• 제목/요약/키워드: 전자주사

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저진공 주사전자현미경의 개발

  • 설인호;박인용;안상정;김광일;강근원;조복래
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2015년도 제49회 하계 정기학술대회 초록집
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    • pp.94.2-94.2
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    • 2015
  • 주사전자현미경은 나노 크기의 재료 및 바이오 물질의 이미지를 관찰하는 가장 일반적인 분석 장비이다. 주사전자현미경을 이용한 시료 관찰은 주로 10-5 Torr 이하의 고진공에서 이루어진다. 부도체 재료는 전자빔에 의해 대전(charging)이 발생하여 이미지가 왜곡되며, 이를 방지하기 위해 금 등의 금속을 코팅한다. 한편 10-1 Torr 이상 압력의 저진공에서는 부도체 재료도 charging이 발생하지 않아 생물시료등의 부도체 표면을 코팅없이 관찰할 수 있다. 본 발표에서는 현재 개발중인 저진공 관찰 주사전자현미경의 차동배기구조를 보여준다. 또한 차동배기에 의해 가동 압력 10-1 Torr 이상의 시료실과 10-5 Torr이하의 전자총실의 진공 배기특성을 보고하며, 저진공에서의 주사전자현미경 이미지를 보여준다.

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CeB6 필라멘트를 탑재한 저진공 주사전자현미경의 개발

  • 설인호;배문섭;박인용;조복래
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2016년도 제50회 동계 정기학술대회 초록집
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    • pp.111.2-111.2
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    • 2016
  • 주사전자현미경은 시료표면에 전자빔을 주사하여 시료와 전자빔간의 상호작용으로 발생하는 이차전자(SE)와 후방산란전자(BSE)를 이용하여 시료표면을 관찰하는 장비이다. 일반적으로 텅스텐필라멘트를 사용하며, 10E-5 mbar이하 압력의 고진공에서 시료관찰이 이루어진다. 고진공 시료관찰시 도체 시료는 표면 코팅 없이 관찰이 가능하지만, 부도체 시료의 경우 전자빔에 의한 대전(Charging)현상이 발생하여 이미지가 왜곡되며, 이를 방지하기 위해 금, 백금 등의 금속을 표면에 코팅하여야 한다. 하지만 10E-1 mbar 이상 압력의 저진공에서는 부도체 시료도 전자빔에 의한 대전(Charging)현상이 발생하지 않아 생물시료 등의 부도체 시료를 표면코팅 없이 관찰할 수 있다. 본 발표에서는 현재 개발 중인 CeB6 필라멘트를 탑재한 저진공 주사전자현미경의 차동배기구조를 보여준다. 차동배기에 의해 가동 압력 10E-1 mbar이상의 저진공을 유지하는 시료실과 CeB6 필라멘트를 사용하기 위한 10E-6 mbar이하의 고진공을 유지하는 전자총실의 진공 배기특성을 보고한다.

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전자계산기 프로그램을 이용한 레이저 주사장치 (Laser Scanner Using Computer Generated Hologram)

  • 윤희철;이종창;신상영
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 1984년도 하계학술회의논문집
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    • pp.302-305
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    • 1984
  • 전자계산기 홀로그램을 이용한 Over-filled 주사장치를 구성하고 주사특성을 측정하였다. 그 결과 주사거리는 40cm 정도이고, $100{\mu}m$ 정도의 해상도를 가지며, 회전면의 흔들림에 대해서도 안정함을 보여 주었다.

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계층적 규칙을 이용한 사선 보간 기법을 갖는 3차원 순차 주사화 기법 (A Three-Dimensional De-Interlacing Algorithm Based on the Hierarchical Rule-Based Edge Direction Detection)

  • 한동일
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 2003년도 하계종합학술대회 논문집 Ⅳ
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    • pp.2080-2083
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    • 2003
  • 본 논문에서는 움직임이 존재하는 부분의 사선 방향 보간 성능을 개선하여 기존의 움직임 적응형 3 차원 순차 주사화 알고리즘 기법을 개선한 순차 주사화 방법을 제안하였다. 움직임 적응형 3 차원 순차 주사화를 위하여 밝기 형태 패턴(brightness profile pattern)을 이용하여 필드간의 움직임 정보를 좀 더 정확하게 추출할 수 있었으며 움직임이 있는 부분의 경우 에지의 방향 정보를 이용하여 사선 방향 보간을 수행함으로써 전체적인 순차 주사 변환 화질을 개선할 수 있었다. 제안된 알고리즘을 하드웨어로 구현하여 다양한 동영상에 대해서 성공적으로 적용됨을 확인하였다.

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전자현미경에 의한 확산 깊이 측정 (The Measurement of Junction Depth by Scanning Electron Microscopy)

  • 허창우
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2004년도 춘계종합학술대회
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    • pp.623-626
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    • 2004
  • 본 논문은 주사형 전자 현미경을 사용하여 간단한 형태의 반도체 소자뿐만 아니라 집적회로의 내부 P-N 접합 층의 깊이를 소자를 파괴하지 않고 패키지 상태 그대로 측정 할 수 있는 방법이다. 전자 현미경에서 주사되는 전자빔의 에너지에다 반도체 내에 여기 되는 전류를 측정하여 이 임계치에서 전자빔의 침투 범위를 산출하여 접합의 깊이를 측정한다. 실제 시판되고 있는 소자를 사용하여 SEM 의 전자 주사빔 에너지를 변화시키면서 외부의 전류 변화를 측정하였다. 소자 내부의 전자와 정공 생성율은 접합에서 더 많이 발생되므로 이를 고려하여 화산 깊이를 측정하였다. 이렇게 측정한 결과와 이후에 소자를 lapping 하여 파괴 측정한 측정치와 비교 한 결과 일치함을 알 수 있었다.

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특수 명령어를 지원하는 자동 경계 주사 생성기 구현에 관한 연구 (An Implementation of Automatic Boundary Scan Circuit Generator Supporting Private Instructions)

  • 박재흥;장훈
    • 대한전자공학회논문지SD
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    • 제41권11호
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    • pp.115-121
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    • 2004
  • 본 논문에서 구현한 GenJTAG은 웹기반 경계 주사 회로 자동 생성기이다. GenJTAG은 경계 주사 기법의 공개 명령어를 모두 지원하고 다른 테스트 용이화 기법을 위한 특수 명령어를 지원할 수 있는 경계 주사 회로를 생성하여 준다. 생성된 경계주사 회로는 행위 수준 verilog-HDL 코드로 기술되므로 요구 사항이 변경될 경우 사용자가 용이하게 수정할 수 있다. 특히, GenJTAG은 웹을 통하여 사용할 수 있으므로 누구나 쉽게 경계 주사 회로를 생성할 수 있는 이점이 있다.

전자빔을 이용한 미세형상 패턴성형용 S/W의 개발

  • 강재훈;송준엽;이승우;박화영
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2004년도 춘계학술대회 논문요약집
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    • pp.243-243
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    • 2004
  • 상용화된 주사식 전자현미경(SEM)을 기본 구조로 하는 가공 시스템을 구축하여 전자빔(Electron beam)을 이용한 초미세 패턴(Nano pattern) 등 형상의 직접 성형, 혹은 직접 묘화(Direct writing) 가공을 수행하기 위해서는 크게 분류하여 연속적으로 스캐닝되는 전자빔을 요구에 따라 적절하게 극히 짧은 시간 내에 개폐하는 빔 블랭커(Beam blanker)와 효율적으로 초미세 패턴 등의 형상을 설계ㆍ가공하기 위한 전용 S/W의 두 가지 요소가 반드시 적용되어야 한다.(중략)

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주사형 마이크로프로브 현미경과 나노테크놀로지 (Nanotechnology and scanning microprobe microscopy)

  • 장상목;;권영수
    • E2M - 전기 전자와 첨단 소재
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    • 제9권6호
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    • pp.616-625
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    • 1996
  • 본 고에서는 최첨단 주사형 마이크로프로브현미경의 최근동향에 대해 기술하고자 한다. SNOAM의 관찰분야에의 응용이라는 관점에서 광학소자, 반도체재료, 유기박막등의 미소영역에의 광학특성의 관찰이외에 생물분야에서는 형광표식한 시료의 형상상과 형광상의 대비에서 세포나 생체고분자의 기능 해명에도 이용 가능하다고 생각된다. 또한 광가공기술에의 응용이나 기억소자 기술에의 응용도 고려되어져 금후의 응용분야에의 발전이 기대된다. 다가오는 21세기 정보화사회에서는 분자.원자를 제어하는 기술이 중심기술이 될 것으로 확신되고 있다. 그러나 현재 우리주변 기술로서 분자. 원자를 단위로 하는 평가, 분석 기술은 거의 찾을 수 없다. 따라서 주사형 마이크로 프로브 현미경은 Nano-technology로서 장래 정보화사회에 중요한 평가.분석기술의 하나로서 정착될것으로 생각된다.

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주사 전자 현미경의 보정작업을 위한 메타 휴리스틱 알고리즘 (Meta Heuristic for Calibration of Scanning Electron Microscope)

  • 이상욱
    • 한국콘텐츠학회:학술대회논문집
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    • 한국콘텐츠학회 2011년도 춘계 종합학술대회 논문집
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    • pp.535-536
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    • 2011
  • 주사전자현미경은 시편의 표면형상을 수 nm의 정밀도로 관찰할 수 있는 측정 장비로, 과학 기술 및 산업 분야에서 널리 사용되고 있다. 이러한 주사현미경은 30여종 이상의 변수조합에 의해 운영되며, 정상적인 영상을 관찰하기 위해서는 변수를 최적화하는 보정작업을 필요로 한다. 본 논문에서는 이러한 보정작업을 용이하게 하기 위한 메타 휴리스틱 기법을 소개한다.

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MML 구조를 적용한 주사선 변환기 설계 (A design of scan line converter with MML architecture)

  • 한기웅;김민호;김송욱;김재원;정정화
    • 대한전자공학회:학술대회논문집
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    • 대한전자공학회 1998년도 하계종합학술대회논문집
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    • pp.855-858
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    • 1998
  • 본 연구에서는 MML(merged memory logic)구조를 갖는 스캔라인 컨버터를 설계하여 제안한다. 비월주사 방식인 TV 비디오 신호를 FIFO 메모리에 저장하여 순차주사방식인 VGA 비디오 시모호 변환하는 주사선 변환기를 MML 개념으로 설계하였다. MML 회로는 VHDL로 설계하여 V-system으로 시뮬레이션을 수행하고 altera FPGA에 구현한 후, TV 비디오 신호를 PC 모니터로 보기 위한 외장형 tV 수신 시스템에 적용하여 성능을 검증했다. MML 개념으로 설계된 컨버터는 system-on-a-chip 설계의 첫 단계로 메모리와 로직부분으로 구성된 일반적인 컨버터보다 효율적인 시스템 설계를 할 수 있다.

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