• The Monthly Technology and Standards
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• s.101
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• pp.28-29
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• 2010

소비자 제품에서 카드뮴 사용을 금지하는 법안을 미국 전역의 연방과 주정부 차원에서 마련하고 있다. 소비자제품안전위원회(CPSC)는 향후 카드뮴 금지 법안의 실시와 더불어 발암물질 리스트인 '제안 65호'를 통해 카드뮴에 대한 위험성을 지속적으로 경고할 방침이다. 표준제정기관인 미국재료시험학회(ASTM)도 어린이 장신구에 카드뮴을 포함한 기타 중금속 사용지침을 개발 중에 있다.

• Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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• 2003.11a
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• pp.78-78
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• 2003

레이져 플래시법은 고온에서 열물성을 측정하는 수단으로 가장 많이 사용되고 있는 방법으로 알려져 있다. 각종재료의 열전도도를 측정하는 방법들이 많으나 열평형 유지, 고온, 측정시간등의 제약으로 열확산도측정이 간편하고 고온까지 가능하므로 이에 대한 측정법이 일반화되어 있다. 레이져 플레시법은 열확산도를 1초이내 측정가능하고 200$0^{\circ}C$까지 장치구현이 가능하므로 가장 많이 이용되고 있다. 그러나 장치의 검증을 위한 열확산도 표준물질이 필요로 하나 현재 열전도도 기준물질을 이용하여 검증하고 있으나 향후 열확산도 기준물질의 개발이 현재 시급하다. 현재까지 그라파이트를 중심으로한 고열전도도 연구가 진행되고 있으며, 현재 국제기관에 의해 인증된 기준물질이 부족한 실정이다. 본 연구에서는 기준물질로서 가능성을 탐색하고자 이용이 가장 많은 금속을 택하였다. 현재 텅스텐 및 몰리브덴이 고온까지 안정적이므로 두가지 재료를 택하여 실험을 수행하였다. 먼저 상온~1000K온도영역에서 열확산도 측정연구를 수행하였다. 측정된 데이터 값은 TPRC값과 비교하여 10%이내의 오차를 보였으며 고온에서 높은 안정성을 나타냄을 확인할 수 있었다. 아울러 계측시스템의 자동화 및 개량화를 통하여 실험과정에서 발생할 수 있는 오차를 줄였다. 열확산도 해석은 대수법(logarithmic법)과 Parker법을 이용하여 분석하였으며, 레이져에너지 및 시료크기에 따른 영향을 고려하여 여러가지 크기의 시편을 가지고 실험하였다.

• Economic and Environmental Geology
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• v.49 no.2
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• pp.89-95
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• 2016

Mo isotope, one of highly redox-sensitive isotopes, has been shown to be useful tracers of geochemical processes. Many studies for Mo isotope have documented with the help of recently developed analysis tools, but it has not yet been documented in the Korea. In this study, we introduce two-stage column separation method of Mo using column tube (BioRad PolyPrep(R) column, 10 ml) and anion exchange resin (BioRad Resin AG(R) 1-X8, 200-400 mesh). Mo isotope ratios in the solid SRMs (BHVO-2, SDO-1, PACS-2) and liquid SRM (IAPSO) were measured on MC-ICP-MS (Multi-collector Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) and then compared with reference Mo isotope ratios. Mo isotope ratios in our study overlap with reference Mo isotope ratios within analytical error.

• Analytical Science and Technology
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• v.19 no.4
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• pp.352-364
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• 2006

This study was performed to search for useful separation properties and elution orders of three GC columns (DB-1, DB-5MS, SPB-Octyl) for 209 PCBs congeners using M-1668A-0.01X-SET of the AccuStandard Inc.. In addition, to confirm the quantitative peak in peak pattern method, the IUPAC Nos. of PCBs congener peaks were identified with 4 Aroclor standards (Aroclor-1242, 1248, 1254 and 1260). The separation property of dioxin-like PCBs congeners by four columns (DB-1, DB-5MS, SP-2331 and SPB-Octyl) was excellent in SP-2331. DB-1 and SPB-Octyl columns are necessary to use with a column of other types.

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.8 no.3B
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• pp.276-282
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• 1999

For the quantitative surface analysis of multicomponent materials, algorithms for the compensation of the matrix effect and surface compositional change by ion beam sputtering must be established and reference materials having certified compositions are necessary. These certified reference material (CRM)s are needed for the improvement of instrument performance, inter-laboratory comparison and quantitative surface analysis. Surface analysis group of KRISS developed alloy thin film CRMs by and ion beam sputter deposition system and in-situ surface analysis system to control the composition of alloy thin films The real compositions of the CRMs were certified by inductively coupled plasma-atomic emission spectroscopy (ICP-AES).

• Journal of the Korean Vacuum Society
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• v.8 no.3B
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• pp.283-289
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• 1999

Multilayer thin film reference materials for the sputter depth profiling analysis are used to calibrate the sputter depth scale by measuring the sputtering rate and to optimize the sputtering conditions for the best depth resolution. Surface analysis group of Korea Research Institute of Standards and science (KRISS) have developed various types of multilayer thin films by using an ion beam sputter deposition and in-situ surface analysis system. The chemical states of the thin films reference materials were certified by in-situ XPS and the thicknesses were certified by transmission electron microscopy (TEM).

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.11a
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• pp.37-37
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• 2002

반도체 소자의 집적도는 지난 수십년간 끊임없이 증가해 왔다. 이러한 추세가 계속 된다면 앞으로 수년 이내에 100 nm 이하의 선폭을 갖는 집적회로가 출현하게 될 것이다. 수-수십나노 미터 크기의 구조가 이와같이 제품에 실제로 응용되려면 수 나노미터의 길이에 대한 표준 측정 기술이 확보되어야 하고 이 측정 기술을 서로 비교 평가 할 수 있는 표준 물질이 필요하다. 본 연구에서는 표준 물질로 사용될 수 있는 1차원 나노 구조를 제작하였다. 제작된 1차원 나노 구조는 선폭이 90 nm인 네모난 산과 네모난 우물들이 반복적으로 나타나는 형태를 갖는다. 나노 구조가 제작된 총영역은 0.1 ㎜ × 0.1 ㎜의 정사각형 영역이다. 1차원 나노 구조는 전자빔 석판 기술을 이용하여 제작하였다. 균일한 구조를 만들기 위해 전자 빔의 도즈량 최적화, 전자 빔의 비대칭성의 영향 최소화, 에칭 공정 변수 최적화 등 공정 조건을 선별하는 연구를 하였다. 본 연구에서 제작된 1차원 나노구조는 전자현미경의 배율 보정, Scanning Probe Microscope의 이미지 보정 등에 사용될 수 있을 것이다.

• Korean Journal of Soil Science and Fertilizer
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• v.42 no.5
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• pp.399-407
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• 2009

Laser induced breakdown spectroscopy(LIBS) is an simple analysis method for directly quantifying many kinds of soil micro-elements on site using a small size of laser without pre-treatment at any property of materials(solid, liquid and gas). The purpose of this study were to find an optimum condition of the LIBS measurement including wavelengths for quantifying soil elements, to relate spectral properties to the concentration of soil elements using LIBS as a simultaneous un-breakdown quantitative analysis technology, which can be applied for the safety assessment of agricultural products and precision agriculture, and to compare the results with a standardized chemical analysis method. Soil samples classified as fine-silty, mixed, thermic Typic Hapludalf(Memphis series) from grassland and uplands in Tennessee, USA were collected, crushed, and prepared for further analysis or LIBS measurement. The samples were measured using LIBS ranged from 200 to 600 nm(0.03 nm interval) with a Nd:YAG laser at 532 nm, with a beam energy of 25 mJ per pulse, a pulse width of 5 ns, and a repetition rate of 10 Hz. The optimum wavelength(${\lambda}nm$) of LIBS for estimating soil and plant elements were 308.2 nm for Al, 428.3 nm for Ca, 247.8 nm for T-C, 438.3 nm for Fe, 766.5 nm for K, 85.2 nm for Mg, 330.2 nm for Na, 213.6 nm for P, 180.7 nm for S, 288.2 nm for Si, and 351.9 nm for Ti, respectively. Coefficients of determination($r^2$) of calibration curve using standard reference soil samples for each element from LIBS measurement were ranged from 0.863 to 0.977. In comparison with ICP-AES(Inductively coupled plasma atomic emission spectroscopy) measurement, measurement error in terms of relative standard error were calculated. Silicon dioxide(SiO2) concentration estimated from two methods showed good agreement with -3.5% of relative standard error. The relative standard errors for the other elements were high. It implies that the prediction accuracy is low which might be caused by matrix effect such as particle size and constituent of soils. It is necessary to enhance the measurement and prediction accuracy of LIBS by improving pretreatment process, standard reference soil samples, and measurement method for a reliable quantification method.

• Proceedings of the Korean Radioactive Waste Society Conference
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• 2009.11a
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• pp.378-379
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• 2009

• Proceedings of the Korean Radioactive Waste Society Conference
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• 2008.05a
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• pp.250-251
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• 2008