Both Cu-Cr and Cu-Ti alloy films with different composition were prepared by dc magnetron sputtering onto polyimide substrate and their adhesion and microstructure were observed. In addition, the effect of heat treatment at $400^{\circ}C$ for 2 hours on the variation of adhesion properties and on the changess of microstructure were investigated. Cu-Cr alloy films have crystalline structure of either for or bcc phase depending on the composition of the film. However, the Cu-Ti alloy film forms fcc phase at low Ti concentration while it forms an amorphous phase as the Ti concentration in the films is increased to more than 25at.%. TEM analysis reveal that the microstructure of Cu-Cr and Cu-Ti films forms an open structure with vacant spaces. The adhesion between Cu-Cr, Cu-Ti alloy films and polyimide substrate is relatively good before the heat treatment, but is noticeably reduced after the heat treatment. In particular, the adhesion strength is significantly reduced in the Cu-Ti alloy films after the heat treatment. The reduction of adhesion strength after the heat treatment is identified to relate with the formation of oxide phases at the metal/polyimide interface by AES(Auger Electron Spectroscopy).
The effect of heat treatment on the adhesion between Cu-18wt% Cr film and polyimide has been studied by using T-peel test, AES, and XRD. Cu-18wt% Cr alloy and pure Cu films were sputter deposited onto pol-yimide. Cu was electroplated before and after heat treatment at $400^{\circ}C$ for 0.5 hr and 2 hrs respectively. The adhesion of metal film onto polyimide was considerably good before heat treatment, but heat treatment re-duced the peel adhesion strength in all specimens. The reduction in adhesion in adhesion strength values in the specimens which were plated after heat treatment was mainly due to Cr-O rich pahse formed in the metal/polyimide in-terface. In the specimens which were heat treated after plating, the enhanced ductility in the metal films con-tributes the peel adhesion strength by increasing the amount of deformation in metal strips.
Joh, Cheol-Ho;Kim, Young-Ho;Oh, Tae-Sung;Park, Ik-Sung;Yu, Jin
한국표면공학회지
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제29권5호
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pp.379-385
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1996
Adhesion of Cu/Cr and Cu/$Cu_xCr_{1-x}$ thin films onto polyimide substrates has been studied. For an adhesion layer, Cr or Cu-Cr alloy films were deposited onto polyimide using DC magnetron sputtering machine. Then Cu was sputter-deposited and finally, Cu was electroplated. Adhesion was evaluated using $90^{\circ}C$ peel test or T-peel test. Plastic deformation of the peeled metal layer was qualitatively measured using XRD technique. It is confirmed that high interfacial fracture energy and large plastic deformation are important to enhance the peel adhesion strength. High peel strength is obtained when the interface is strongly bonded. More ductile film has higher peel strength. In Cu-Cr alloy films, opposite effects of the Cr addition in the alloy film on the peel strength are operative: a beneficial effect of strong interfacial bonding and a negative effect of smaller plastic deformation.
The effects of microstructural change on the adhesion strength between Cu/Cr film and polyimide have been studied. Cr films (50 nm thick) and Cu films (500 or 1000 nm thick) were deposited on polyimide by DC magnetron sputtering. During Cu deposition the Ar pressure was 5 or 100 mtorr. The microstructure was observed by SEM and the adhesion was measured by T-peel test. Plastic deformation of peeled metal strips was characterized quantitatively by using XRD technique. The film in which Cu is deposited at 100 mtorr has higher adhesion strength than the film in which Cu is deposited at 5 mtorr. And in the film with same deposition pressure of 100 mtorr, the adhesion strength is increased as the deposited thickness increases from 500 to 1000 nm. The adhesion change of Cu/Cr can be interpreted as the difference in plastic deformation.
Koh, Seok-Keun;Choi, Won-Kook;Song, Seok-Kyun;Kook D. Pae;Jung, Hyung-Jin
한국진공학회지
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제3권3호
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pp.316-321
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1994
Rate of mixing of Cu particles to polyimide substrate at interfaces under different thermal treatments was analyzed by Rutherford Backscattering spectroscopy using 2.0 MeV He+ ions. T he mixing rate was a function of annealing temperature and time and was constant at afioxed temperature. The amount of mixing increased linearly with time and the mixing rate increased with temperature. The activation energy for interface mixing between Cu and polyimide was 2.6 kcal/mol. The X-ray studies showed the Cu(111) plane peak changed with annealing time at fixed temperature. The mixing of Cu to polyimide was explained with segmental motion of PI chain and with interaction between functional group of the chain and metal electron donor. The comparisons were made bewteen the mixing induced by ion irradiation and by thermal treatment. The various factors affecting the interface mixing are discussed.
Cu/Cr/polyimide 계에서 금속박막 두께와 폴리이미드 표면의 플라즈마 전처리 조건에 따른 필 테스트 결과로부터 Park와 Yu의 X-선 측정에 의한 방법과 Moidu등의 이론적 방법을 통애 Cr/polyimide 계면균열의 계면파괴에너지를 구했다. 두 방법으로 구한 박막의 소성일과 계면파괴어네지는 대부분의 경우에 대해 서로 잘 일치하였으며, 이와 같은 실험적 방법과 이론적 방법 모두 계면파괴에너지의 측정에 유용함을 알 수 있었다. 계면파괴에너지는 박막 두께에 거의 무관하였으며, 0.03, 0.036 그리고 0.05 W/$\textrm{cm}^2$의 rf플라즈마 밀도에 대해 각각 $46.8\pm$17.8, $170.3\pm$42.9 그리고 $253.9\pm$44.4 J/$\m^2$의 계면파괴에너지를 얻었다.
유기금속 화학기상증착기술에 의해 폴리이미드 기판과 질화티탄 기판 위에 구리박막을 형성하였다. 구리박막을 화학기상증착기술에 의해 형성하면 종래의 물리적증착기술에 비하여 증착속도가 빠르고 층덮힘 성질이 좋아 산업체의 제품생산 응용에서 많은 장점이 있다. 이 장점은 제품의 생산성과 신뢰성에 영향을 미친다. 기판의 온도와 구리전구체 증기압력 조건을 변화시키며 반복실험을 실시하였으며, 시편에 따라서는 전기적 성질 향상을 위하여 후속 열처리를 수행하였다. 형성된 구리박막의 미세구조는 전자현미경으로 관찰하였으며, 전기비저항은 4점 프로브를 이용하여 측정하였다. 질화티탄을 기판으로 사용한 경우 구리박막에서는 섭씨 180도의 기판온도에서 만들어진 시편에서 가장 좋은 전기적 성질이 측정되었다. 한편, 폴리이미드 기판을 사용한 경우, 기상과 액상의 혼합상태 전구체를 이용하여 250 nm/min의 매우 높은 증착속도를 얻을 수 있었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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