• Title/Summary/Keyword: 정밀 계측

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Development of auto calibration program for instruments (정밀 계측기기 자동 교정용 프로그램 개발)

  • Cho, Hyeon-Seob;Kim, Hee-Sook
    • Proceedings of the KAIS Fall Conference
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    • 2006.05a
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    • pp.330-334
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    • 2006
  • 본 논문에서는 컴퓨터로 정밀 계측기기들을 자동 제어하고 데이터를 측정하기 위하여 기존의 상용 프로그램을 사용하지 않고 Excel VBA(Visual Basic for Applications)를 이용하는 방법에 대하여 연구하였다. 이는 반복측정 및 통계적 수치계산 등에서 많은 장점을 지니고 있어 수많은 국가교정기관 및 일반 산업체에서 유용하게 사용될 수 있을 것으로 사료된다.

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Development of auto calibration program for exact instruments (정밀 계측기기 자동교정 프로그램 개발)

  • Cho, Hyun-Seob
    • Proceedings of the KAIS Fall Conference
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    • 2009.05a
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    • pp.446-449
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    • 2009
  • 본 논문에서는 컴퓨터로 정밀 계측기기을 자동 제어하고 데이터를 측정하기 위하여 기존의 상용 프로그램을 사용하지 않고 Excel VBA(Visual Basic for Applications)를 이용하는 방법에 대하여 연구하였다. 이는 반복측정 및 통계적 수치계산 등에서 많은 장점을 지니고 있어 수많은 국가교정기관 및 일반 산업체에서 유용하게 사용될 수 있으리라 사료된다.

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Principles and Prospect of Speckle Pattern Interferometry (스페클 간섭계의 원리와 전망)

  • 강영준
    • Journal of the Korean Society for Precision Engineering
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    • v.21 no.5
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    • pp.7-13
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    • 2004
  • 간섭성 광원인 레이저를 이용한 계측 및 검사기법 중 대표적인 것이 홀로그래피를 이용한 간섭법(Holographic Interferometry, HI)이다. HI는 레이저 파장을 단위로 하기 때문에 물체변형에 대해 측정감도가 좋고 비파괴 비접촉의 계측이 가능하다. 또한 삼차원 정보 추출이 가능해서 주어진 간섭무늬로부터 전 영역의 변형을 구할 수 있다는 커다란 장점을 가지고 있다. 그러나 일반적으로 홀로그래피용 필름은 기록 및 현상방법이 성가시고 그 속도 또한 느릴 뿐만 아니라 간섭무늬 패턴도 매우 복잡해서 산업현장 등 실제의 응용에는 현실적인 어려움이 있다.(중략)

Analysis on the Current Status of Maintenance and Monitoring of the Bridge Across Seokdaecheon, Busan Metro Line 4 (부산도시철도 4호선 석대천 횡단 교량의 유지관리계측 현황분석)

  • Woo, Jong-Tae
    • Proceedings of the Korean Society of Disaster Information Conference
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    • 2022.10a
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    • pp.349-351
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    • 2022
  • 1차 안전기준은 안전한 공사관리를 위한 목표치이며, 2차 주의기준은 주변구조물이나 주민에게 안전에 영향을 미칠 수 있는 범위 값이며, 3차 정밀분석기준은 공사장 자체의 위험에 대비하는 기준을 의미 하므로 향후에는 계측항목별로 계측관리기준을 세분하여 적용하는 것이 필요하다.

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Transistor에 의한 고속도계수회로에 관하여

  • 정만영
    • 전기의세계
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    • v.10
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    • pp.62-71
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    • 1963
  • 공업계측분야에 대한 계수기술은 최근획기적인 발전을 거두고있다. 계수화된 계측기는 측정정도에 있어서 개인차나 오산이 없으므로 과거의 눈금식의 계측방식은 이로 대치되어 갈것인데 그 계측 가능한 속도에 있어서 종래의 진공관보다 Transistor식이 되면 훨씬 고속도까지도 계수가 쉽게 되고 장치 및 계수표시용소비전력도 개량되어가고 있다. 이러한것이 되므로서 높은 주파수측정, 짧은 시간측정은 물론이고 전기적인 진폭의 크기를 Analog to Digital 변환기로서 정밀도가 높은 계측을 가능하게 하고 특히 방사능 측정에 있어서 종래의것보다 더 고속화되므로서 방사능의 완전한 성질을 파악할 수 있을 것이다. 그것은 1Cure의 방사능이 3.7*$10^{10}$dps의 붕괴수를 갖고 있으나 현재는 약 2.8*$10^{7}$ cps정도의 계측이 가능할 따름이다. 따라서 계측속도를 더 향상시키므로서 강한 방사능계측도 가능하게 된다. 이러한 고속계수문제의 해결을 하기 위하여 Transistor회로로서 두가지면으로 추구되고 있다. 그 하나는 고속도용 Transistor자체의 개발이며 또하나는 회로적인 개량연구이다. 여기서는 후자에 관해서만 생각하고, 거기에 적합한 Transistor를 얻었을때의 설계기준과 기본적인 실험결과에 관해서 논하기로 한다.

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