• 제목/요약/키워드: 측정 프로브

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OMM 시스템의 측정오차 원인분석 및 대책 (The Error Source Analysis of Measuring Data of OMM System)

  • 이상준;김선호;김옥현
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 1997년도 춘계학술대회 논문집
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    • pp.73-77
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    • 1997
  • This paper describes the analysis of measuring error of on the machine measuring(OMM) system which can directly measure the three dimensional machined free surface dimension using scanning probe on milling machine. 21 inch TV shadow mask mould was measured using PTP(point to point)measurement algorithm at pallet clamped and unclamped state on OMM system, and using coordinate measuring machine(CMM) one after another. The OMM system was evaluated probe error, stylus contact error, center shift error, repeatability and so on. Consequencely, the conclusion derived that elastic displacement of pallet had effect on measuring error mainly, and pallet design and setup method would be important.

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자동 측정이 가능한 전용 캠 프로파일 측정 시스템 개발 (Development of Automatic Cam Profile Measurement System)

  • 정황영;이현석;박태민;신우철;고준빈;홍준희
    • 한국공작기계학회논문집
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    • 제17권1호
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    • pp.106-112
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    • 2008
  • In this paper, It does the profile measurement of the cam of diesel engine SOHC of the actual object. It uses the measurement of run-out method. This method is that the surface of the object is measured by the sensor when the object rotate, and calculated and displayed by the computer the signal which acquired by sensor. When we acquire the signals, we have two error because of motion and contacting between cam and probe. In this paper, we compensate the motion error while simply liner equation. And we have a solution that we change the figure of probe when we have a contacting error. We compared the data measuring on developed automatic cam profile measuring system with the data measured on CMM.

이중주파수 부유형 탐침법을 이용한 플라즈마 진단 연구

  • 박일서;방진영;김영철;김유신;김동환;정진욱
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2012년도 제42회 동계 정기 학술대회 초록집
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    • pp.525-525
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    • 2012
  • 플라즈마 밀도와 전자온도는 반도체 및 디스플레이 공정결과에 결정적인 역할을 하므로 그에 대한 진단법 연구는 필수적이다. 하지만 대부분의 연구는 공정플라즈마와 같이 프로브 팁이 증착된 환경에서는 진단이 힘든 실정이다. 이러한 한계를 극복하기 위해서 부유전위 근처에서 고조파 진단법(floating harmonic method)에 대한 연구가 제시되었다[1]. 저밀도 플라즈마에서는 제 2 고조파의 측정이 어렵기 때문에 전자온도를 정확히 측정하기 힘들 수가 있다. 따라서 이에 대안으로 본 논문에서는 부유 고조파 진단법을 기반으로 하여 진폭과 주파수를 다르게 한 두개의 소신호 정현파 전압신호를 동시에 인가하여 플라즈마 변수를 진단하는 방법을 개발하였다. 본 방법을 이용하여 유도결합 아르곤 플라즈마에서 RF전력과 압력변화에 따라 플라즈마 변수진단을 진행하였고, 기존의 고조파 진단법의 결과와 일치하는 경향을 보이는 것을 확인하였다. 이 방법은 측정된 전류의 고조파 성분을 이용하지 않고 기본주파수를 가지는 전류의 크기 비율을 사용하여 전자온도 값을 구하기 때문에 저밀도 플라즈마에서 정밀한 진단이 가능할 것으로 예상된다.

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3D 기반의 기상측정 운영시스템 개발 (The Development of 3D based On-Machine Measurement Operating System)

  • 윤길상;최진화;조명우;김찬우
    • 한국정밀공학회지
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    • 제21권7호
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    • pp.145-152
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    • 2004
  • This paper proposed efficient manufacturing system using the OMM (on-machine measurement) system. The OMM system is software based 3D modeler for inspection on machine and it is interfaced tool machine with RS232C. The software is composed of two inspection modules that one is touch probe operating module and the other is laser displacement sensor operating module. The module for touch probe has need of inspection feature that extracted it from CAD data. Touch probe moves to workpiece by three operating modes as follows: manual, general and automatic mode. The operating module of laser displacement sensor is used inspection for profile and very small hole. An Advantage of this inspection method is to be able to execute on-line inspection during machining or after it. The efficiency of proposed system which can predict and definite the machining errors of each process is verified, so the developed system is applied to inspect the mold-base(cavity, core).

CCP에서의 마이크로 아킹 Fast-imging을 통한 마이크로 아킹 방전 메커니즘 조사

  • 김용훈;장홍영
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2012년도 제43회 하계 정기 학술대회 초록집
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    • pp.276-277
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    • 2012
  • 플라즈마 아킹은 PECVD, 플라즈마 식각 그리고 토카막과 같은 플라즈마를 이용하는 여러 공정과 연구 분야에서 문제가 되어왔다. 하지만, 문제의 중요성과 다르게 아킹에 대한 본질적인 연구는 아직 미비한 상태이다. 플라즈마 아킹은 집단전자방출(collective electron emission)에 의한 스파크 방전(spark discharge) 현상이다. 집단전자방출은 전계방출(field emission)이나 플라즈마와 쉬스를 두고 인접한 표면위에서의 유전분극(dielec emission)에 의해 발생한다. 우리는 CCP 플라즈마를 이용해 micro-arcing(MA)을 일으키고 랑뮈르 프로브를 이용해 MA 동안의 플로팅 포텐셜의 변화를 측정한다. MA시 PM-tube를 이용해 광량의 변화를 측정하고 플로팅 포텐셜을 fast-imaging과 동기화 시켜 MA 발생 메커니즘을 유추한다. 우리는 $30{\times}20$ cm 크기의 사각 전극을 위 아래로 가진 챔버에서 Ar 가스를 RF (13.56 MHz) 파워를 이용해 방전시켰다. 방전 전압과 전류는 파워 전극 앞단에서 High voltage probe (Tektronix P6015A)와 Current probe (TCPA300 + TCP312)를 이용해 측정했다. 플라즈마 아킹시 변하는 플라즈마 플로팅 포텐셜은 챔버 중앙에 위치한 랑뮈프 프로브에 의해 측정되고 챔버 옆의 뷰포트 앞에 위치한 PM-tube를 이용해 아킹시 변하는 광량을 측정하고 Intensified CCD를 이용해 fast-imaging을 한다. 또한 CCD 앞에 band pass filter를 부착하여 MA의 발생 메커니즘을 유추한다. RF 방전에서의 플라즈마 아킹은 아킹시 플로팅 포텐셜의 변화에 의해 크게 세부분으로 나눌 수 있다. 아킹 발생과 동시에 급격히 감소하는 감소부분(약 2 us) 그리고 감소한 포텐셜이 유지되는 유지부분(약 0~10 ms) 그리고 감소했던 포텐셜이 서서히 원래 상태로 회복되는 회복부분(약 100 us)이다. 아킹 초기시 방출된 집단 전자들은 쉬스를 단락시키게 되고 이로 인해 플로팅 포텐셜은 급격히 감소하게 된다. 이렇게 감소한 플로팅 포텐셜은 아킹 스트리머가 유지되는 한 계속 감소한 상태를 유지하게 된다. 그리고 플라즈마를 섭동했던 집단전자방출이 중단되면 플라즈마는 섭동전의 원래 상태로 회복된다. 플라즈마 아킹 발생시 생성되는 순간적으로 많은 전자들을 국소적으로 생성하게 되고 이 전자들에 의해 광량이 순간적으로 증가하게 된다. PM-tube (750.4 nm)에 의해 측정된 아킹시 광량은 정상방전 상태의 두배 가량이 된다. 그리고 이 순간적으로 증가된 광량은 시간이 지남에 따라 감소하게 되고 정상방전 일때의 광량이 된다. 광량이 증가한 후 정상방전상태의 광량에 이르는 부분은 플로팅 포텐셜이 감소한 상태에서 유지되는 부분과 일치하고 이는 플로팅 포텐셜의 유지부분동안 집단전자방출이 있다는 간접적인 증거가 된다. 그리고 정상 방전 상태 일때의 광량이 되면 집단전자방출이 중단되었다는 것이므로 그 시점부터 플로팅 포텐셜은 정산 방전상태 일때의 포텐셜로 복구되기 시작한다. 이처럼 PM-tube를 이용한 아킹 광량 측정은 아킹 스트리머를 간접적으로 측정하게 하고 집단전자방출을 이용해 아킹 시의 플로팅 포텐셜의 변화를 설명하게 해 준다.

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입구 Instrumentation의 영향을 최소화하는 터보기계 성능측정방법 (Turbomachinery Inlet Flow Measurement without the Effect of Instrumentation)

  • 강정식;안이기
    • 항공우주기술
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    • 제8권2호
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    • pp.8-12
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    • 2009
  • 터빈 또는 압축기와 같은 터보기계의 성능을 평가하기 위해서는 입구의 유동을 측정해야 한다. 입구의 평균된 유동을 측정하기 위해서는 일반적으로 여러 개의 엘리먼트를 가진 레이크를 여러 개 사용해서 원주방향과 반경방향으로 평균된 유동을 사용한다. 그런데 터빈 입구에서 레이크를 사용하여 터빈 입구의 유동을 측정하면 레이크에서 유동을 측정한 후 레이크 자체가 손실을 일으키므로 터빈 입구에서의 전압력에 차이가 있을 뿐 아니라 교란된 유동이 터빈의 성능에 기대하지 않은 영향을 미치는 문제점이 있다. 그러므로 터빈 입구에 고정적으로 설치한 레이크로 측정한 데이터로는 정확한 터빈의 성능을 평가하는데 오차를 일으킨다. 본 연구에서는 이런 문제점을 해결하기 위하여 터보기계의 시험시 레이크와 레이크 후단에서 프로브를 이용한 상세 유동 측정을 통하여 레이크의 손실을 측정하는 방법을 제안하였다. 그리고 이 방법을 사용하여 시험을 수행한 결과를 제시하였다.

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광섬유센서에 의한 간이 비접촉 표면조도 측정기의 개발 (Development of the Handy Non-contact Surface Roughness Measurement Device by using the Optical Fiber Sensor)

  • 홍준희
    • 대한공업교육학회지
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    • 제34권2호
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    • pp.346-362
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    • 2009
  • 본 연구는 광섬유센서를 이용하여 표면조도의 간이 비접촉 측정기를 개발하는데 목적이 있다. 광섬유 센서의 장점은 우수한 고속 응답성, 자기의 무영향, 제작의 편이성이다. 광섬유센서 표면조도 측정 원리는 측정물의 표면조도에 따라 반사되는 광의 세기와 기지의 표면조도 값을 일대일 대응시키는 것이다. 반사광의 세기는 센서 프로브로부터 표면까지의 거리와 표면조도에 따른 반사한계각에 따라 결정되는데 본 연구에서는 표면까지의 거리를 일정하게 하여 표면조도에 따른 반사한계각만을 가지고 표면조도가 결정되도록 측정 프로브를 제작하였다. 측정 시스템은 발광부, 수광부과 신호처리부로 구성되었다. 이 실험에서 사용된 표준 측정 재료는 SM45C, STS303과 Al60이었다. 연구결과 첫째, 재료에 따른 표면조도와 센서출력의 상관관계로부터 근사표면조도식을 도출하고 임의 가공된 시료의 표면조도 측정을 통해 근사표면조도식이 유효함을 입증하였다. 둘째, 실제 제작한 간이 광섬유센서 표면조도 측정기가 유용함을 입증하였다.

GPS용 광대역 마이크로스트립 패치안테나 설계 (Design of Broadband Microstrip patch Antenna for the GPS)

  • 신경환;이용창;손태호
    • 한국ITS학회 논문지
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    • 제17권5호
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    • pp.128-134
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    • 2018
  • 본 논문에서는 GPS용 마이크로스트립 패치안테나의 대역특성을 넓히기 위하여 $90^{\circ}$ 하이브리드를 적용한 2포트 급전을 제안한다. 패치는 정사각형 패치이며, 급전은 프로브 급전한다. $90^{\circ}$하이브리드 칩 소자 회로를 설계하고, $90^{\circ}$위상차가 나는 출력 포트를 패치안테나에 각각 공급한다. 설계된 패치와 $90^{\circ}$하이브리드 회로를 FR4 기판에 구현하고 이들을 결합한다. 구현된 안테나에 대한 정재파비 측정결과, 2:1 기준으로 29% BW (1,230~1,700 MHz)을 얻었으며, 축비 밴드폭은 3dB 기준 15.87% BW (1,400~1,650 MHz)의 광대역 특성을 얻었다. 이득은 중심 주파수에서 2.75dBi으로 측정되었다.

GPS용 마이크로스트립 패치안테나의 광대역화 (Bandwidth Broadening for the GPS Microstrip Patch Antenna)

  • 손태호
    • 한국ITS학회 논문지
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    • 제14권4호
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    • pp.73-79
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    • 2015
  • 윌킨슨 전력분배기 및 90도 하이브리드 회로를 각각 GPS용 마이크로스트립 패치안테나에 적용하여 넓혀진 대역특성을 비교한다. 패치는 정사각형 패치로 설계하고, 회로를 적용하기 위하여 패치안테나에 2포트 프로브 급전한다. 윌킨슨 전력분배기와 90도 하이브리드 회로를 설계하고 90도 위상차가 나는 출력 포트를 패치안테나에 공급한다. 설계된 패치와 2가지 회로를 FR4 기판에 구현하고 이들을 각각 결합한다. 구현된 안테나에 대한 정재파비 측정결과 2: 1 기준으로 윌킨슨 전력분배기 적용 때 36.5% 대역폭(1,200~1,775 MHz), 90도 하이브리드 적용 때 29.84% 대역폭(1,230~1,700 MHz)을 얻었다. 3dB 축비 대역폭은 17.14% 대역폭(1,360~1,630 MHz) 및 15.87% 대역폭(1,400~1,650 MHz)을 얻음으로써 광대역임이 입증되었고, 윌킨스 전력분배기 적용이 90도 하이브리드 적용보다 좀 더 넓은 대역폭이 나타났다. 무반사실에서 측정한 안테나의 최대이득은 GPS 중심주파수에서 각각 2.84 dBi 및 2.75 dBi를 얻었다.

전기광학효과를 이용한 전계 프로브 센서 (Field Probe Sensor Based on the Electro-Optic Effect)

  • 경운환;김건덕;어윤성;이상신
    • 한국광학회지
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    • 제20권2호
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    • pp.71-75
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    • 2009
  • 본 논문에서는 전기광학효과를 갖는 $LiNbO_3$ 및 GaAs 물질 기반의 전계 프로브 센서를 제안하고 구현하였다. 이 센서를 이용하여 RF 링 공진필터 소자로부터 방사되는 수평 및 수직방향 성분의 필드세기를 측정하였다. 구현된 $LiNbO_3$ 및 GaAs센서로부터 계산된 감도는 각각 $9.315{\mu}V/\sqrt{Hz}$$49.346{\mu}V/\sqrt{Hz}$였으며, 신호 대 잡음비는 ${\sim}50\;dB$${\sim}40\;dB$였다. 그리고 각 센서의 주파수 응답특성은 ${\sim}1.2\;GHz$였다. 마지막으로 센서를 이용하여 테스트 회로의 근접 필드 분포를 측정하였으며, 이는 HFSS 시뮬레이션 결과와 잘 일치하였다.