본 연구는 유기된 돼지사체의 노출 정도에 따른 곤충상의 변화와 부패 패턴을 이용해서 사체의 사후경과시간(Post Mortem Interval, PMI)을 추정하기 위한 기초자료를 얻기 위해 수행되었다. 부산 낙동강 주변의 초지에서 완전노출사체, 감은사체, 덮은사체 및 그늘진사체 각각 1구씩을 2010년 8월에 설치하여 총 7목 15과 20종의 곤충들이 관찰되었고 가장 먼저 접근한 곤충은 검정뺨금파리였다. 검정뺨금파리는 모든 사체에서 전 기간에 걸쳐 출현했으며, 꼭지파리과의 1 종, 왕반날개 및 딱정벌레과의 1종은 부패(III)~백골화(V)단계에 출현하여, 위 4종은 사체의 부패단계를 시사하는 지표곤충으로 유용하다고 생각되었다. 한편, 부패속도는 완전노출사체(7일) > 덮은사체(10일) > 그늘진사체(13일) > 감은사체(15일)의 순으로 빨랐는데, 이는 사체의 노출 정도에 따른 곤충의 접근성 및 큰 비에 의한 사체손실의 정도와 관련이 있는 것으로 생각되었다. 따라서 PMI 추정 시 사체의 노출 정도가 반드시 고려되어야 한다고 생각되었다.
18세기 제작된 유언호 초상화에 대한 비파괴분석 통해 채색에 사용된 안료의 종류와 채색기법을 추정하였으며, 이를 바탕으로 18세기의 초상화 11점과의 채색특성을 비교해보았다. 유언호 초상에 사용된 안료는 백색에 연백, 황색에 염료, 적색에 진사, 연단, 적색염료, 녹색에 석록, 청색에 석청, 갈색에 적색산화철, 갈색염료, 자주색에 청색과 분홍색의 염료 등을 사용하였다. 11점의 초상화와 채색 안료를 비교한 결과 18세기 초상화에 사용된 안료는 시기별로 큰 차이를 보이지 않았으며, 동일 화첩에 수록된 초상화일지라도 안료의 사용은 초상화마다 개별적으로 나타났다. 채색기법에서는 유언호 초상 이후의 초상에서 얼굴에 진사를 사용하지 않고 산화철만 사용하였으며, 의복의 배채에 녹색 안료 대신 염료를 사용하였다. 본 연구를 통해 18세기 전반에 걸쳐 제작된 초상화의 채색 특성을 확인할 수 있었다. 이번 연구결과가 조선 후기 초상화의 채색기법 연구에 기초자료로 활용되기를 기대해 본다.
본 연구는 미국 하버드대학 내 하버드옌칭도서판 한국부에 소장되어 있는 조선시대 기본 과거인 소과생원진사시의 기록물이자 합격자 명부인 사마방목을 대상으로 하였다. 조선시대 개국이래 갑오경장 때까지 실시되어 온 생원진사시는 230회 실시되었고, 그에 따라 간행된 사마방목 중 186종이 현전하고 있다. 그 중 이 도서관은 47종의 사마방목을 소장하고 있다. 그러나 기존의 논문 중 하버드옌칭도서관 소장사항을 조사한 논고들을 살펴보면 1968년에 7종, 1980년에 5종이 소장되어 있는 것으로 나타난다. 본고는 20여년이 지난 현재 사뭇 다른 양상을 보이고 있는 이 도서관의 현 소장상황을 조사하여 밝히고 기존의 잘못을 바로잡고자 한다. 생원진사시 및 사마방복에 대하여 고찰하고, 각 사마방목의 소장 및 서지사항을 살피고, 특징적인 사항을 분석하였다. 본 연구가 이후 해외유출전적 및 과거사 등의 구체적인 연구에 활용될 수 있기를 기대한다.
Due to recent industry 4.0, manufacturing has changed a lot. In particular, it is necessary to control the controller and controller of the control system, to communicate various production information and measurement information, and to produce a database in accordance with the flexible production for a small quantity of various items, and to manage the trend of major parts of production facilities. In this paper, we developed a multiple wireless communication controller for small scale control system for smart factory by applying XBee and microcomputer. This controller is cheap and easy to build multi-radio communication environment of 1: N and can control and monitor control system. In addition, we tested multiple wireless communication controllers by using signal processing device and C++, and constructed network, control, and database for mechanism module, and confirmed effectiveness for industrial application.
SBT thin film for semiconductor device that is made by RF magnetron sputtering method studied electrical properties under various temperature condition. Dielectric constant who differ annealing condition appears highest in $750[^{\circ}C]$ and it is 213. Also, C-V properties by annealing temperature of SBT thin film for semiconductor device is no change almost to $600[^{\circ}C]$ and shows non-linear butterfly shape more than $650[^{\circ}C]$ Maximum capacitance and difference of smallest capacitance show the biggest difference in $750[^{\circ}C]$ as degree that domain wall motion contributes in ferrelectric polarization value in C-V characteristic curve of ferroelectric that this shows typical ferroelectric properties. Therefore, SBT thin film for semiconductor device that is annealing in $750[^{\circ}C]$ expressed the most superior electrical and ferroelectric properties.
The $Sr_{0.7}Bi_{2.6}Ta_2O_9$(SBT) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/$TiO_2/SiO_2$/Si) using RF magnetron sputtering method. The structural and electrical properties of SBT capacitors were influenced with annealing atmosphere. In the XRD pattern, the SBT thin films in all annealed atmosphere had (105) orientation. In the SEM images, Bi-layered perovskite phase was crystallized in all annealing atmosphere and grains largely grew in oxygen annealing atmosphere. The maximum remanent polarization and the coercive electric field in oxygen annealing atmosphere are $12.40[{\mu}C/cm^2]$ and 30[kV/cm] respectively. The fatigue characteristics of SBT capacitors did not change up to $10^{10}$ switching cycles.
The $Sr_{0.7}Bi_{2.3}Nb_2O_9$(SBN) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/Ti/$SiO_2$/Si) using RF sputtering method at various deposition conditions. Thickness of SBN thin films was about 250[nm] in 70/30 of $Ar/O_2$ ratio. The thickness and deposition rate of SBN thin films were increased with increase of RF power. The capacitance of SBN thin films were increased with the increase of deposition temperature.
The ($Sr_{1-x}Ca_x)TiO_3$(SCT) thin films are deposited on Pt-coated electrode($Pt/TiN/SiO_2/Si$) using RF sputtering method with substitutional contents of Ca. The maximum grain of thin films is obtained by substitution of Ca at 15[mol%]. All SCT thin films had (111) preferred orientation. The dielectric constant was increased with increasing the substitutional contents of Ca, while it was decreased if the substitutional contents of Ca exceeded over 15[mol%]. The dielectric constant changes almost linearly in temperature ranges of -80~+90[$^{\circ}C$]. The temperature properties of the dielectric loss have a stable value within 0.02 independent of the substitutional contents of Ca. All SCT thin films used in this study show the phenomena of dielectric relaxation with the increase of frequency, and the relaxation frequency is observed above 200[kHz].
The ($Sr_{1-x}Ca_x)TiO_3(SCT)$ thin films are deposited on Pt-coated electrode (Pt/TiN/SiO$_{2}$Si) using RF sputtering method with substitutional contents of Ca. The optimum conditions of RF power and Ar/O$_{2}$ ratio were 140(W) and 80/20, respectively. Deposition rate of SCT thin film was about $18.75{\AA}$/min. The dielectric constant was increased with increasing the substitutional contents of Ca, while it was decreased if the substitutional contents of Ca exceeded over $15[mol\%]$. The capacitance characteristics had a stable value within $\pm4[\%]$ in temperature ranges of $-80\~+90[^{\circ}C]$. All SCT thin films used in this study show the phenomena of dielectric relaxation with the increase of frequency, and the relaxation frequency is observed above 200[kHz].
한국전기전자재료학회 2000년도 춘계학술대회 논문집 전자세라믹스 센서 및 박막재료 반도체재료 일렉트렛트 및 응용기술
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pp.92-95
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2000
The $(Sr_{1-x}Ca_x)TiO_3$(SCT) thin films are deposited on Pt-coated electrode(Pt/TiN/$SiO_2$/Si) using RF sputtering method with substitutional contents of Ca. The maximum grain of thin films is obtained at SCT15 thin film. The dielectric constant was increased with increasing the substitutional contents of Ca, while it was decreased if the substitutional contents of Ca exceeded over 15[mol%]. The dielectric constant changes almost linearly in temperature ranges of -80~+90$[^{\circ}C]$. The temperature properties of the dielectric loss have a stable value within 0.02 independent of the substitutional contents of Ca. All SCT thin films used in this study show the phenomena of dielectric relaxation with the increase of frequency, and the relaxation frequency is observed above 200[kHz].
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[게시일 2004년 10월 1일]
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