The Shift of Threshold Voltage and Subthreshold Current Curve in LDD MOSFET Degraded Under Different DC Stress-Biases (DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET에서 문턱 전압과 Subthreshold 전류곡선의 변화)
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- Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics
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- v.26 no.5
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- pp.46-51
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- 1989