• Title/Summary/Keyword: 점결함

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Performance Evaluation of the K-Fault-Tolerant Checkpointing Scheme for Reliable Mobile Agent Systems (이동 에이전트를 위한 K-결함 허용 검사점 기법의 성능 분석)

  • Youn, Jaehwan;Byun, Ilsoo;Park, Taesoon
    • Annual Conference of KIPS
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    • 2004.05a
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    • pp.917-920
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    • 2004
  • 신뢰할 만한 이동 에이전트 시스템을 구축하기 위해서는 이동 에이전트의 결함 내성 기능이 중요하다. 지금까지 여러 결함 내성 기법이 제안되었는데, 그 중의 하나가 검사점 기법이다. 에이전트의 중간 상태를 저장하는 검사점 기법은 에이전트 복제 기법에 비해 훨씬 적은 비용을 보장하는 반면, 검사점이 저장된 사이트의 결함 발생 시 에이전트 실행이 일시 또는 영구히 중지되는 문제가 발생한다. 따라서 본 논문에서는 k-결함 허용 검사점 기법을 제안한다. 이 기법에서는 에이전트 이동 경로에 저장된 검사점을 관리하는 관찰자들을 두어, 에이전트 실행 사이트의 결함 발생 시 관찰자간의 여론 수렴 과정을 통해 결함에 영향을 받지 않은 최근 검사점으로부터 에이전트의 실행을 재개시킨다.

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Study on Defect Cell Extraction of TFT-LCD Panel (TFT-LCD 결함패턴 추출에 관한 연구)

  • Cho, Jae-Soo;Ha, Gwang-Sung;Lee, Jin-Wook;Kim, Dong-Hyun;Jeon, Edward
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2007.10a
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    • pp.151-152
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    • 2007
  • 본 논문은 TFT-LCD 영상에서 결함을 자동검색하여 결함이 있는 LCD 영상의 경우 결함이 있는 LCD 패턴을 정확하게 추출해 내는 방법을 제안하였다. TFT-LCD 영상에서 결함이 있는 LCD 패턴 검색은 세단계로 이루어진다. 1단계는 먼저 입력영상에서 LCD 패턴영상의 특징을 이용하여 각 LCD 패턴의 기준점을 찾는다. 2단계는 1단계에서 찾은 여러 기준점 중에서 필터링과정을 통하여 정확한 한 개의 기준점을 최종 선택한다. 마지막으로 3단계에서는 최종적으로 선택된 기준점을 이용하여 결함정의(결함중심 및 결함사이즈)를 이용하여 결함이 포함되어 있는 LCD 패턴을 추출한다. 제안된 결함패턴 추출 알고리즘의 정확성은 컴퓨터 시뮬레이션을 통하여 그 효용성을 증명하였다.

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A Mobile Agent Recovery Scheme based on k-Fault-Tolerant Checkpointing (k-결함 허용 검사점 기법을 이용한 이동 에이전트 복구 기법에 관한 연구)

  • Kang, Soo-Seok;Byun, Il-Soo;Park, Tae-Soon
    • Annual Conference of KIPS
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    • 2003.05a
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    • pp.471-474
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    • 2003
  • 신뢰할 만한 이동 에이전트 시스템을 구축하기 위해서는 이동 에이전트의 결함 내성 기능이 중요하다. 지금까지 여러 결함 내성 기법이 제안되었는데, 그 중의 하나가 검사점 기법이다. 에이전트의 중간 상태를 저장하는 검사점 기법은 에이전트 복제 기법에 비해 훨씬 적은 비용을 보장하는 바며 검사저이 저장된 사이트의 결함 발생 시 에이전트 실행이 일시 또는 영구히 중지되는 문제가 발생한다. 따라서 본 논문에서는 k-결함 허용 검사점 기법을 제안한다. 이 기법에서는 에이전트 이동 경로에 저장된 검사점을 관리하는 관찰자들을 두어, 에이전트 실행 사이트의 결함 발생 시 관찰자간의 여론 수렴 과정을 통해 결함에 영향을 받지 않은 최근 검사점으로부터 에이전트의 실행을 재개시킨다.

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Systematic and Comprehensive Comparisons of the MOIS Security Vulnerability Inspection Criteria and Open-Source Security Bug Detectors for Java Web Applications (행정안전부 소프트웨어 보안 취약점 진단기준과 Java 웹 어플리케이션 대상 오픈소스 보안 결함 검출기 검출대상의 총체적 비교)

  • Lee, Jaehun;Choe, Hansol;Hong, Shin
    • Journal of Software Engineering Society
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    • v.28 no.1
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    • pp.13-22
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    • 2019
  • To enhance effective and efficient applications of automated security vulnerability checkers in highly competitive and fast-evolving IT industry, this paper studies a comprehensive set of security bug checkers in open-source static analysis frameworks and how they can be utilized for source code inspections according to the security vulnerability inspection guidelines by MOIS. This paper clarifies the relationship be tween all 42 inspection criteria in the MOIS guideline and total 323 security bug checkers in 4 popular open-source static analysis frameworks for Java web applications. Based on the result, this paper also discuss the current challenges and issues in the MOIS guideline, the comparison among the four security bug checker frameworks, and also the ideas to improve the security inspection methodologies using the MOIS guideline and open-source static security bug checkers.

양자점 태양전지구조내 결함상태와 광전변환 특성인자와의 상관관계 분석

  • Lee, Gyeong-Su;Lee, Dong-Uk;Kim, Eun-Gyu;Choe, Won-Jun
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2014.02a
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    • pp.329.2-329.2
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    • 2014
  • 지난 수년간 태양전지의 광전변환효율을 높이기 위해 자가 조립된 InAs 또는 GaSb와 같은 양자점을 GaAs 단일 p-n 접합에 적용하는 연구를 개발해 왔다. 그러나 양자점의 흡수 단면적에 의한 광 흡수도는 양자점층을 수십 층을 쌓으면 증가하지만 활성층에 결함을 생성시킨다. 생성된 결함은 운반자트랩으로 작용하여 태양전지의 광전변환효율을 감소시킨다. 본 실험에서는 양자점이 적용된 태양전지와 적용되지 않은 태양전지의 광전변환 효율을 비교하고, 깊은준위 과도용량 분광법을 이용하여 결함상태를 측정 및 비교함으로써, 활성층 내부에 생성된 결함이 광전변환 효율에 미치는 영향을 분석하였다. 소자구조는 분자선 증착 방법을 이용하여, 먼저 n+-형 GaAs기판위에 n+-형 GaAs를 250 nm 증착한 후, 도핑이 되지 않은 GaAs활성층을 $1{\mu}m$ 두께로 증착하였다. 마지막으로 n+ 와 p+-형 GaAs를 각각 50, 750 nm 증착함으로써 p-i-n구조를형성하였다. 여기서, n+-형 GaAs 과 p+-형 GaAs의 도핑농도는 동일하게 $5{\times}1018cm-3$로 하였다. 또한 양자점을 태양전지 활성층에 20층을 형성하였다. 이때 p-i-n 태양전지 와 양자점 태양전지의 광전변환 효율은 각각 5.54, 4.22 % 를 나타내었다. p-i-n 태양전지의 개방 전압과 단락전류는 847 mV, 8,81 mA이며 양자점 태양전지는 847 mV, 6.62mA로 확인되었다. 태양전지의 전기적 특성을 측정하기 위해 소자구조 위에 Au(300nm)/Pt(30nm)/Ti(30nm)의 전극을 전자빔증착장치로 증착하였으며, 메사에칭으로 직경 $300{\mu}m$의 태양전지 구조를 제작하였다. 정전용량-전압 특성 및 깊은준위 과도용량 분광법을 이용하여 태양전지의 결함분석 및 이에 따른 광전변환 특성인자와의 상관관계를 논의할 것이다.

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깊은준위 과도용량 분광법을 이용하여 양자점 태양전지의 결함상태가 광전변환 효율에 미치는 영향 분석

  • Lee, Gyeong-Su;Lee, Dong-Uk;Mun, Ung-Tak;Kim, Eun-Gyu;Choe, Won-Jun
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2013.08a
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    • pp.225.1-225.1
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    • 2013
  • 지난 수년간 태양전지의 광전변환 효율을 높이기 위해 자가 조립된 InAs 또는 GaSb 와 같은 양자점을 GaAs 단일 p-n 접합에 적용하는 연구를 개발해 왔다. 그러나 양자점의 흡수 단면적에 의한 광흡수도는 양자점층을 수십 층을 쌓으면 증가하지만 활성층에 결함을 생성시킨다. 생성된 결함은 운반자 트랩으로 작용하여 태양전지의 광전변환 효율을 감소시킨다. 본 실험에서는 양자점이 적용된 태양전지와 적용되지 않은 태양전지의 광전변환 효율을 비교하고, 깊은준위 과도용량 분광법을 이용하여 결함상태를 측정하고 및 비교함으로써, 활성층 내부에 생성된 결함이 광전변환 효율에 미치는 영향을 분석하였다. 소자구조는 분자선 증착 방법을 이용하여, 먼저 n-형 GaAs 기판위에 n-형 GaAs를 300 nm 증착한 후, 도핑이 되지 않은 GaAs 활성층을 3.5 ${\mu}m$ 두께로 증착하였다. 마지막으로 p-형 GaAs를 830 nm 증착함으로써 p-i-n구조를 형성하였다. 여기서, n-형 GaAs 과 p-형 GaAs의 도핑농도는 동일하게 $5{\times}1018\;cm^{-3}$ 로 하였다. 또한 양자점 및 델타도핑 층을 각각 태양전지에 적용하기 위해 활성층내에 양자점 20층 및 델타도핑 20층을 각각 형성하였다. 이때, 양자점 태양전지, 델타도핑 태양전지와 양자점이 없는 태양전지의 광전변환 효율은 각각 4.24, 4.97, 3.52%로 나타났다. 태양전지의 전기적 특성을 측정하기 위해 소자구조 위에 Au(300nm)/Pt(30nm)/Ti(30nm)의 전극을 전자빔 증착장치로 증착하였으며, 메사에칭으로 직경 300 ${\mu}m$의 p-i-n 접합 다이오드 구조를 제작하였다. 정전용량-전압 특성 및 깊은준위 과도용량 분광법을 이용하여 태양전지의 결함분석 및 이에 따른 광전변환 효율의 상관관계를 논의할 것이다.

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Multiple Defect Diagnostics of Gas Turbine Engine using Real Coded GA and Artificial Neural Network (실수코드 유전알고리즘과 인공신경망을 이용한 가스터빈 엔진의 복합 결함 진단 연구)

  • Seo, Dong-Hyuck;Jang, Jun-Young;Roh, Tae-Seong;Choi, Dong-Whan
    • Proceedings of the Korean Society of Propulsion Engineers Conference
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    • 2008.11a
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    • pp.23-27
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    • 2008
  • In this study, Real Coded Genetic Algorithm(RCGA) and Artificial Neural Network(ANN) are used for developing the defect diagnostics of the aircraft turbo-shaft engine. ANN accompanied with large amount data has a most serious problem to fall in the local minima. Because of this weak point, it becomes very difficult to obtain good convergence ratio and high accuracy. To solve this problem, GA based ANN has been suggested. GA is able to search the global minima better than ANN. GA based ANN has shown the RMS defect error of 5% less in single and dual defect cases.

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A Checkpoint and Recovery Facility for the Fault-Tolerant Process on Linux Environment (리눅스 환경에서 결함 허용 프로세스를 위한 검사점 및 복구 도구)

  • Rim Seong-Rak;Kim Sin-Ho
    • The KIPS Transactions:PartA
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    • v.11A no.5
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    • pp.313-318
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    • 2004
  • In this paper, we suggest a checkpoint and recovery facility for the fault-tolerable process which is expected to be executed for a long time. The basic concept of the suggested facility is to allow the process to be executed continuously, when the process was stopped due to a System fault, by storing the execution status of the process periodically and recovering the execution status prior to the fault was occurred. In the suggested facility, it does not need to modify the source code for the fault-tolerable process. It was designed for the user to specify directly the file name and the checkpoint frequency, and two system calls(save, recover) were added. finally, it was implemented on the Linux environment(kernel 2.4.18) for checking the feasibility.

Defect Model for the Oxygen Potential of Urania doped wit Gadolinia (가돌리니아 첨가 이산화우라늄의 점결함 모델에 의한 산소포텐샬 연구)

  • Park, Kwang-Heon;Kim, Jang-Wook
    • Nuclear Engineering and Technology
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    • v.23 no.3
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    • pp.321-327
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    • 1991
  • A defect model e)[plaining the oxygen potential of Gadolinia doped urania based on the defect structure of pure urania has been developed. Gd-dopants are assumed to stay in the cation sites pushing away nearby oxygen interstitials reducing the number of interstitial sites. Gd-dopants also form dopant-vacancy clusters in the abundance of oxygen vacancies. This model explains the discontinuous change of the oxygen potential at O/M= as well as the increase of the potential with the dopant concentration.

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결함 주입을 이용한 소프트웨어 보안 테스팅

  • Kim, Ki-Bom;Choi, Young-Han;Yang, Jin-Seok;Hong, Soon-Jwa
    • Review of KIISC
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    • v.16 no.5
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    • pp.65-71
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    • 2006
  • 사이버 공격이 급증함에 따라 이를 사전에 효과적으로 예방할 수 있는 소프트웨어 보안 테스팅의 필요성이 점차 증대되고 있다. 결함 주입 기법은 사이버 공격과 마찬가지로 프로그램의 외부에 노출된 인터페이스에 고의적으로 결함을 주입하는 방법으로 보안 취약점을 찾는 우수한 방법이다. 이 논문에서는 결함 주입 기법의 기본적인 개념을 살펴본다. 또한, 결함 주입을 수행하는 절차인 결함 주입 대상 외부 인터페이스 선택, 결함 유발 가능 입력 데이터 생성, 결함 주입에 따른 이상현상 탐지 각각에 대한 개요 및 최근 동향을 기술한다.