• Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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• v.10 no.7
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• pp.1725-1728
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• 2009

This research developed process control device and FGV pattern generating device essential for full gate visual inspection to improve process so that defect detection capability may be maximized in specified environment. The devices developed in this research, which can be swiftly replaced in case loss or error occurs, are anticipated to improve module yield as well as maintain tact loss near '0'. In addition, as a result of mounting H/W and S/W system to control detailed operation sequence in production line and executing performance check and verification, detection rates were 98.1% and 99.1% respectively for pixel defect by tact and line defect, and yield of the entire module process including gate and visual level test increased up to 98.3%.

• Proceedings of the KAIS Fall Conference
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• 2008.11a
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• pp.197-200
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• 2008

현재 국내.외의 디스플레이 산업에서의 경쟁력은 사용자의 요구에 부응하는 제품을 얼마나 적시에 적절한 가격으로 출시하는가에 달려있다. 또한 국외, 특히 중국과 대만의 거센 추격을 받을 뿐만 아니라 시장조사기관에서는 지속적인 가격하락을 예상하고 있다. 이를 극복하고 국내업체가 세계시장에서 경쟁력을 확보하기 위해서는 수율의 극대화가 필수적이다. 따라서 본 연구개발에서는 정해진 환경에서 최대의 불량검출 능력을 발휘할 수 있도록 공정을 개선하기 위하여 Full Gate Visual 테스트에 필수적인 FGV 패턴발생 장치와 공정제어 장치를 개발하였다.