Proceedings of the Korean Institute of Intelligent Systems Conference
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1998.03a
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pp.95-98
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1998
초음파센서는 저렴성, 단순한 구조, 기계적 강인성, 사용상의 적은 제약 등의 이점 때문에 다양한 응용분야에 적용된다. 물체의 인식에 초음파센서를 사용하기에는 낮은 분해능을 초래하는 불량한 방향성과 측정오류를 유발하는 반사성의 어려움을 내재하고 있다. 이런 문제를 개선하기 위해서 다양한 센사의 배열형태에서 많은 수의 센서를 사용하거나, 일정 수의 센서를 사용할 경우에는 센서의 배열을 기계적으로 이동시킨다. 본 논문에서는 물체의 패턴인식에 있어서 가장 기본적인 거리, 물체크기, 물체각도 값을 얻기 위해 간단하게 구성된 전자회로를 부가하여 초음파센서의 송출전압을 여러 단계로 변경시켜 얻어낸 데이터에 뉴로퍼지 기반의 지능적 계산 알고리즘을 적용하여 개선된 결과를 얻는다.
본 논문은 의사표현이 어려운 전신마비환자의 뇌파(EEG)를 이용하여 긍정과 부정을 표현할 수 있는 방법에 대해서 소개한다. 더 나아가 인간의 감정에 따라 긍정과 부정을 민감하게 반응하는 뇌 영역을 분석하였다. 해당영역의 뇌파(EEG)변화를 측정하기 위해 컴퓨터 시스템과 접목시키는 목적도 포함하고 있다. 이를 위해서 미약한 뇌파를 증폭 시키는 전치 증폭기를 구현하였고 인공산물과 뇌파 주파수영역만을 통과시키는 아날로그 전자회로를 구현하였다. 또한 인간의 두뇌피질로부터 측정된 신호는 컴퓨터 시스템에 전송된다. 수신된 신호를 실시간 Fast Fourier Transform(FFT) 신호처리과정을 거쳐 뇌파의 주파수 영역을 분류하게 된다. 이때 분류된 뇌파를 바탕으로 인간의 긍정과 부정을 표현할 수 있는 방법을 제시한다.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers D
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v.52
no.12
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pp.671-678
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2003
This paper proposes an expert system to generate automatically the test table of test system which can highly enhance the quality and productivity of product by inspecting quickly and accurately the defect device on the electronic circuit board tested. The expert system identifies accurately the tested components and the circuit patterns by tracing automatically the connectivity of circuit from electronic circuit database. And it generates automatically the test table to detect accurately the missing components, the misplaced components, and the wrong components for analog components such as resistance, coil, condenser, diode, and transistor, based on the experience knowledge of veteran expert. It is implemented in C computer language for the purpose of the implementation of the inference engine using the dynamic memory allocation technique, the interface with the electronic circuit database and the hardware direct control. And, the validity of the builded expert system is proved by simulating for a typical electronic board model.
Proceedings of the Korean Magnestics Society Conference
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2002.12a
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pp.142-143
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2002
최근 RSFQ (Rapid Single Flux Quantum) 기술은 초고속, 극저전력의 초전도 디지털 전자회로의 구현 가능성으로 인해 많은 관심을 모으고 있다.[1] 특히 정밀측정 및 표준 분야에 있어서, 기존의 직류 전압표준 소자에 비해 작동이 간편하며, 다양한 측정기술에 활용할 수 있는 차세대 조셉슨 전압표준용 소자에 응용가능성이 주목받고 있다. 그러나 RSFQ의 이러한 강점들이 제대로 발휘되려면 1 ㎄/$\textrm{cm}^2$ 수준의 고임계전류, 10 $\mu\textrm{m}$ 이하의 미소 조셉슨 접합을 신뢰성 있고 재현성 있게 제작할 수 있어야한다. (중략)
This research is the result for studding about the IR Rework station which is using a multi-wave IR-heater for soldering and de-soldering on the substrate such as PCB. This IR repair and reflow system is increasing the temperature on the target area under stable temperature control following setting point melting point of solder and lead free solder using IR-heater. So this system is not giving any therrna1 damage on the target PCB and components even closed components. The soldering and de-soldering quality is evaluated through the actual test.
A direct-reading conductance measuring system using a potentiostatic circuit and a four-electrode conductance cell was devised. The difficulties with the traditional method of using the Wheatston bridge and a two-electrode cell due to the complicated nature of the electrochemical system, the double layer capacitance and the Faradaic impedance at the electrodes, etc., could be avoided in this method. The devised instrument proved to be convenient and suitable for precise measurements. The results of measured conductivities of KCl and HCl solutions are reported.
Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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2009.05a
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pp.11.2-11.2
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2009
본 발표에서는 flexible display의 back plane 구동 소자, organic sensor, 그리고 organic radio frequency identification (RFID) Tag 등으로의 응용을 목표로 최근 활발히 연구 중인 유기 반도체 박막 트랜지스터에 대한 소개를 바탕으로 유기 반도체를 전자회로 분야에서 사용하기 위해 해결해야 할 문제점과 연구 개발이 절실히 필요한 부분에 대해 소개하고 자 함. organic RFID 응용 기술에 초점을 두고 RFID 기술의 개요, 종류, 주파수 대역 등에 대한 기초적인 지식을 바탕으로 organic RFID의 향후 시장 전망에 대해 토론한 후 현재 PolyIC, Organic ID, IMEC 등의 선진사에서 상용화를 목표로 활발히 연구 중인 organic RFID의 세계적 기술 수준과 최근 연구 결과들을 공유하고자함. 최근 ETRI에서 향 후 바코드 대체용으로 활발히 연구 중인 item level tagging용 13.56 MHz프린팅 RFID 기술을 소개하고 이를 구현하기 위한 유기반도체 트랜지스터, 정류기 등 다양한 종류의 회로들을 프린팅 소재와 공정으로 제작할 때의 문제점을 공유하고, 더 나아가 프린팅 전자 소자의 상용화를 위한 향 후 연구 개발 주제 및 방향 등에 대해 토론하고자함.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers
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v.32
no.10
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pp.335-340
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1983
The analysis of static power converter circuit using state-space method is presented. Semiconductors are modeled in two-state resistors depending on their ON or OFF states. Then the modes of circuit are determined according to the conducting states of semiconductors and different describing matrices are given automatically for each mode. Newton-Raphson algorithm is used as an iterative method for obtaining steady-state solution and an adjoint network is introduced for the efficient and accurate evaluation of the Jacobi matrix in the algorithm. Using the porogram exploited from the above algorithm, it is shown through examples that the results are in good agreement with the analytic solutions and computation time is considerably reduced for obtaining the steady-state solutions.
최근 정보통신의 발달과 함께 고정밀의 전기기기류가 급증하고 있으며, 이들의 회로에는 반도체를 포함하는 전자회로가 주로 사용되고 있어 고전압 및 대전류에 의한 서지로부터 취약성을 드러내고 있다. 따라서 전기적인 외력으로 부터 이들을 안전하게 보호하기위해 서지보호 장치가 널리 사용되고 있다. 그러나 이들 보호 장치를 사용함에도 불구하고 누전차단기의 오동작을 유발하여 정전 등으로 인한 파급사고가 발생할 뿐만 아니라 경제적인 손실과 같은 문제점을 초래하고 있다. 본 연구에서는 서지 전압에 대한 누전차단기의 오동작 특성을 조사하기 위해 IEC C62.41의 규격에 따라 $1.2/50{\mu}s$ 서지발생기를 제작하여 상용주파 전원이 인가 된, 무부하 상태의 누전차단기에 서지를 발생시켜 누전 차단기의 오동작 여부를 측정하였다. 그 결과 시험에 사용된 상용 누전차단기 모두는 오동작을 하여 이에 대한 원인 규명과 더불어 개발에 시급함을 제시하고자 하였다.
The Transactions of The Korean Institute of Electrical Engineers
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v.59
no.11
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pp.2089-2092
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2010
There are many cases that interrupt the production process because of malfunctions caused by electronic circuit boards which control equipment, but it is difficult to distinctly identify the causes in many cases. Especially, CMOS devices with the control logic circuit return automatically to normal state after their own faults. Therefore it is not easy to analyze the problems with electronic circuit boards. Recently, nuclear power plant experienced a failure due to the malfunction of electronic circuit boards and it was identified that the reason of the malfunction was because of latch-up phenomenon caused by external surge in electronic devices. This paper presents the causes and the phenomenon of latch-up by experiment and also a way using counter EMF diodes, noise filters and surge protective devices to prevent latch-up phenomenon from electronic circuit boards, finally confirms the effectiveness of the result by experiment.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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