It has been suggested that the fluorine content of crude sea salt may have special value in the prevention of tooth decay, by A.E.Schaefer and J/H/.Shaw. Shaw calculated that if crude sea salt containing about 40 ppm of fluorine were used, the consumption of 26-44 grams of the salt per day for each prison would be sufficient for the prevention of tooth decay. He also suggested that this level of salt consumption is actually quite common among many population in the far and near east. In order to examine the fluorine contents of sea salt in Korea, several kinds of solar-evaporating salt and pan-evaporating salt were studied. The experimental results may be summarized as follows; 1. Fluorine contents of 9 kinds of solar-evaporating salt ranged from 3.8 to 15.0 ppm and the average was 7.52 $\pm$ 3.89 ppm. 2. Fluorine contents of 7 kinds of pan-evaporating salt ranged from 2.5 to 7.1 ppm. 3. The more the salt is refined, the less becomes the fluorine content. 4. Even the crudest sea salt can not contain about 40 ppm of fluorine. 5. Statistically, daily consumption of sea slat for each person in Korea is 28 grams.
Fluorine-19 NMR solution measurements have been made for various phenyl-fluorinated iron porphyrin complexes. Large chemical shifts for phenyl fluorine signals of iron(III) and iron(II) are observed, and these signals are sensitive to electronic structure. The chemical shift differences in ortho-phenyl fluorine signals between high-spin ferric and low-spin ferric tetrakis(pentafluorophenyl)porphyrins are approximately 40 ppm, whereas the differences are approximately 7 ppm between high- and low-spin states of ferrous tetrakis(pentafluorophenyl)porphyrin complexes. Analysis of fluorine-19 isotropic shifts for the iron(III) tetrakis(pentafluorophenyl) porphyrin using fluorine-19 NMR indicates there is a sizable contact contribution at the ortho-phenyl fluorine ring position. Large phenyl fluorine-19 NMR chemical shift values, which are sensitive to the oxidation and spin states, can be utilized for identification of the solution electronic structures of iron(III) and iron(II) porphyrin complexes.
Tungsten(W) polycide gate 구조에서 $WSi_x$의 두께가 증가하면 열처리 공정 후 Gate oxide의 두께가 증가하며, 전기적 신뢰도가 열화 되는 현상이 발생한다. 이러한 특성 열화를 일으키는 지배적인 요인은 $WSi_x$ 증착 공정 중 유입되어 후속 열 공정에 의하여 gate oxide로 환산되는 fluorine인 것으로 밝혀졌다. 이러한 현상을 규명하기 위하여 fluorine ion implantation된 poly Si과의 특성을 비교하였으며, SIMS 및 단면 TEM을 이용한 미세 구조 연구를 실시하였다. 그러나 $WSi_x$의 두께가 600$\AA$ 이상부터는이러한 특성 열화가 포화되는 현상이 관찰되었다. 600$\AA$ 이상의 $WSi_x$ 두께에서는 미세 구조가 표면이 거칠고, porous한 phase로 구성된 상부 구조와 비교적 dense하고, 매끈한 계면 상태를 갖는 하부 구조로 이루어졌으며, porous한 표면 부위는 후속 열공정 중 oxygen-rich한 phase로 변하여 fluorine을 포획하여 oxide로의 확산을 억제하여 특성 열화가 포화되는 것으로 해석되었다.
The features of precipitating reaction of fluorine have been examined under several aquatic conditions by employing calcium ion as a precipitant. Based on MINTEQ program, fluorine was found to exist in the forms of $H_2F_2$ and HF in strong acidic environment and change into $F^-$ with increasing pH. In the experimental condition, the precipitating reaction of fluorine progressed rapidly within a few minutes after the reaction started and reached its equilibrium in 10 minutes. As the addition of precipitant was increased, removal of fluorine by the formation of precipitate was promoted and its was also enhanced by the rise of pH. The precipitating reaction of fluorine was impeded when its initial concentration was low and X-ray analysis showed that the crystalline structure of precipitate was mainly $CaF_2$ with partly NaF. Coexisting phosphate in solution influenced the fluorine removal by impeding the precipitate formation and similar effect was found when metallic ion such as $Zn^{2+}$ was present with fluorine.
Various fluorine-containing materials are used in electronic devices like LCD display panels and Li-ion batteries. The structural conformation of fluorine in fluorinated materials is an important contributing factor that influences the chemical and physical properties. The conformation can be changed by heat and stress during manufacture or use. Understanding the conformational changes is critical for understanding the performance and durability of electronic devices. Solid-state NMR spectroscopy could be widely used for the analysis of various fluorine-containing materials for electronic devices. However, conventional CPMAS probes cannot be used for in-situ analysis of fluorine-containing electronic devices like LCD panels and Li-ion batteries. In this paper, we show the design, construction, and optimization of a $^{19}F-^{13}C$ double-resonance solid-state NMR probe for a 400MHz wide-bore magnet with a flat square coil for in-situ analysis of fluorine-containing electronic devices without observing fluorine background signals. This custom-built probe does not show any fluorine background signals, and can have higher efficiency for lossy samples.
Park, Jong Sik;Kim Seong Han;Kim, Hong Seok;Cho Seung Koo;Kim Keu Hong
Bulletin of the Korean Chemical Society
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제13권2호
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pp.131-135
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1992
High-Tc superconducting materials, $HoBa_2Cu_3O_{7-x}F_y$ with $0.0{\leq}y{\leq}0.5$, were synthesized by ceramic method and studied by X-ray diffraction, thermogravimetric analysis, differential thermal analysis, scanning electron microscopy and resistivity measurement. From the X-ray diffraction data, it was found that the samples had only single phase of which lattice volumes were decreased in proportional to the amount of fluorine, which indicated that the relatively small fluorine atoms are effectively substituted for the oxygen sites. Also, an anomalous phenomenon appeared that the peak intensities of (001) planes were greatly increased as fluorine contents increased. SEM photographs revealed that the grain sizes were enlarged progressively with fluorine contents. This fact could be explained along with DTA & TGA data that the incorporation of fluorine gave rise to lowering the melting point. Tc decreased as the incorporation of fluorine content increased. This implies that the superconducting electrons are perturbed due to the substitution of electronegative fluorine atom.
불소는 적정 농도에서는 치아우식 예방 효과를 증진시키는 원소이지만 불소에 대한 정확한 정보를 인식하지 못하는 경우에는 치아우식 예방에 좋지 못한 큰 영향을 미친다. 이에 본 연구는 대학생을 대상으로 불소에 대한 인식도를 평가하고 인식도에 따른 구강건강상태를 분석함으로서 우식예방효과를 증진시키고 불소에 대한 올바른 지식을 전달하고자 한다. 본 연구는 2014년 5월1일부터 6월30일까지 대구 경북 지역에 거주하는 대학생 중 남성 82명 여성 102명을 대상으로 설문조사와 구강건강상태를 평가하기 위해 구강검진을 실시하였다. 연구결과 불소 인식도에 따른 DT rate 치과 외에 불소사용 인식도는 '없다'가 19.46%로 '있다' 11.10%보다 높았다(p<.05). 불소함유제품 사용표시 확인은 '아니오'가 18.32%로 가장 높아 주의표시를 읽지 않을수록 높게 조사되었다(p<.05). 불소 인식도에 따른 FT rate 치과에서의 불소사용의 인식도는 '있다'가 71.98%로 '없다' 49.04%보다 높았다(p<.05). 불소인식도가 구강건강상태에 미치는 영향을 파악함으로서 향후 불소예방사업을 수행함에 있어 기초자료를 마련하는데 의의가 있고 이상의 결과를 바탕으로 불소에 대한 인식을 높이기 위한 적극적인 교육과 홍보가 이루어져야 한다고 생각된다.
In this study, we have investigated the effect of the various operating conditions on the removal fluorine in the rinsed water for the semiconductor industry by using electrolysis process. The removal efficiency of fluorine was irrelevant to initial pH, and carbon anode was high-level treatment in the effect of various electrodes. Fluorine included in the wastewater is treated by the addition of a Ca(OH)2, removal efficiency of electrolysis was increased about 40%. Besides the removal efficiency of fluorine was increased as the current density was increased and this treatment system could reduce both the total sludge and running costs. The feasibility of the electrochemical treatment to the fluorine containing wastewater was verified from this study.
Lithium diffusivity of fluorine-free and -doped tin-nickel (Sn-Ni) film model electrodes with improved interfacial (solid electrolyte interphase (SEI)) stability has been determined, utilizing variable rate cyclic voltammetry (CV). The method for interfacial stabilization comprises fluorine-doping on the electrode together with the use of electrolyte including fluorinated ethylene carbonate (FEC) solvent and trimethyl phosphite additive. It is found that lithium diffusivity of Sn is largely dependent on the fluorine-doping on the Sn-Ni electrode and interfacial stability. Lithium diffusivity of fluorine-doped electrode is one order higher than that of fluorine-free electrode, which is ascribed to the enhanced electrical conductivity and interfacial stabilization effect.
We propose a new in-situ fluorine passivation of poly-Si TFTs using excimer laser annealing to reduce the trap state density and improve reliability significantly. To investigate the effect of an in-situ fluorine passivation, we have fabricated fluorine-passivated p-channel poly-Si TFTs and examined their electrical characteristics and stability. A new in-situ fluorine passivation brought about an improvement in electrical characteristic. Such improvement is due to the formation of stronger Si-F bonds than Si-H bonds in poly-Si channel and $SiO_2$/Poly-Si interface.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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