.66-72
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    • 2002
  • 본 논문에서 구현한 GenJTAG은 기판 수준의 테스팅을 위한 정보와 BIST(Built-In Self Test)에 대한 정보를 입력으로 받아 verilog-HDL 코드로 기술된 경계 주사 회로를 자동 생성해 주는 설계 자동화 툴이다. 대부분이 상용 툴들은 생성된 회로를 게이트 수준의 회로로 제공하기 때문에 사용자가 선택적으로 사용할 수 있는 BIST 관련 명령어를 회로에 추가하기가 어려운데 반해, 본 논문에서 구현한 툴은 사용자가 정의한 정보에 의해 BIST 관련 명령어를 지원할 수 있는 behavioral 코드의 경계 주사 회로를 생성하여 준다. 또한 behavioral 코드를 제공함으로써 사용자에 의한 수정을 용이하도록 하였다.