The analysis of photonic band gaps and anomalous dispersion phenomena in photonic crystals requires understanding of band structures and dispersion surfaces. We show the results of the calculation of band structures and dispersion surfaces for a few two- dimensional lattices, using the finite-difference time-domain method with periodic boundary conditions. In addition, localized defect modes the exist within the band gap are computed by the same method.
Proceedings of the Korea Concrete Institute Conference
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2006.11a
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pp.241-244
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2006
It is essential to develop a large capacity, non-contact nondestructive inspection system having high reliability to investigate repaired and strengthened structures. Nowadays, an infrared camera is widely used in non-contact nondestructive inspection system. Because an infrared camera is sensitive to the surrounding environment, it is necessary to improve a sensitivity of thermal image information and a relationship between defects and thermal image information. In this papaer, presented is an optimum void detection chart for the optimum conditions to detect infrared rays from inside and outside defects like voids and cracks in concrete structures using extensive computer simulation. Sensitivity studies are performed with respect to variables influencing the temperature distribution such as heating temperature, heating time, and geometries of defect, etc. It may be stated that it could be successfully utilized for the non-contact nondestructive inspection system to detect defects in concrete structures.
Journal of the korean Society of Automotive Engineers
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v.12
no.2
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pp.29-42
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1990
Three dimensional frame structures with such nonlinearities as large displacements, medium rotations, plastic hinges and local defects are efficiently analyzed by introducing the nonlinear rotational spring. Formulations are based on the incremental updated Lagrangian descriptions and the virtual work principle, Axial displacement and twisted angle in beam elements are interpolated linearly, while bending displacements are approximated by the Hermite polynomials. The modified are length method is used as a solution method. The moment-angle of rotation relationship obtained analytically or experimentally can be easily incorporated into the solution procedure. Several examples tested show that the present method can be used efficiently in analyzing nonlinear frame structures with plastic hinges or local defect.
Block copolymers spontaneously assemble into various nanoscale structures such as spheres, cylinders, and lamellar structures according to the relative volumn ratio of each macromolecular block and their overall molecular weights. The self-assembled structures of block copolymer have been extensively investigated for the applications such as nanocomposites, photonic crystals, nanowires, magnetic-storage media, flash memory devices. However, the naturally formed nanostructures of block copolymers contain a high density of defects such that the practical applications for nanoscale devices have been limited. For the practical application of block copolymer nanostructures, a robust process to direct the assembly of block copolymers in thin film geometry is required to be established. To exploit self-assembly of block copolymer for the nanotechnology, it is indispensible to fabricate defect-free self-assembled nanostructure over an arbitrarily large area.
Proceedings of the Polymer Society of Korea Conference
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2006.10a
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pp.189-189
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2006
The self-assembly of supramolecular dendrimers allows the rapid construction of nanosized structures with regularly ordered features that depend on the shape of the molecules and the relative strength of the intra-and intermolecular interactions. Here we report on a dramatic improvement in the degree of control and selectivity in the orientation of fan-shaped supramolecular molecules over a large area, which has been achieved by confined geometries and applied fields. The order and orientation of supramolecular dendrimers can be controlled by surface anchoring in confined geometries. POM, SEM, TEM, AFM and XRD results show that the molecules form the complicated defect-ordering in the microchannels with different feature sizes. We show that these defect domains are strongly influenced by the boundary and feature size of the surfaces. This technique can be used to create a grain size in the plane of the film that is much larger than that which can be achieved using previously reported soft-material based pattering.
Proceedings of the Korean Institute of Building Construction Conference
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2008.11a
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pp.181-186
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2008
The purpose of this study is analyzing the frequent defect about each inspection part of Pre-qualification of residential building reconstruction and finding the cause of occurrence so that can supply a solution of the problem during the plalnning and constructure. The frequent defects are naturally following the deterioration and more occur in the structure body than a skin. The meaning that supply the cause and the managing method for preventing frequent defects about each inspection part is as follows. To prevent the defects, it is needed that the choice of the appropriate materials, giving a sufficient space for facilities, reliable constructure for the part of expecting the defects. The quality of life will go up due to making a good dwelling environment and extending the life cycle of structures from the inspection and managing the part of expecting defects.
$Pb(Zr_{0.525} Ti_{0.475})O_3$ piezoelectric ceramics both unmodified and doped with NiO were prepared by the conventional oxide techniques using sintering temperature from 900 to to 125$0^{\circ}C$. The difference in densification process between unmodified and NiO doped PZT ceramics was studied by shrinkage vs. firing temperatures and it was caused by increasing defect concentration in calcining process of NiO doped PZT ceramics. And nickel oxide solubility limit for $Pb(Zr_{0.525} Ti_{0.475})O_3$ ceramics is shown to be at the range from 0.2wt% to 0.5wt% from this defect model micro-structures dielectric and piezolectric properties of Nio doped PZT ceramics.
To confirm the theory and static defect energy (SDE) equations proposed in the first part, extensive numerical simulation studies are performed in this portion. Stiffness method is applied to calculate the components of the stresses and strains from which the energy components and finally, the SDE are obtained. Examples are designed to cover almost all kinds of possibilities. Variables include structural type, material, cross-section, support constraint, loading type, magnitude and position. The SDE diagram is unique in the way of presenting damage information: two different energy constants are separated by a sharp vertical drop right at the damage location. Simulation results are successfully implemented for both methods in all the cases.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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1999.07a
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pp.121-121
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1999
Gallium nitride (GaN) semiconductor is intensively under investigation for commercialization of short wavelength light emitting devices and laser diodes. One of serious obstacles to overcome is to reduce the defect density in GaN film grown by various techniques such as MOCVD, HVPE, etc. Many research groups including SAIT are trying to improve the defect density to 106-107/cm2 from the level of 108-1010/cm2. We have investigated epitaxial growth behaviour of GaN thin and thick films under hidride vapour phase epitaxy (HVPE) condition. In this report, we present the microstructural and crystallographical characteristics of the GaN films grown on sapphire (0001) substrate which were studied by both conventional and high-resolution transmission electron microscopy (TEM). Also we present some microscopic analysis results obtained from GaN films grown by ELO(dpitzsial lateral overgrowth)-HVPE and from GaN quantum well structures grown by MOCVD. Another serious problem in growing GaN thick film by HVPE is internal micro-cracks. We also comment the origin of the micro-crack.
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.57
no.7
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pp.1295-1297
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2008
Large-sized flat-panel displays are widely used for PC monitors and TV displays. In this paper, frequency domain pre-filter algorithms are presented for detection of defects in large-sized Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display(TFT-LCD) panel surfaces. Frequency analysis with 1-D, 2-D FFT methods for extract the periodic patterns of lattice structures in TFT-LCD is performed. To remove this patterns, frequency domain band-stop filters were used for eliminating specific frequency components. In order to acquire only defected images, 2-D inverse FFT methods to inverse transform of frequency domain images were used.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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