A high reflectance mirror, which has very low absorption and scattering loss, was coated onto a crystalline substrate by ion beam sputtering and then annealed at $450^{\circ}C$. We carefully selected the mirror coating material, and designed the high reflectance mirror, in order to avoid UV degradation which comes from the He-Ne plasma. We measured the surface roughness of the Zerodur substrate using phase shift interferometry and atomic force microscopy, and compared it with the TIS scattering of the mirror. The cavity ring-down method was used to measure the absorption of the mirror, and the thin film structure was correlated to its results. We also compared the optical properties of coated mirrors before and after annealing.
The potential energy surface (PES) for the loss of HCN or HNC from the pyrazine molecular ion was determined based on quantum chemical calculations using the G3//B3LYP method. Four possible dissociation pathways to form four $C_3H_3N^{+{{\bullet}}$ isomers were examined. A Rice-Ramsperger-Kassel-Marcus quasi-equilibrium theory model calculation was performed to predict the dissociation rate constant and the product branching ratio on the basis of the obtained PES. The resultant rate constant for the HCN loss agreed with the previous experimental result. The kinetic analysis predicted that the formation of $CH=CHN{\equiv}CH^{+{\bullet}}+HCN$ was predominant, which occurred by three consecutive steps, a C-C bond cleavage to form a linear intermediate, a rearrangement to form an H-bridged intermediate, and elimination of HCN.
Yim, Min Kyoung;Jung, Sun Hwa;Kim, Myung Soo;Choe, Joong Chul
Bulletin of the Korean Chemical Society
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v.33
no.12
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pp.4098-4102
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2012
The potential energy surface (PES) for the loss of HCN from the pyrimidine molecular ion has been explored using quantum chemical calculations. Possible reaction pathways to form five $C_3H_3N^{+{\bullet}}$ isomers have been obtained with Gaussian 4 model calculations. The rate constant for the HCN loss and the product branching ratio have been calculated using the Rice-Ramsperger-Kassel-Marcus theory on the basis of the obtained PES. The resultant rate constant agrees with the previous experimental result. By a kinetic analysis, it is proposed that the formation of $CH=CHC{\equiv}NH^{+{\bullet}}$ is favored near the dissociation threshold, while the formation of $CH=CHN{\equiv}CH^{+{\bullet}}$ is favored at high energies.
Thin amorphous film of $a-Se_{75}Ge_{25}$ acts as a positive resist in ion beam lithography. Previously, we reported the optical characteristics of amorphous $Se_{75}Ge_{25}$ thin film by the low-energy ion beam exposure and presented analytically calculated values such as ion range, ion concentration and ion transmission coefficient, etc. As the calculated results of analytical calculation, the energy loss per unit distance by $Ga^+$ ion is about $10^3[keV/{\mu}m]$ and nearly constant for all energy range. Especially, the projected range and struggling for 80 [KeV] $Ga^+$ ion energy are 0.0425[${\mu}m$] and 0.020[${\mu}m$], respectively. Hear, we present the results of Monte-Carlo computer simulation of Ga ion scattering, exposure and development in $a-Se_{75}Ge_{25}$ resist film for focused ion beam(FIB) lithography. Monte-Carlo method is based on the simulation of individual particles through their successive collisions with resist atoms. By the summation of the scattering events occurring in a large number N(N>10000) of simulated trajectories within the resist, the distribution for the range parameters is obtained. Also, the deposited energy density and the development pattern by a Gaussian or a rectangular ion beam exposure can be obtained.
The effect of surface roughness on mirror scattering has been studied. Five kinds of substrates with different surface roughness were fabricated. On those substrates, a dielectric multi-layer coating with high reflectivity was deposited by ion beam sputtering and electron beam evaporation. A total integrated scattering measurement set-up was built for the evaluation of deposited samples. Most of the ion beam sputtered mirrors showed lower scattering than the electron beam evaporated one, which deposited on substrates similar in surface roughness. Over ~2 $\AA$ in surface roughness, scattering strongly depend on the micro-structure of the super-polished surface. The lowest scattering we have achieved is 2.06 ppm by ion beam sputtering from the substrate with surface roughness of 0.23 $\AA$.
Ion mobility mass spectrometry (IM-MS) combines the advantages of ion mobility spectrometry (IMS) and MS for effective gas-phase ion analysis. Separation of ions based on their mobilities prior to MS can be performed without a great loss in other analytical figures of merit, and the extra dimension of analysis offered by IM can be beneficial for isomer and complex sample analyses. In this review, basic principles of IMS and IM-MS are described in addition to an introduction to various IMS techniques and commercial IM-MS instruments. The nature of collision cross-section (${\Omega}_D$), an important parameter determining the transport properties of ions in IMS, is also explained in detail.
In this paper, a new method that monitors the quantity of particles using ion-counter in vacuum environment is introduced. In-situ particle monitoring (ISPM) system is composed by Gerdien type ion-counter (house-made), DC power supply and electrometer. The ion-counter applied by positive voltage detects only positive charged particles. Therefore the particles to be detected should be in known charge state for further data analysis. ion-counter is installed at the exhaust line of process equipment where the pressure loss is structurally low. ISPM system performance has been verified with SMPS (Scanning Mobility Particle Sizer) system. The correlation coefficient is above 0.98 at the particle size range of $20{\sim}300nm$ in diameter with identified charge distribution under $0.1{\sim}10.0$ Torr.
The Mars Atmosphere and Volatile (MAVEN) mission has been providing valuable information on the atmospheric loss of Mars since its launch in November 2013. The Neutral Gass and Ion Mass Spectrometer (NGIMS) onboard MAVEN, was developed to analyze the composition of the Martian upper atmospheric neutrals and ions depending on various space weather conditions. We investigate a variation of upper atmospheric ion densities depending on the interplanetary coronal mass ejections (ICMEs). It is known that the Mars has a very weak global magnetic field, so upper atmosphere of Mars has been strongly affected by the solar activities. Meanwhile, a strong crustal magnetic field exists on local surfaces, so they also have a compensating effect on the upper atmospheric loss outside the Mars. The weak crustal field has an influence up to 200km altitude, but on a strong field region, especially east longitude of $180^{\circ}$ and latitude of $-50^{\circ}$, they have an influence over 1,400km altitude. In this paper, we investigated which is more dominant between the crustal field effect and the ICME effect to the atmospheric loss. At 400km altitude, the ion density over the strong crustal field region did not show a significant variation despite of ICME event. However, over the other areas, the variation associated with ICME event is far more overwhelming.
Cho Sook-Hyun;Heo Jae-Young;Choi Yong-Jo;Kang Jin-Ho;Cho Sung-Hwan
Food Science and Preservation
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v.12
no.6
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pp.534-539
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2005
Effects of grapefruit seed extract and Ag ion solution on the keeping quality and shelf life of mungbean sprouts were investigated in terms of weight loss, gas composition, hardness, color, ascorbic acid content, and viable cell counts during storage. Packages with $30\;{\mu}m$ polypropylene(PP) film was applied for mungbean sprouts dipped in Ag ion solution, 50 ppm and 100 ppm GFSE, 50 ppm and 100 ppm GFSE in Ag ion solution and stored $5^{\circ}C$. Totally weight loss exceeded $1\%$ and no visible signs of shrivelling of mungbean sprouts were observed. GFSE in Ag ion solution treatment, resulting in mungbean sprouts of better visual quality, weight loss, color, ascorbic acid as compared to the control without dipping. A shelf life of 6 days was achieved with 100 ppm GFSE in Ag ion solution treatment.
Proceedings of the Korean Society Of Semiconductor Equipment Technology
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2006.05a
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pp.255-258
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2006
In this paper, the new method which is monitoring quantity of particles using by ion-counter has been developed. ISPM system is composed by Gerdien type ion-counter (house-made), DC power supply and electrometer. Ion-counter applied positive voltage could detect only positive charged particles. Therefore charged particles to Boltzmann equilibrium distribution or to some identified charge distribution can be detected by ion-counter. Ion-counter could install on the exhaust line of process equipment since pressure loss is structurally low. ISPM system has been certified by comparison with the result of SMPS (Scanning Mobility Particle Sizer) system. The relation coefficiency is above 0.98 about $20{\sim}300nm$ particles with identified charge distribution under $0.1{\sim}10.0$ Torr.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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