• 한국안광학회지
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• 제12권1호
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• pp.53-59
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• 2007

가장 일반적으로 사용되는 주시시차 측정 장치는 Wesson 주시시차 카드이다. 주시시차곡선은 추가한 프리즘량과 주시시차량에 대한 함수이며, 주시시차 곡선에서 진단과 처방에 사용되는 값은 x-절편, y-절편, 기울기, 곡선 타입이다. Wesson 주시시차 카드를 이용하여 102명을 대상으로 주시시차를 측정하였는데, 이 연구의 목적은 Wesson 주시시차카드를 이용한 주시시차 검사법에 의해 주시시차의 방향과 분포 등을 알아보고, 진단과 처방에 응용하는데 있다. Wesson 주시시차 카드를 이용한 주시시차 측정 결과 type I은 63.0%, type II는 0.0%, type III는 25.0% type IV는 12.0%를 얻었다.

• 한국전기전자재료학회논문지
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• 제19권9호
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• pp.825-831
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• 2006

As an increase of chip complexity and level of chip integration, chip input/output (I/O) pad pitches are also drastically reduced. With arrival of high complexity SoC (System on Chip) and SiP (System in Package) products, conventional horizontal type probe card showed its limitation on probing density for wafer level test. To enhance probing density, we proposed new vertical type probe card that has the $70{\mu}m$ probe needle with tungsten wire in $80{\mu}m$ micro-drilled hole in ceramic board. To minimize alignment error, micro-drilling conditions are optimized and epoxy-hardening conditions are also optimized to minimize planarity changes. To apply wafer level test for target devices (T5365 256M SDRAM), designed probe card was characterized by probe needle tension for test, contact resistance measurement, leakage current measurement and the planarity test. Compare to conventional probe card with minimum pitch of $50{\sim}125{\mu}m\;and\;2\;{\Omega}$ of average contact resistance, designed probe card showed only $22{\mu}$ of minimum pitch and $1.5{\Omega}$ of average contact resistance. And also, with the nature of vertical probing style, it showed comparably small contact scratch and it can be applied to bumping type chip test.

• 디지털융복합연구
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• 제15권12호
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• pp.555-561
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• 2017

카드 기반 사용자 인터페이스는 스마트 폰에 있어 가장 쉬운 탐색 방법 중 하나로 최근 많은 콘텐츠는 카드 형태로 노출 되고 있다. 본 논문에서는 카드의 정의와 함께 스마트 폰에서 사용되는 카드의 구성 요소에 대해 알아보았다. 카드는 다양한 이미지와 미디어를 포함한 멀티미디어의 재생이 가능하고 버튼이나 액션의 배치를 통해 세부 콘텐츠로의 진입로 역할을 한다. 카드 UI는 그 형태에 따라 기본형, 타임라인형, 워크플로우형, 대시보드형으로 구분할 수 있었으면 각 유형에 따라 다른 특색을 가지고 있었다. 기본형과 타임라인형은 정보의 위계나 순서가 필요한 경우에는 적합하지 않았으며 대용량 콘텐츠를 제공하는데 적합한 유영이었다. 워크플로우형은 콘텐츠의 양과는 크게 구분이 없었으며 수평적 콘텐츠 배열이 가능했으며 대시보드형은 다양한 데이터를 그래프나 숫자로 제공하는데 적합한 유형으로 분석되었다.

• 한국정보과학회논문지:컴퓨팅의 실제 및 레터
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• 제8권3호
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• pp.295-302
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• 2002

이 논문에서는 전자화폐 시스템 사용의 기술적인 문제점에 관한 몇가지 해결방안을 제안한다. 그 해결책은 온/오프 라인 겸용 전자화폐, 원카드, 주문형 시스템, 카드 대 카드 이체 시스템 등이다. 이 대안들이 엔젤플러스 전자화폐 사례에서 소스코드로 기술되었다. 전자화폐는 IC형과 네트워크형으로 분류 한다. 그러나 그들은 통합되어야 한다 최종사용자는 편리성을 위하여 겸용으로 사용되기를 원한다. 이 논문에서는 사례연구에 의하여 온/오프 라인 겸용 전자화폐를 개발한다. 이 논문을 바탕으로 미래연구에서는 소비자지향의 다양한 기능을 소유한 전자화폐 개발이 진행되어야 할 것이다.

• 정보학연구
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• 제4권2호
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• pp.155-174
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• 2001

전자상거래의 급속한 확산과 함께 주요 전자상거래 지급결제 수단인 전자화폐의 중요성이 증가하고 있다. 그러나 전자화폐의 상용화를 위한 다양한 실험이 진행되고 있으나 전자화폐의 이용은 증가하지 않고 있으며 그 주요 이유는 표준화의 미비로 인한 범용성의 미비라 할 수 있다. 특히 우리나라는 각기 다른 4개 기관의 개발을 서두르고 있어 표준화가 시급한 실정이며 법적 제도적 장치의 보완이 시급한 과제이다.

• 한국전자통신학회논문지
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• 제12권1호
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• pp.181-188
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• 2017

스마트폰 보급이 확대됨에 따라 지갑형 스마트폰 케이스에 신용 카드를 삽입하여 사용하는 사용자들이 늘고 있다. 본 논문은 스마트폰의 NFC(Near Field Communication) 기술을 이용하여 지갑형 스마트폰 케이스에서 신용 카드 분실 방지를 위한 안드로이드 앱을 개발하였다. 개발된 안드로이드 앱은 스마트폰의 NFC 읽기와 쓰기 기능을 이용한다. 지갑형 스마트폰 케이스에 신용 카드를 삽입하면 안드로이드 앱은 신용 카드의 NFC 태그를 감지하고 신용 카드 정보를 등록한다. 스마트폰 케이스에서 신용 카드가 이탈되면 안드로이드 앱은 자동으로 이를 감지하고 사용자에게 알린다. 사용자는 안드로이드 앱의 지도에서 분실된 신용 카드의 위치 정보를 확인할 수 있다. 안드로이드 프로그래밍에서 NFC 자동 이탈 기능이 추가되면 더욱 편리하게 기능을 구현할 수 있다.

• 전자공학회논문지 IE
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• 제43권1호
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• pp.46-51
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• 2006

최근 정보를 안전하게 관리하기 위한 방법으로 휴대가 용이하며 물리적, 전기적 그리고 소프트웨어적인 공격으로부터 안전한 스마트카드 시스템이 주목받고 있다. 자바카드는 스마트카드 플랫폼에 자바 기술을 접목시킨 것으로 객체지향 기법을 적용한 보안상 매우 우수한 장점을 지니고 있으며 특성이 다른 하드웨어에서 동일한 동작을 수행할 수 있는 개방형 운영체제를 가짐으로써 다양한 응용 프로그램을 수용할 수 있는 유연성을 가지고 있다. 본 논문에서는 지금까지 각각의 스마트카드 하드웨어에 맞추어져 수행되던 불편함을 자바의 플랫폼 독립적인 실행 특성을 도입함으로써, 통일된 개발 환경을 구축하고 있는 자바카드 기술을 이용하여 하나의 카드로 소유자 이외에도 다수의 관리자가 각기 다른 접근권한으로 접근통제가 가능한 회원카드를 설계하였다. 제안한 방법에서 사용자 인증은 일반적으로 사용되고 있는 PIN과 함께 서명데이터를 이용하여 PIN이 가지고 있는 본래의 보안취약점을 개선하여 보다 안전한 사용자 인증을 수행한다. 본 논문에서 제안한 방법은 사용자 인증, 파일 보안 등급의 차등적인 접근권한을 설계하고 구현함으로써 보다 안전하고 편리한 사용방법을 제공한다.

• Journal of Computing Science and Engineering
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• 제5권1호
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• pp.51-70
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• 2011

This paper introduces a new credit card payment scheme called No Number Credit Card that can significantly reduce the possibility of credit card fraud. The proposed payment system is loosely based on Kerberos, a cryptographic framework that has stood the test of time. In No Number Credit Card, instead of card numbers, only payment tokens are exchanged between the customers and merchants. The tokens are generated based on the payment amount, payment type, client information, and merchant information. However, it does not contain the credit card number, so the merchant or a database hacker cannot acquire and illegally use any credit card numbers. The No Number Credit Card system is ideal for online e-commerce transactions and can be used with any credit card that users possess. It can be used with minor modifications to the current card payment system. We provide the principles of its operation through scenario analysis, a sample implementation, and a security analysis

• 한국생산제조학회지
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• 제22권4호
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• pp.652-657
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• 2013

In this study, we developed a counting method for non-contact ID cards using an optical fiber displacement sensor instead of the traditionally used friction counting method. The proposed method has the advantage of high speed and automated measurement. For counting non-contact ID cards, an H-type optical fiber sensor, jig part, and counting program are developed separately to build the system and adjust it. Through the experimental test results, it was confirmed that counting is possible with one type of international ID card and one type of financial security card based on ISO7810. Furthermore, by applying the proposed method to 100 ID cards 100 times repeatedly, it was confirmed that it has high accuracy and an error ratio of 0%. We experimentally demonstrated that the proposed counting method for non-contact ID cards using an optical fiber displacement sensor can perform measurements with high accuracy and high speed.

• ETRI Journal
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• 제27권4호
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• pp.433-438
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• 2005

We present a new type of silicon micro-probe card using a three-dimensional probe beam of the cantilever type. It was fabricated using KOH and dry etching, a porous silicon micromachining technique, and an Au electroplating process. The cantilever-type probe beam had a thickness of $5 {\mu}m$, and a width of $50{\mu}$ and a length of $800 {\mu}m$. The probe beam for pad contact was formed by the thermal expansion coefficient difference between the films. The maximum height of the curled probe beam was $170 {\mu}m$, and an annealing process was performed for 20 min at $500^{\circ}C$. The contact resistance of the newly fabricated probe card was less than $2{\Omega}$, and its lifetime was more than 20,000 turns.