1 |
David T. Crook, 'Analog In-Circuit Component Measurements: Problems and Solutions', Hewlett-Packard Journal, pp 34-42 march 1979
|
2 |
Jon Turino, 'Functional Testing's Place In Dlectronics Manufacturing', Evaluation Engineering, pp 58-61, September 1984
|
3 |
Reynold, 'In-Circuit McTesters ? or the Future of In-Circuit Test', Evaluation Engineering, pp 8-15, February 1987
|
4 |
John J. Arena, 'Calcuating the Effective Pattern Rate for High-Speed Board Test Applications', IEEE Trans. Industrial Electroics, Vol. 36, No.2, pp 164-174, May 1989
DOI
ScienceOn
|
5 |
Ed O. Schiotzhauer, 'User-Oriented Software for an Automatic Circuit-Board Tester', Hewlett-Packard Journal, pp 22-27, March 1979
|
6 |
고윤석, 최병근, '부품이 실장된 아날로그 회로보오드의 검사전략에 대한 연구', 대한전기학회 하계학술대회 논문집, pp.2196-2198, 2001
|
7 |
고윤석, 한길희외 '전기회로 보오드의 RLC 병렬회로 검사를 위한 위상검출회로 설계',대한전기학회 전기기기 및 에너지변환시스템학회 춘계학술대회 발표논문집, 2002 2002
|
8 |
Steve J Baker, 'Analog-Component Faults Yield to In-Circuit Testing', GenRad journal pp 15-20
|
9 |
Peter Hansen, 'Ensuring ASIC Testability at the Board Level Tools and Strategies', ATE & Instrumentation Conference, pp 33-43 1987
|
10 |
S. A. Cohen, 'Maintaining timing accuracy in high pin-count VLSI module test systems,' in Proc. 1987 Int. Test Conf., ppm 779-789
|
11 |
고윤석, 정경희, 인쇄회로기판의 자동복합 검사/진단 시스템 개발, 과학기술처 기술지도보고서, 1994
|
12 |
고윤석외 3인, '지능형 회로보오드 검사 시스템 설계', 대한전기학회 하계학술대회논문집, pp.660-662, 1998
|
13 |
고윤석, '생산라인에서 SSA 기법에 근거한 디지털 회로 보오드 검사기술', 대한전기학회 하계학술대회 발표논문집, pp. 2193-2195, 2001
|