A Design of the Ontology-based Situation Recognition System to Detect Risk Factors in a Semiconductor Manufacturing Process (반도체 공정의 위험요소 판단을 위한 온톨로지 기반의 상황인지 시스템 설계)
-
- Journal of Advanced Navigation Technology
- /
- v.17 no.6
- /
- pp.804-809
- /
- 2013