Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2003.03a
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pp.120-120
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2003
MOCVD법으로 TiN 표면에 Ru을 증착함에 있어서 Ru의 핵생성을 고양시키기 위한 ECR plasma 전처리 세정이 필요하다. 본 연구에서는 Ru 증착시 ECR $H_2O$$_2$, AE Plasma 전처리 세정 효과를 SEM, AES, XRD로 분석하였다. Ru의 핵생성은 ECR H$_2$, Ar Plasma의 노출시간이 증가할수록 향상된 반면, ECR $O_2$ plasma의 경우 노출시간이 증가할수록 핵생성 효과는 감소하였다. H$_2$ plasma 내의 H$_2$ion은 Ti와 NH$_3$를 형성하기 위해서 TiN과 반응하여 TiN을 Ti로 개질 시켰으며, Ar plasma 전처리 세정하는 동안 Ar plasma 내의 Ar ion은 TiN 또는 TiON 표면의 질소와 산소원자를 제거하는 효과를 나타내었다. 그 결과 TiN 표면상에서도 Ru의 핵생성이 쉽게 이루어졌으며 H$_2$, Ar ECR Plasma 전처리 세정에서 RU 핵생성이 향상되는 결과를 얻었다. 세 종류의 plasma중에서 Ar ECR plasma로 전처리 세정한 경우에 가장 높은 Ru 핵생성 밀도를 얻을 수 있었다.
Park, Sang-Hyun;Gu, Hyo-Keun;Sim, Jung-Bong;Kim, Kyoung-Hwan;Park, Jae-Yoon;Lee, Duck-Chool
Proceedings of the KIEE Conference
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1998.11c
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pp.895-897
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1998
The optical spectra of microwave plasma by four kinds of gases($N_2$, $N_2-CH_4$, $H_{2}-CH_{4}$ and Air-$CH_4$) have been measured for investigating 388.4[nm] peak which has the same intensity as $H_{\alpha}$(656.4[nm]) peak. A 388.4[nm] peak by $N_2$ plasma, $N_{2}-CH_{4}$ plasma and Air-$CH_4$ plasma may be CN peak because it is with 337.1, 357.8 and 316.0[nm] peaks by $N_2$. And a 388.4[nm] peak by $H_{2}-CH_{4}$ plasma without by $N_2$ 337.1, 357.8 and 316.0[nm] peaks may be CH peak. In the investigation results for optical spectra by $H_{2}-CH_{4}$ plasma and $H_{2}-CH_{4}-O_{2}$ plasma, the density of hydrogen atom was increased because oxygen decompose hydrogen molecules in $H_{2}-CH_{4}$ plasma with oxygen. These hydrogen atom decompose $CH_4$ and increase CH radical. And the crystalline of deposited diamond was good and the growth rate increased.
JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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v.13
no.4
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pp.387-394
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2013
As the feature size of integrated circuits continues to decrease, the challenge of achieving an oxidation-free exposed layer after photoresist (PR) stripping is becoming a critical issue for semiconductor device fabrication. In this article, the hydrogen plasma characteristics in direct plasma and the PR stripping rate in remote plasma were studied using a $120{\Phi}$ cylindrical inductively coupled plasma source. E mode, H mode and E-H mode transitions were observed, which were defined by matching the $V_{rms}$ and total impedance. In addition, the dependence of the E-H mode transition on pressure was examined and the corresponding plasma instability regions were identified. The plasma density and electron temperature increased gradually under the same process conditions. In contrast, the PR stripping rate decreased with increasing proportion of $H_2$ gas in mixed $H_2/N_2$ plasma. The decrease in concentration of reactive radicals for the removal of PR with increasing $H_2$ gas flow rate suggests that NH radicals have a dominant effect as the main volatile product.
Friction coefficient of SM45C steel was surprisingly reduced with $H_2S$ and $C_3H_8$ gas during plasma sulf-nitriding. During the plasma sulf-nitriding, 100-700 sccm of $H_2S$ gas and 100 sccm of $C_3H_8$ gas were added and working pressure and temperature were 2 torr, $500-550^{\circ}C$, respectively. As $H_2S$ gas amount increased over 500 sccm, flake-like structures were developed on top of the nitriding layer and grain size of the nitriding layer were about 100 nm. The friction coefficient for the sample treated plasma sulf-nitriding under $N_2-H_2S$ gas was 0.4 - 0.5. The structure became more finer and amorphous-like along with $N_2-H_2S-C_3H_8$ gas and the nano-sized surface microstructures resulted in high hardness and significantly low friction coefficient of 0.2.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.20
no.7
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pp.611-614
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2007
The changes in the work $function({\Phi}_w)$ in the MgO protective layers after $plasma(Ar,\;H_2)$ treatment have been studied using ${\Upsilon}-focused$ ion beam $({\Upsilon}-FIB)$ system. The ${\Phi}_w$ was determined as follows: Ar-plasma $treatment({\Phi}_w=4.52eV)$, $H_2-plasma$$treatment({\Phi}_w=5.65eV)$, and non-plasma $treatment({\Phi}_w=4.64eV)$. The results indicated that the H-plasma could not make any effective physical etching due to the small masses of hydrogen atoms and molecules while the hydration of H-plasma could grow some contaminating materials on the surface of MgO.
The effect of process parameters on $H_2$ production from water vapor excited by HF ICP has been qualitatively examined for the first time. With the increase of ICP power, characteristics of $H_2$ production from $H_2O$ dissociation in plasma was divided into 3 regions according to both reaction mechanism and energy efficiency. At the edge of region (II) in the range of middle ICP power, energy effective hydrogen production from $H_2O$ plasma can be achieved. Furthermore, within the region (II) power condition, heating of substrate up to $500^{\circ}C$ shows additional increase of 70~80% in $H_2$ production compared to $H_2O$ plasma without substrate heating. This study have shown that combination of optimal plasma power (region II) and wall heating (around $500^{\circ}C$) is one of effective ways for $H_2$ production from $H_2O$.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.55
no.12
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pp.601-605
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2006
The resistance-capacitance (RC) delay of signals through interconnection materials becomes a big hurdle for high speed operation of semiconductors which contain multi-layer interconnections in smaller scales with higher integration density. Low-k materials are applied to the inter-metal dielectric (IMD) materials in order to overcome the RC delay. Relaxation continuum (RCT) model that includes neutral-species transport model have developed to model the etching process in a capacitively coupled plasma (CCP) device. We present the parametric study of the modeling results of a two-frequency capacitively coupled plasma (2f-CCP) with $N_2/H_2$ gas mixture that is known as promising one for organic low-k materials etching. For the etching of low-k materials by $N_2/H_2$ plasma, N and H atoms have a big influence on the materials. Moreover the distributions of excited neutral species influence the plasma density and profile. We include the neutral transport model as well as plasma one in the calculation. The plasma and neutrals are calculated self-consistently by iterating the simulation of both species till a spatio-temporal steady state profile could be obtained.
Low temperature plasma treatment with different gases and rf powers were performed to improve the adhesion strength between polytetrafluoroethylene(PTFE) and electroless deposited copper. According to the research, $H_2$ plasma having hydrogen radical was more effective in surface polarity modification than $O_2$ plasma due to the defluorination reaction. However, surface roughness of PTFE was more increased with $O_2$ than $H_2$ plasma. PTFE treated with $120W-O_2$ plasma and $250w-H_2$ plasma, consecutively showed rougher surface than single step $250w-H_2$ plasma treated one and more hydrophilic than single step $120W-O_2$ plasma treated one. And it showed 5B tape test grade, which is better adhesion property than 1B or 3B obtained by single step plasma treatment. In addition, adhesion strength between PTFE and Cu deposit is also deeply affected by residual water on its interface.
Quinones have been reported to undergo nonenzymatic reaction with thiols to generate reactive oxygens. It is therefore possible that the nonenzymatic reaction of quinones with thiols in plasma could lead to potentJared cellular toxicity or disease. When 1 mM menadione was added in plasma under pH 11.2, 7.4 and 5.0, the increase in oxygen consumption rate was the order of pH 11.2 > pH 7.4 > pH 5.0. In addition, oxygen consumption rates under plasma anticoagulated with trisodium citrate solution (pH 7.85) was significantly higher than those with acid-citrate-dextrose solution (pH 6.87). SOD and catalase reduced the rate of oxygen consumption induced by menadione in plasma. Taken together, these results suggest that the menadione-induced increased oxygen consumption was due to nonenzymatic reaction of menadione with thiols in the plasma. The presence of plasma has an additive effect on the increased oxygen consumption rates induced by the menadione treatments on our model tissue, platelets, as compared between washed platelet (WP) and platelet rich plasma (PRP). Cytotoxicity, as determined by LDH release, are well correlated with the oxygen consumption rates observed in each system and strongly suggest that menadione-induced cytotoxicity can be increased with the presence of blood plasma.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2010.08a
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pp.94-94
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2010
As a new plasma source for the plasma enhanced chemical vapor deposition (PCVD) of ${\mu}c$-Si deposition, we have demonstrated a microwave-excited plasma source, which can produce high density (${\sim}10^{12}\;cm^{-3}$) plasma with low electron temperature (~1 eV) and low plasma potential (~10 V). In this plasma source, microwave power radiated from slot antenna is distributed along the plasma-dielectric interface in large area and this enables us to produce uniform high-density plasma in large area. To optimize deposition conditions, deep understanding of gas phase chemistry is indispensable. In this presentation, we will discuss on the gas phase diagnostics of microwave $SiH_4/H_2$ plasma such as $SiH_4$ dissociation or $SiH_3$ radical profile as well as deposited film properties.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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