• Title/Summary/Keyword: 진성결함

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Study on the Intrinsic Defects in Undoped GaSb Bulk and MBE-grown GaSb/SI-GaAs Epitaxial Layers for Infrared Photodetectors (적외선검출소자를 위한 GaSb 결정 및 MBE로 성장한 Gasb/SI-GaAs 박막의 진성결함에 관한 연구)

  • Kim, J.O.;Shin, H.W.;Choe, J.W.;Lee, S.J.;Noh, S.K.
    • Journal of the Korean Vacuum Society
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    • v.18 no.2
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    • pp.127-132
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    • 2009
  • We have investigated the intrinsic defects remaining in epitaxial GaSb layers grown on SI-GaAs substrates compared to those in bulk GaSb crystal substrate, which is a basic material of Sb-based strained-layer superlattice infrared photodetectors. From the functional dependence of the band-to-band transition energy of the photomuminescence (PL) spectra observing up to near room-temperature (250 K), the temperature parameters of [$E_o$, $\alpha$, $\beta$] of undoped GaSb crystal are determined by using the Varshni empirical equation describing the temperature variation of the bandgap energy. Additionally to the antisite-Ga ([$Ga_{Sb}$]) with an ionization energy of 29 meV that is well known to a major intrinsic defect in GaSb, epitaxial GaSb layers show a pair of deep states at the emission energy of 732/711 meV that may be related with a complex of two antisite-Ga and antisite-Sb ([$Ga_{Sb}-Sb_{Ga}$]). Based on the analysis of the temperature and the excitation-power dependences of PL, it suggests that excess-Sb substitutes Ga-site by self-diffusion and two anti sites of [$Ga_{Sb}$] and [$Sb_{Ga}$] could form as a complex of [$Ga_{Sb}-Sb_{Ga}$] in GaSb epilayers grown under Sb-rich condition.

A development on the compensating technique of the signal distortion and an Analysis of the signal in the CMFL type nondestructive testing system for detecting axial cracks (CMFL 비파괴 검사 시스템에서 축방향 결함 위치에 따른 신호의 왜곡 분석 및 보정 기술 개발)

  • Kim, Hui-Min;Kim, Jin-Sung;Park, Gwan-Soo
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2011.07a
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    • pp.922-923
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    • 2011
  • 비파괴 검사방법 중 자기누설 방법을 이용한 방법은 높은 자기 투자율을 갖고 있는 배관 검사에 적합하다. 자기누설 방식이 적용된 시스템을 MFL PIG라고 한다. MFL PIG는 금속 손실이나 부식과 같은 결함을 검출하는데 높은 성능을 보인다. 하지만 이 시스템은 축방향으로 자기장을 형성하여 투자율이 큰 금속 배관을 포화시켜 결함이 있는 부분에서 발생하는 누설자속을 검출하는 방식이기 때문에 축방향으로 발생하는 미소 결함은 자기장이 통과하는 단면이 작고 누설자속이 거의 없어 검출이 어렵다. 축방향 미소결함을 검출하기 위해 기존의 MFL PIG를 개선시킨 것이 CMFL PIG이며, 이것은 자기장을 원주방향으로 형성하여 결함에서의 자기 누설을 최대화 가능하다. 본 논문에서는 축방향 미소 결함의 검출이 가능한 CMFL 비파괴 검사 방법에 관한 논의와 이를 이용하여 축방향 결함의 위치이동에 따른 왜곡 신호의 분석 및 보정하는 방법에 관해 제안한다.

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A Design of QoS Fault Manager in Grid Computing System (그리드 컴퓨팅 시스템에서 QoS 결함 탐지 방법)

  • 이화민;정광식;진성호;이대원;정순영;유헌창
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2002.10e
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    • pp.469-471
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    • 2002
  • 그리드 컴퓨팅 시스템은 광범위한 지역에 분산된 고성능 자원, 대용량 정보 및 혁신적인 애플리케이션 등을 네트워크로 연결하여 마치 단일 컴퓨터를 사용하는 것처럼 자원을 상호공유하고 이용할 수 있도록 지원한다. 광범위 분산 컴퓨팅 시스템(wide area distributed computing systems)인 그리드 역시 분산 컴퓨팅 시스템과 같이 각 자원의 결함발생 가능성이 존재한다. 그리드 컴퓨팅 시스템에서도 결함은 작업수행에 있어서 치명적일 수 있기 때문에 결함 포용 기능은 필수적인 요소이다. 하지만 그리드 컴퓨팅 환경을 제공하는 글로버스(globus) 미들웨어에는 결함 포용 기능이 포함되어 있지 않다. 이에 본 연구에서는 그리드 컴퓨팅 시스템에서 QoS(quality of service)을 고려하여 프로세스, 프로세서, 네트워크 결함을 정의하고, 정의된 결함이 발생할 경우 결함을 탐지하고 해결하는 방법을 제안한다.

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공정압력에 따른 TaInZnO 박막 트랜지스터의 전기적 특성

  • Park, Hyeon-U;Kim, Bu-Gyeong;Park, Jin-Seong;Jeong, Gwon-Beom
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.08a
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    • pp.165-165
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    • 2012
  • 비정질의 Tantalum-indium-zinc oxide (TIZO) 박막 트랜지스터는 RF-sputtering 방법으로 증착되었으며 소결된 단일 타겟을 사용하였다. 증착당시 반응 가스는 알곤과 산소를 95 : 5로 섞어 반응성 스퍼터링을 진행하였으며, 1 mtorr에서 5 mtorr까지 다양한 공정압력에서 증착한 이 후 Furnace system을 통하여 $350^{\circ}C$의 온도로 1시간 동안 후열처리 공정을 진행하였다. 비정질 TIZO 박막을 활성 층으로 사용하여 제작한 박막 트랜지스터는 공정압력이 낮아짐에 따라 높은 이동도와 낮은 subthrehsold gate swing 보였다. 이러한 현상의 원인을 규명하고자 물리적, 전기적, 광학적 분석을 통하여 공정압력의 변화가 박막 트랜지스터 구동에 미치는 영향을 해석하였다. 우선 공정압력에 따른 TIZO 박막의 Ta, In, Zn, O 각각의 조성을 분석하기 위하여 Rutherford back scattering (RBS) 분석을 실시하였다. 또한 X-선 회절(X-ray diffraction)분석을 통해 열처리된 TIZO 박막은 공정압력에 따라 물리적 구조의 변화를 일으키지 않으며 모든 박막은 비정질상을 보이는 것을 확인하였다. 3.3eV의 광학적 밴드 갭은 기존에 보고되었던 비정질 산화물 반도체(InGaZnO, HfInZnO 등)와도 유사한 밴드갭을 가지고 있음을 확인하였다. 또한, spectroscopic ellipsometry (SE)분석을 통하여 전도대 이하 밴드 갭 내에 존재하는 결함상태 및 전도대에서 결함상태까지의 에너지 준위 그리고 공정압력에 따라 결함의 양과 발생되는 에너지 준위가 변화하는 현상을 관측하였다. 박막을 제조 할 때의 공정압력은 박막 내의 결함의 양 및 발생되는 에너지 준위의 변화를 야기하고 변화된 결함의 양과 발생된 에너지 준위에 따라 박막트랜지스터의 전기적 특성을 변화시킨다는 결과를 도출하였다.

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A Study on the Standard of ESS Requirement based on MIL-HDBK-344A (MIL-HDBK-344A 기반의 ESS 요구사항 표준안 연구)

  • Kim, Byung-Jun;Kim, Jin-Sung
    • The Journal of the Korea institute of electronic communication sciences
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    • v.15 no.2
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    • pp.335-342
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    • 2020
  • ESS(Environmental Stress Screening) is an important production process to remove 'latent defects' introduced in the production of products. Recently, ESS is included in QAR(Quality Assurance Report) as an essential quality assurance requirement for products in the defense business. However, depending on the author of the QAR or the classification of the weapon system, it is often identified that the content and form are different or important elements are omitted. Therefore, this paper proposes a MIL-HDBK-344A based quantitative ESS requirement standard to secure the consistency and completeness of QAR. and to make easier to calculate PE(Precipitation Efficiency), which is an indicator for identifying the latent defects elimination effect.

The Effect of the Microdefects in Czoscralski Si wafer on Thin Oxide Failures (Thin Oxide 불량에 미치는 Czochralski Si 웨이퍼의 미소결함의 영향)

  • 박진성;이우선;김갑식;문종하;이은구
    • Journal of the Korean Ceramic Society
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    • v.34 no.7
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    • pp.699-702
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    • 1997
  • The cross sectional image of thin oxide failure of MOS device could be observed by Emission Microscope and Focused Ion Beam at the weak point. The oxide failures in low electric field was associated with the presence of a particle or abnormal pattern. The failures occuring at medium field are related to a pit of Si substrate. The pits could be originated from the microdefects of Cz Si wafer.

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A Dynamic Management Technique for Weighted Testcases in Software Testing (가중치를 이용한 소프트웨어 테스트케이스 동적 관리 기법)

  • Han, Sang-Hyuck;Jung, Jung-Su;Jin, Seung-Il;Kim, Young-Kuk
    • The KIPS Transactions:PartD
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    • v.17D no.6
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    • pp.423-430
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    • 2010
  • As software becomes large-scale and complicated, the need for Quality Assurance and management is increased and software testing is becoming more important. The main aims of software testing are not only detecting and handling the defects in the system but also investigating and managing the present system. But automatic testing tools require lots of time and efforts to detect and manage the risk in the system because test-cases used in the general automatic testing tools have the simply static information. In this thesis, the dynamic management technique for weighted testcases is designed to test the high-risk testcases preferentially by giving the testcases dynamic weight.

A Study on the Fault Detection of Auto-Transmission according to Gear Damage (기어손상에 따른 자동변속기의 결함 검출에 관한 연구)

  • Park, Ki-Ho;Jung, Sang-Jin;Kim, Jin-Seong;Han, Kwan-Su;Kim, Min-Ho
    • Proceedings of the Korean Society for Noise and Vibration Engineering Conference
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    • 2007.11a
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    • pp.1401-1409
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    • 2007
  • This paper presents a detecting technique for the improvement in quality by appling the various vibrational characteristics theory. The object of this study is to objectively point out faulty gear by developing the program which can be used to analyze and predict the vibrational characteristics caused by gear wear, deformation and nick of auto-transmission. The fault detection methods by vibrational signal analysis of gear have been progressed in the various fields of industry. These methods have the advantage of being easy to attach the accelerometer without discontinuance of the structure. But not all the methods are efficient for finding early faults. So in the thesis, we completed development of the inspection system of vibration by appling the most efficient detecting methods and verified the system's reliability through experiments.

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A Study on the Fault Detection of Auto-transmission according to Gear Damage (기어손상에 따른 자동변속기의 결함 검출에 관한 연구)

  • Park, Ki-Ho;Jung, Sang-Jin;Wee, Hyuk;Kim, Jin-Seong;Han, Kwan-Su;Kim, Min-Ho
    • Transactions of the Korean Society for Noise and Vibration Engineering
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    • v.18 no.1
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    • pp.47-56
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    • 2008
  • This paper presents a detecting technique for the improvement in quality by appling the various vibrational characteristics theory. The object of this study is to objectively point out faulty gear by developing the program which can be used to analyze and predict the vibrational characteristics caused by gear wear, deformation and nick of auto-transmission. The fault detection methods by vibrational signal analysis of gear have been progressed in the various fields of industry. These methods have the advantage of being easy to attach the accelerometer without discontinuance of the structure. But not all the methods are efficient for finding early faults. So in the thesis, we completed development of the inspection system of vibration by appling the most efficient detecting methods and verified the system's reliability through experiments.