• 제목/요약/키워드: Aluminum etching

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알루미늄 전해 커패시터용 음극박의 에칭 피트 성장 (Etch Pit Growth on Aluminum of Cathode Film for Aluminum Electrolytic Capacitor)

  • 김홍일;최호길;김성한;김영삼;신진식;박수길
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2005년도 하계학술대회 논문집 Vol.6
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    • pp.407-408
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    • 2005
  • High surface area electrodes for aluminum electrolytic capacitors are produced by AC electrochemical processes. Optimization of crystallographic etch pit growth on aluminium during AC etching of cathode film for aluminium as electrolytic capacitor has been established. In this work, we present the observations of pit distributions by galvanostatic measurements. The effects of electrolyte concentration, current density, frequency, various pre-treatments and etching time have been studied. The specimen was pretreated in 0.5M NaOH and 1M HCl at $40\sim60^{\circ}C$, and transferred into a cell containing 1M HCl, then various mol $H_2SO_4$ etchant was added. Pit size distributions were determined with scanning electron microscopy (SEM).

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Dependence of cation ratio in Oxynitride Glasses on the plasma etching rate

  • Lee, Jung-Ki;Hwang, Seong-Jin;Lee, Sung-Min;Kim, Hyung-Sun
    • 한국재료학회:학술대회논문집
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    • 한국재료학회 2009년도 추계학술발표대회
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    • pp.44.2-44.2
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    • 2009
  • Polycrystalline materials suchas yttria and alumina have been applied as a plasma resisting material for the plasma processing chamber. However, polycrystal line material may easily generate particles and the particles are sources of contamination during the plasma enhanced process. Amorphous material can be suitable to prevent particle generation due to absence of grain-boundaries. We manufactured nitrogen-containing $SiO_2-Al_2O_3-Y_2O_3$ based glasses with various contents of silicon and fixed nitrogen content. The thermal properties, mechanical properties and plasma etching rate were evaluated and compared for the different composition samples. The plasma etching behavior was estimated using XPS with depth profiling. From the result, the plasma etching rate highly depends on the silicon content and it may results from very low volatile temperature of SiF4 generated during plasma etching. The silicon concentration at the plasma etched surface was very low besides the concentration of yttrium and aluminum was relatively high than that of silicon due to high volatile temperature of fluorine compounds which consisted with aluminum and yttrium. Therefore, we conclude that the samples having low silicon content should be considered to obtain low plasma etching rate for the plasma resisting material.

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리튬 이온전지용 알루미늄 박판의 블랭킹 공정에 관한 연구 (Blanking Process of Aluminum Thin Sheet for Lithium Ion Battery)

  • 김민기;김재홍;신현집;문지희;고대철
    • 소성∙가공
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    • 제30권4호
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    • pp.179-185
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    • 2021
  • Lithium ion batteries are generally manufactured by laser and etching using aluminum thin sheet. These processes are relatively expensive and have low productivity. In this study, blanking process of aluminum thin sheet for lithium ion battery was employed to replace laser cutting and etching process, all to reduce the production cost and improve productivity. Mechanical properties for aluminum and coating were determined by experimental results and rule of mixture for FE analysis of blanking process. Normalized Cockcroft-Latham criteria was also applied to describe shear behavior and critical damage values were determined by comparison of analytical and experimental result. We performed FE analysis to investigate the effects of clearance and punch-die radius on sheared surface of aluminum thin sheet and to determine optimal process condition. We manufactured the die set using the determined optimal process and conducted an experiment to confirm the feasibility of blanking process. The sheared surface of manufactured product was observed by optical microscope. As a results, the proposed process conditions successfully achieved the dimensional requirement in production of lithium ion battery parts.

표면 미세가공에서 Al 전극 및 Al 미세 구조물 제작을 위한 습식 식각 공정 (Wet Etch Process for the Fabrication of Al Electrodes and Al Microstructures in Surface Micromachining)

  • 김성운;백승준;이승기;조동일
    • 센서학회지
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    • 제9권3호
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    • pp.224-232
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    • 2000
  • 표면 미세가공 공정에서 Al 공정을 이용하면 Al 전극의 제작에 의해 접촉 저항이나 선 저항 등을 줄여 전기적인 신호 손실을 줄일 수 있고, 산화막을 희생층으로 사용하는 간단한 공정에 의해 Al 구조물 제작이 가능한 장점을 지닌다. 그러나 실제 공정에서는 Al 전극이나 Al 구조물이 희생층 제거 시에 사용되는 HF 용액에 의해서 부식되는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 사용되는 희생층 식각액인 BHF/glycerine 혼합 용액에 대한 PSG와 Al의 기본적인 식각 특성은 표면 미세가공에서 발생하는 구조적인 제한 조건에 따라 상당히 달라진다. 본 논문에서는 이러한 희생층의 구조적 특성과 Al 박막의 증착 표면 거칠기의 변화로 인한 식각 특성의 변화를 고려하여 실제로 표면 미세가공에 적용 가능한 혼합 용액의 조건을 조사하였다. 희생층 식각 조건변화에 따른 BHF/glycerine 혼합용액의 최적 혼합비는 $NH_4F$:HF:glycerine=2:1:2에서 가장 좋은 식각 선택비를 보이는 것으로 나타났으며 이 실험 결과를 실제 Al 전극 제작에 적용한 결과 Al 패턴이 희생층 식각액에 대해서 우수한 내식성을 보였다. 또한 Al의 식각액에 대한 내식성을 향상시키기 위하여 CMP 공정을 도입하여 증착 표면을 개선시켰으며 이를 Al 구조물의 제작에 적용하여 식각 특성을 분석하였다. 이러한 분석을 통해 본 논문에서 제시한 식각 조건을 이용하면 Al 전극과 Al 구조물을 표준적인 표면 미세가공 공정을 통하여 간단하게 제작할 수 있다.

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첨가제에 의한 알루미늄박의 에칭특성변화 (Effects of the Additives on Etching Characteristics of Aluminum Foil)

  • 김성갑;신동철;장재명;이종호;오한준;지충수
    • 한국재료학회지
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    • 제11권1호
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    • pp.48-54
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    • 2001
  • 고순도알루미늄 유전체의 내부표면적을 증가시키기 위하여 1M의 염산 에칭용액에 첨가제를 사용했을 때 나타나는 에칭특성의 변화를 조사하였다. 염산용액에 에틸렌글리콜이 첨가된 혼합용액에서 에칭을 실시했을 경우 알루미늄 기지 표면에 미세하고 균일한 에치피트가 형성되어 표면적 증가 효과가 크게 나타났으며, 또한 양극 산화 후 측정된 정전용량의 결과에서도 에틸렌 글리콜이 첨가된 에칭액에서 제조된 유전체는 표면적 증가에 의한 높은 정전용량 값을 나타냈다.

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Comparative Analysis of RFID Tag(UHF) using Aluminum Etching Technology

  • Cho, Sung-Jin;Kim, Nam-Young
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.31-31
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    • 2009
  • In this paper, RFID antenna is designed and realized for UHF (860 ~ 960 MHz) application. Aluminium is used for patterning on polythelene terephalate (PET) substrate using etching process. The thickness of the substrates is 50 ${\mu}m$ and for copper and aluminium, the thickness is typically 18 ${\mu}m$ or 35 ${\mu}m$ and 10 ${\mu}m$ respectively. As a result of simulation, maximum return loss is indicated 0.04 dB at 960 MHz and 0.08 dB at 900 MHz.

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산소 이온 빔에 의한 산화 알루미늄 박막의 식각 효과 및 정전 용량 특성에 관한 연구 (A Study on the Etching Effect and the Capacitance of Aluminum Oxide Thin Film by Oxygen Ion Beam)

  • 조의식;권상직
    • 한국진공학회지
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    • 제22권1호
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    • pp.26-30
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    • 2013
  • 고유전율 절연체의 한 종류인 산화알루미늄 박막을 전자빔 증착법으로 형성하는 과정에서 산소 이온 빔의 조사를 이용, 산소 이온 빔 보조 증착 효과를 기대하였다. 산소 이온 보조 증착법으로 형성된 산화 알루미늄 박막의 두께 측정 결과, 높은 에너지에서의 이온 빔에 의한 식각 효과를 확인할 수 있었으며, 산소 이온 보조 증착 결과보다 높은 커패시턴스 값도 관찰할 수 있었다.

Aluminum 합금소재의 알칼리에칭 공정으로 발생한 Smut 제거를 위한 무질산 혼합산용액 개발 (Development of Nitric Acid Free Desmut Solution for the Aluminum Alloy in Alkaline Etching and Acid Desmut Processes)

  • 추수태;최상교
    • 청정기술
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    • 제9권2호
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    • pp.57-61
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    • 2003
  • 금속가공 공정에서 알루미늄 합금소재의 알칼리 에칭 후 표면에 발생한 스머트(Smut) 를 제거하기 위해 무질산 디스머트(Nitric acid-free desmut) 용액을 개발하였다. 과산화수소(2%), 불산(0.5%) 및 황산(10%)을 혼합한 산용액이 NaOH 수용액에 처리한 A16061 및 A15052 규격의 알루미늄 합금 소재에 대한 스머트 제거효과가 5% 질산수용액의 사용할 경우와 유사하게 관찰되었다. 스머트 제거를 위한 혼합 산용액 처리 전 후 소재 표면을 SEM-EPMA 분석을 통해 확인하였다.

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염소 플라즈마를 이용한 알루미늄 식각 공정이 저유전상수 층간절연막 polyimide에 미치는 영향 (Effect of the Cl-based Plasma for Al Etching on the Interlayer Low Dielectric Polyimide)

  • 문호성;김상훈;이홍구;우상균;김경석;안진호
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제6권1호
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    • pp.75-79
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    • 1999
  • 차세대 저유전상수 층간 절연막중 하나로 대두되고 있는 polyimide를 플라즈마에 노출시키고 이때 나타나는 전기적 특성변화를 살펴보았다. polyimide를 알루미늄 식각시 사용되고 있는 Cl-based 플라즈마에 노출시켰을때 유전상수가 약간 증가함을 볼 수 있었고, F-based 플라즈마로 $SF_{6}$ 플라즈마에 노출시켰을 때는 유전상수 감소를 볼 수 있었다. 이는 fluorine또는 chlorine bond의 생성과 관련된 것으로 FTIR과 XPS분석을 통해 확인할 수 있었다. 따라서 Cl-based 플라즈마로 알루미늄 식각 후 $SF_{6}$플라즈마에 노출시킴으로써 이 부식문제의 해결뿐만 아니라 po1yimide의 유전상수도 낮출 수 있으리라 기대된다.

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