• Journal of Electrical Engineering and Technology
• /
• 제9권5호
• /
• pp.1520-1526
• /
• 2014

This paper presents a probabilistic method to evaluate the total transfer capability (TTC) by considering the sequential quadratic programming and the uncertainty of weather conditions. After the initial TTC is calculated by sequential quadratic programming (SQP), the transient stability is checked by time simulation. Also because power systems are exposed to a variety of weather conditions the outage probability is increased due to the weather condition. The probabilistic approach is necessary to evaluate the TTC, and the Monte Carlo Simulation (MCS) is used to accomplish the probabilistic calculation of TTC by considering the various weather conditions.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
• /
• pp.1404-1405
• /
• 2007

본 연구에서 우리는 ITO 전극을 사용하지 않은 새로운 전극구조를 가지는 PDP를 제안하였다. 제안한 경사형 대향전 극구조는 언덕형태의 유전체층 사이에 경사형 버스전극을 가진 PDP의 방전 특성을 연구하였는데 제안한 구조는 긴 방전 경로, 낮은 방전전류, 높은 휘도와 효율의 특징을 나타내었다. 기존의 면방전형 전극구조와 비교하였을 때 발광 효율은 1.8배 휘도는 약 45% 증가하였으며 방전전류는 약 38% 정도 감소하였다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
• /
• pp.1401-1403
• /
• 2007

플라즈마 디스플레이 패널(PDP)에서의 가장 큰 문제점 중의 하나는 낮은 발광 효율이다. 그리고 또 다른 문제점은 높은 가격에 있다. 최근 디스플레이 시장에서의 가격 경쟁이 격화 되면서 상판 유리로 ITO glass 를 사용하지 않고 버스 전극만 사용한 구조들의 연구가 진행되고 있다. ITO-less 전극 구조의 경우 ITO구조에 비하여 휘도가 낮다는 단점이 있지만 공정의 간소화로 인해 패널 가격을 낮추는데 큰 이점이 있다. 본 논문에서는 몇 가지 ITO-less 전극구조의 방전특성을 비교해보고 가능성을 제시하고자 한다.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 1998년도 추계학술대회 논문집 학회본부A
• /
• pp.282-285
• /
• 1998

This paper presents a method to evaluate the effect of voltage sag in distribution system using the component reliability data of utilities. The proposed method is based on Specified CBEMA curve which is the probability curve of the customers' effect by voltage sag. We carried out the experiment for the customers' sensitive equipments using the test facilities in KERI. The Monte Carlo method and the historical reliability data in KEPCO are used for simulations.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2011년도 제42회 하계학술대회
• /
• pp.426-427
• /
• 2011

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 2009년도 제40회 하계학술대회
• /
• pp.1104_1105
• /
• 2009

본 논문에서는 풍력발전기와 배터리를 이용한 독립형 발전 시스템을 설치 함에 있어 대상지역의 자료를 분석하고 시스템을 구성하고 RPM-sim을 이용하여 WT과 BB의 용량을 설계한 후 시뮬레이션한 결과를 분석하여 대상 지역에 맞는 모델링을 하였는지를 확인하였다.

• Journal of Korean Vacuum Science & Technology
• /
• 제3권2호
• /
• pp.145-145
• /
• 1999

• Journal of Electrical Engineering and Technology
• /
• 제11권5호
• /
• pp.1242-1252
• /
• 2016

• 한국초전도ㆍ저온공학회논문지
• /
• 제17권3호
• /
• pp.37-40
• /
• 2015

Recently, the electrical insulation design for electrical apparatuses is important to cope with the tendency of high voltage. The degradation characteristics of a superconducting coil due to an electrical breakdown should be considered to design a high voltage superconducting coil. In this paper, the degradation characteristics of 2G high temperature superconducting (HTS) wires are studied with respect to electrical breakdown tests. To analyze the dependency of the degradation characteristics of 2G HTS wires, the electrical breakdown tests are performed with AC(alternating current) and DC(direct current) voltage. All tests are performed by applying various magnitudes of AC and DC breakdown voltages. To verify the degradation characteristics of 2G HTS wires, the tests are performed with various 2G HTS wires with respect to stabilizer materials. The degradation characteristics of 2G HTS wires, such as Ic(critical current) and index number are measured by performing electrical breakdown tests. It is found that the characteristics such as Ic and index number can be degraded by an electrical breakdown. Moreover, it is concluded that the degradation characteristics of 2G HTS wires are affected by the stabilizer material and applied voltages. The cross-sectional view of 2G HTS wires is observed by using a scanning electron microscope (SEM). As results, it is found that the degradation characteristics of 2G HTS wires are concerned with hardness and electrical conductivity of stabilizer layers.

• 대한전기학회:학술대회논문집
• /
• 대한전기학회 1990년도 추계학술대회 논문집 학회본부
• /
• pp.132-135
• /
• 1990

This paper presents prediction of insulation lifetime in stress. Essentially, Epoxy resin, when it was subjected to different types of aging condition, produced to varieties of electrical properties and lifetime using spectroscopy and breakdown test. The relationships between the structural and electrical changes of aged epoxy were Investigated.