• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2000.08a
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• pp.148-149
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• 2000

파장분할다중(WDM) 광통신시스템에서 광원의 파장을 정확하게 측정하는 것은 매우 중요하다. 지금까지 광파장측정기는 격자나 Fabry-Perot 에탈론을 사용한 광대역 필터(optical bandpass filter) 및 파장에 따라 삽입손실이 다른 파장판별기(wavelength discriminator)등으로 구현되었지만 빛의 간섭 현상을 이용한 마이켈슨 간섭계가 가장 많이 사용되었다. 특히 푸리에 변환 마이켈슨 간섭계 파장측정기$^{(1)}$ 는 동시에 각각 다른 파장의 광원들이 입사되더라도 각각의 파장을 측정할 수 있는 장점이 있다. 즉 마이켈슨 간섭계에서 주기적인 간섭무늬에 의한 광검출기의 출력은 입력된 광파장에 따라 다른 주기를 가진다. 따라서 서로 다른 파장을 가진 빛이 입사했을 때 검출되는 각각의 광전력의 합을 표본화(sampling)한 뒤 FFT를 거치면 광파장과 광검출기로 수신한 신호의 중심 주파수의 관계를 알 수 있으므로, 서로 다른 파장을 가진 빛이 입사하더라도 각각의 파장을 측정할 수 있는 것이다. 본 논문에서는 푸리에 변환을 이용하되 마이켈슨 간섭계 대신 마하젠더 간섭계형 광변조기를 이용하여 광파장을 측정에 관한 실험적 구현과 개선 방안에 대해 제시한다. (중략)

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.15 no.1
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• pp.56-62
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• 2004

We present a diffraction grating interferometer of large equivalent wavelength specially designed for flatness testing of rough surfaces. Two transmission diffraction gratings are illuminated on the object under test by use of two measurement beams with different angles of incidence, which yields a large equivalent wavelength. This interferometer design minimizes unnecessary diffraction rays and the systematic error caused by the diffraction gratings, and provides a large working distance and easy alignment. To improve the measurement accuracy, phase shifting technique is applied and the equivalent wavelength error caused by defocus is calibrated. Test results obtained from mirror surfaces and machined rough surfaces are discussed.

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2003.02a
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• pp.80-81
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• 2003

DWDM 필터와 같은 간섭필터는 밴드폭이 좁아지고 투과파장에 해당하는 채널의 수가 증가함에 따라 투과파장의 외부환경에 대한 안정성이 중요하다. 기존의 전자빔 증착법으로 증착된 유전체 다층박막은 일반적으로 미세기둥구조로 인해 낮은 조밀도를 가지기 때문에 외부의 습도나 온도 변화 등에 민감하다. 낮은 조밀도의 유전체 다층박막을 대기 중에 노출되었을 때, 대기 중의 습기가 기둥과 기둥 사이로 침투되어 유효굴절률의 증가로 인하여 박막의 광학두께가 증가하게 되고 결국 스펙트럼이 장파장으로 이동하게 된다. (중략)

• Optical Science and Technology
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• v.11 no.3_4
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• pp.5-11
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• 2007

제1형의 SPDC에서 발생한 광자쌍의 얽힘특성과 연관된 간섭실험들을 소개하였다. 양자역학적으로 두-광자 간섭현상은 간섭계에서 동시계수가 가능한 경로에 대한 확률진폭들의 결맞음으로부터 일어나며, 이는 측정과정에서의 경로에 대한 구별 불가능성과 연관된다. HOM 간섭계에서는 BS에 도달하는 두 광자의 시간차가 없을 때, BS의 출구에서 광자들이 쌍을 이루는 시간적인 두-광자 간섭효과를 관측하였다. SPDC에서 발생하는 넓은 파장영역의 광자들 중에서 서로 다른 두 파장의 광자쌍을 선택하는 경우에도 동시계수측정에서 두 광자의 경로를 구별할 수 없는 경우에는 두 광자의 진동수 차이에 해당하는 주기로 동시계수가 변하는 간섭효과를 관측할 수 있다. 또한 HOM 간섭계에서 BS에 입사하는 두 광의 각도를 변화시키면 광자쌍의 공간적인 4차 간섭현상을 관측할 수 있다

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.18 no.2
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• pp.105-110
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• 2007

A tunable band-pass filter of fiber Bragg gratings incorporating the Sagnac loop interferometer configuration is presented. The proposed band-pass filter with extinction ratio 20 dB has practical advantages in terms of price and performance in comparison with the conventional band-pass filter using a circulator.

• The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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• v.30 no.5A
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• pp.376-381
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• 2005

In this paper, we propose a new wavelength locking structure which uses the Michelson interferometer equipped with a movable arm. The proposed one consists of LD driver, Michelson interferometer, automatic temperature controller, automatic power controller, and signal processor. This structure can provide the wavelength locking capability of a resolution below 0.0005nm(=62.4MHz) and cope easily with an external environment variation using movable arm of Michelson interferometer to give a good stability.

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2000.02a
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• pp.178-179
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• 2000

표면 형상측정은 산업계에서 요구되는 고부가가치 기계부품들의 표면 정보의 확보와 향상에 반드시 필요하다. 이는 정밀부품의 정상적인 기능 수행에 대한 판별과 예측에 중요한 위치를 차지한다. 광원파장의 1/4 이상의 단차를 측정할 수 없는 기존의 간섭계는 이러한 큰 단차와 거친 표면을 가지고 있는 기계가공된 표면들을 측정하는데 어려움이 있다. (중략)

• Korean Journal of Optics and Photonics
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• v.11 no.5
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• pp.317-322
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• 2000

We present a compensation method of the phase change upon reflection in the scannll1g whIte light interferometry. which pracl1cally allows precIse 3-D profIle mappmg for compo~Ite target surfaces comprising of multipledissinular matenals. The compensation method estimates the vanatlon 01 pbase change with the spectral distribution of the light source through first-order approximation, and then diIectly compensates the measurement errors by perIormmg two-wavelength white light intetferomctric measurements. Experimental results prove that the proposed self-compensatIOn mcthod is capable of reducing the measmement error in step height gauging within $\pm2nm$..

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 1998.08a
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• pp.166-167
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• 1998

• Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
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• 2009.10a
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• pp.363-364
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• 2009

본 논문에서는 Z-cut Congruent $LiNbO_3$ 패브리-페롯 에탈론에서 다중빔간섭에 의한 간섭무늬의 위상변화 분석을 이용한 넓은 파장영역에서의 전기광학계수 ${r^T}_{13}$ 측정방법을 소개한다. 광통신파장 영역의 넓은 파장대역을 갖는 SLD를 광원으로 사용하여 전기광학계수의 분산을 측정하였으며 마하젠더 간섭계 구조에서 벌크형태의 샘플로 측정한 결과 값과 비교하였다.