In-situ HVEM study of the phase change behaviors of the amorphous $Ge_2Sb_2Te_5$ thin films
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- 한국전자현미경학회:학술대회논문집
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- 한국현미경학회 2005년도 제36차 추계학술대회 및 제4회 HVEM 이용자 워크샵
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- pp.101-102
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- 2005