• 제목/요약/키워드: 저 에너지

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비육돈에서 사료의 에너지 수준과 도살체중이 성장성적과 도체의 등급 및 육질특성에 미치는 영향 (Effects of Dietary Energy Level and Slaughter Weight on Growth Performance and Grades and Quality Traits of the Carcass in Finishing Pigs)

  • 박만종;정진연;하덕민;한정철;심태건;박병철;박구부;주선태;이철영
    • Journal of Animal Science and Technology
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    • 제51권2호
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    • pp.143-154
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    • 2009
  • 생체중 $80.2\pm0.2$ kg의(Y $\times$ L) $\times$ D 교잡종 암퇘지와 거세돼지에게 "중에너지" 혹은 "저에너지" (3.2 vs 3.0 Mcal DE/kg) 사료를 급여하고 110, 125, 혹은 138 kg에 도축한 다음 이들 도체의 주요 부분육에 대한 이화학적 및 관능 품질 특성을 2(성) $\times$ 2 (사료) $\times$ 3 (도살체중) 요인분석 실험 설계 하에 본 실험을 수행하였다. 일당증체량과 일당사료 섭취량은 암퇘지에서보다 거세돼지에서 컸고(P<0.01), 110 kg 도살체중 구보다 125 및 138 kg 구가 컸다(P<0.01). 또한 일당증체량과 사료효율은 중에너지 구가 저에너지 구보다 컸던(P<0.01) 반면 일당사료섭취량은 저에너지 구가 중에너지 구보다 컸다(P<0.01). 등지방두께는 도살체중이 증가할수록 증가하였으나(P<0.01) 성 혹은 사료의 영향을 받지는 않았다. 도체의 지방침착도는 암퇘지와 저에너지 구가 각각 거세돼지와 중에너지 구보다 높았다(P<0.01). 육질등급은 저에너지 구가 중에너지 구보다 우수하였으나 도살체중의 영향은 받지 않은 반면 육량등급은 일차적으로 A와 B 등급에 요구되는 도체중 상한선 때문에 도살체중 125 kg과 138 kg 사이 급격히 저하되었다. 삼겹살, 뒷다리 및 등심의 pH, 육즙참출율 및 색깔관련 변수 등을 포함한 이화학적 특성에 있어서는 비록 몇몇 경우에는 통계적인 유의성이 발견되기는 하였으나 품질적인 척도에 있어서는 어느 처리요인의 영향도 받지 않았다. 관능평가에서 삼겹살 신선육의 기호도는 어느 처리 요인에 의해서도 영향 받지 않았다. 뒷다리 신선육의 상강도는 중에너지 대비 저에너지 구에서 높았고(P<0.01) 도살체중 110 kg과 125 kg 사이 증가하는 경향을 보였으며(P=0.10), 등심에서는 이들 두 도살체중 사이 본 변수의 증가는 유의성이 있었다(P<0.01). 가열육에서는 삼겹살과 뒷다리의 기호도에서 저에너지 구가 중에너지 구보다 우수하였으나 도살체중은 세 부위 모두에서 본 연구에서 평가된 모든 관능품질 특성에 영향을 미치지 않았다. 결론적으로 이상의 결과는 도체의 품질을 저하시키지 않고 도살체중을 138 kg 까지 높일 수 있고, 저에너지 사료는 도체 및 주요 부분육 품질에 다소간의 유익한 효과가 있음을 시사한다.

고에너지 수준의 사료급여가 돈육 품질에 미치는 영향 (Effects of High Energy Density Diet on Pork Quality)

  • 이제룡;하승호;도창희;이중동;하영주;정재두;이진우;이정일;이진희
    • 한국축산식품학회지
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    • 제24권3호
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    • pp.209-215
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    • 2004
  • 본 시험은 고에너지 수준의 사료를 급여한 돼지의 사양성적, 돈육의 도체 특성, 일반성분, 이화학적 특성 및 지방산 조성에 미치는 영향을 조사하기 위해 실시하였다. 80$\pm$3 kg의 삼원교잡종 120두를 공시하여 비육돈 사료 변화의 영양소 수준에 따라 저에너지 DE 3,290 kcal/kg, CP 14.5%, Lysine 0.70%, Ca 0.78로 배합한 사료를 38일간 급여하였고, 고에너지 DE 3,350 kcal/kg, CP 15.0%, Lysine 0.10%, Ca 0.78%로 배합한 사료를 27일간 급여하였다. 저에너지와 고에너지 사료를 급여한 돼지의 종료체중이 101 kg내외에 도달했을 때 도축하여 시험에 공시하였다. 고에너지 사료를 급여한 돼지가 일당 증체량이 높았고, 사료섭취량과 사료요구율은 낮았다(p<0.05). 도체특성과 일반성분은 차이를 보이지 않았다 이화학적 특성 중 고에너지 사료를 급여한 돈육의 가열 감량과 황색도는 저에너지 사료를 급여한 돈육에 비해 현저히 높게 나타내었다(p<0.05). 지방산 조성에서는 저에너지와 고예너지 사료를 급여한 돈육에서 차이를 보이지 않았다. 이상에서 고에너지 사료를 27일간 급여한 돼지는 저에너지 사료를 38일간 급여한 돼지에 비해 성장률이 향상되었고, 돼지의 도체 특성, 물리적 특성 및 지방산 조성에는 미치지 않았지만 돈육의 가열 감량과 황색도가 높았다.

저전력을 소모하는 난수발생기의 성능 평가 (Energy-Efficiency Evaluation of Low-Power Random Number Generators)

  • 윤정민;김지홍;김진효
    • 응용통계연구
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    • 제16권2호
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    • pp.427-440
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    • 2003
  • 휴대전화, PDA와 같은 이동 단말기와 무선 통신의 발전으로 인하여, 이동 단말기를 이용한 전자 메일, 게임, 주식거래 등이 가능하게 되었다. 무선 단말기를 통한 주식거래나 게임 등을 위하여서는 난수발생기(Random Number Generator)의 사용이 필수적이다. 그런데 최근까지의 난수발생기는 우수한 난수성에 중점을 두어 개발되었으며, 이동 단말기에서의 에너지 소비량에 대한 연구는 없었다. 이동 단말기는 무게 및 크기의 한계 때문에 배터리의 용량에 제한이 있게되므로, 되도록 에너지 소비량을 줄여서 주어진 배터리를 오랫 동안 사용하기를 원하게 된다. 본 논문에서는 이동 단말기에서 많이 사용되는 여러 난수발생기들을 살펴보고, 저전력 에너지 측정도구인 SES(SNU Energy Scanner)를 이용하여 각 난수발생기의 에너지 소비량을 측정하여 이들을 비교한다. 이를 바탕으로 이동 단말기 환경에서 저전력을 소모하는 난수발생기를 제안하였다.

$Cs^+$이온 반응성 산란에 의한 Si(111)-7$\times$7 표면에서의 산소 흡착 연구

  • 김기여;강헌
    • 한국진공학회:학술대회논문집
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    • 한국진공학회 2000년도 제18회 학술발표회 논문개요집
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    • pp.153-153
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    • 2000
  • Si 산화는 반도체 공정상 필요한 과정으로 산업적으로나 학문적으로 중요하고 많이 연구되었다. 이중에서 Si(1110-7x7표면에서 초기 흡착된 산소는 준안정적 상태로 존재하며 표면온도, 산소의 노출량 그리고 진공도에 따라 그 수명이 제한된다. 이러한 준안정적 상태의 산소의 화학적 성질은 여러 표면분석장비가 동원되어 연구되었으나 아직까지 논쟁이 되고 있다. 이 경우 산소가 어떤 상태로 존재하는가는 표면화학종을 검출함으로서 해결될 수 있다. 저에너지 Cs+ 이온 반응성 산란은 이러한 요구를 충족시킬수 있는 가장 적합한 실험 방법중의 하나이다. 저에너지 Cs+ 이온 산란의 특징 중의 하나는 입사된 Cs+ 이온이 표면에 흡착된 화학종과 충돌후 탈착되면서 반응을 하여 송이 이온을 형성한다는 것이다. 이 송이 이온을 관측함으로서 표면에 존재하는 화학종을 알아 낼 수 있다. 이에 산소가 흡착된 Si(111)-7x7 표면에서의 산소의 준안정적 상태가 저에너지 Cs+ 이온 산란 실험을 통하여 연구되었다. 실험은 0.2-2L(1Langmuir = 10-6 Torr x 1 sec) 산소 노출량과 -15$0^{\circ}C$ - $25^{\circ}C$의 표면온도 그리고 5eV - 20eV의 Cs+ 이온 충돌에너지에서 CsSiO+ 이온이 유일한 생산물로서 검출되었다. CsSiO+ 이온은 입사된 Cs+ 이온과 표면에 존재하는 SiO 분자가 충돌 후 반응하여 탈착된 것으로 생각된다. 이것은 낮은 산소 노출량 즉, 초기 산화 단계에서 SiO가 표면에 존재한다는 것을 의미한다. 즉, 산소 분자는 산화단계의 초기에 해리되어 표면에 흡착되고 선구물질인 SiO를 형성함을 제시한다. 최근의 이론적 계산인 density functional calculation에서도 산소분자가 Si(111)-7$\times$7 표면의 준안정적 산화상태의 선구물질일 가능성을 배제한다. 이는 본 저에너지 Cs+ 이온 반응성 산란실험을 뒷받침하는 계산 결과이다. 높은 Cs+ 이온 충돌에너지에서 CsSi+, Si+, SiO+, Si2+, Si2O+ 등이 추가로 검출되었다. 이는 CsSi 이온을 제외하고 수 keV의 충돌에너지를 사용하는 이차 이온 질량 분석법과 비슷한 결과이다.

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TFT-LCD용 TFT기판에서 저에너지 전자빔을 이용한 전기적 결함 검출 메카니즘 분석 (Analysis of the Electrical Defect Detection Mechanism using a Low Energy Electron Beam on the TFT Substrate for TFT-LCDs)

  • 오태식;김호섭;김대욱;안승준;이건희
    • 한국산학기술학회논문지
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    • 제12권4호
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    • pp.1803-1811
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    • 2011
  • TFT-LCD용 TFT기판 상에서 저에너지 마이크로 컬럼을 이용하는 전기적인 결함 검출 메카니즘을 분석하였다. 본 연구에서는 고진공 챔버 내에서 7인치 TFT 기판에 저에너지 전자빔을 주사하여 여러 가지 불량 화소에 대한 SEM 이미지를 획득하였다. 더불어 각각의 불량 화소에서 나타나는 현상과 전기적인 거동과의 연관성을 분석하여 검출 메카니즘을 해석하였다. 그 결과로서 저에너지 초소형 전자 컬럼을 이용하는 저에너지 전자빔에 의한 SEM 이미지는 전자간 반발효과에 크게 영향을 받는 일관성 있는 결과를 확인하였다.

Pulsed-PECVD를 이용한 SiN 박막의 $SiH_4-NH_3$에서의 상온 증착: Duty rntio의 이온에너지와 굴절률에의 영향 (SiN film deposition using by a Pulsed-PECVD at room-temperature : Effect of Duty ratio on Ion energy and Refractive index)

  • 김수연;김병환
    • 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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    • 한국전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회 논문집
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    • pp.221-222
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    • 2009
  • SiN 박막을 Pulsed-PECVD를 이용하여 증착하였다. 박막특성으로는 굴절률, 플라즈마의 특성으로는 이온 에너지 분포를 duty ratio의 함수로 분석하였다. 50-100%의 범위에서 duty ratio의 감소에 따라 고 이온 에너지는 크게 증가하였으며, 반대로 저 이온 에너지는 감소되었다. 굴절률은 duty ratio의 감소에 따라 증가되었으며, 모든 duty ratio의 변화에서 1.75-1.81 사이에서 변화하였다. 40-90%의 duty ratio에서 저 이온 에너지 플럭스보다 고 이온 에너지 플럭스가 높았다. 한편, 굴절률의 변화는 $N_h$의 변화에 가장 밀접하게 연관되어 있음을 확인할 수 있었다.

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ESCO Issue 2 - 성과보증계약을 통한 에너지 절약 사업 진행

  • 에너지절약전문기업협회
    • ESCO지
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    • 통권68호
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    • pp.36-37
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    • 2011
  • 에너지절약전문기업 지멘스(주)는 2010년 12월 천안시청 건물 에너지 합리화 사업을 수주하였다. 이번 사업은 '성과보증계약 방식'의 에너지 절약 사업으로 1) 최근 공공기관의 ESCO추진 의무화와 2) 에너지 절감효과를 ESCO시행업체가 책임지는 '성과보증계약' 확산의 취지에 발맞춰 정부의 저 탄소 녹색 성장에 부응하는 사업으로 평가되고 있다.

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New Member - 미래에너지 산업의 리더 - (주)삼천리ES -

  • 에너지절약전문기업협회
    • ESCO지
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    • 통권62호
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    • pp.48-49
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    • 2010
  • 우리나라 전체 에너지의 95% 이상을 수입에 의존하고 있고, 극심한 동고하저 형태의 계절간 에너지 수급 불균형이라는 문제점을 가지고 있다. 삼천리ES는 이러한 에너지 문제 해소에 기여하면서 고객에게 도시가스를 이용한 기술로 창출되는 다양한 부가가치를 제공하고, 이와 더불어 회사가 함께 성장하는 기업이 되기 위해 노력하고 있다.

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엑스선에 의한 반도체 소자의 방사선 손상 (Radiation Damage of Semiconductor Device by X-ray)

  • 김동성;홍현승;박혜민;김정호;주관식
    • Journal of Radiation Protection and Research
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    • 제40권2호
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    • pp.110-117
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    • 2015
  • 최근 방사선을 이용한 반도체 검사장비 산업의 증가로 이에 대한 기술 연구 수요 또한 증가하고 있다. 반도체 검사장비는 저에너지 엑스선으로 최저 40 keV에서 최고 120 keV의 에너지 영역을 사용하고 있지만, 국내에서는 저에너지 엑스선이 주는 방사선 손상 연구가 미흡한 상황이다. 따라서 본 연구는 저에너지 엑스선을 이용하여 반도체 소자의 한 종류인 BJT (bipolor junction transistor)가 받는 방사선 손상에 관한 것이다. BJT는 NXP반도체사의 BC817-25(NPN type)를 사용하였으며, 엑스선 발생장치를 사용하여 엑스선을 조사하였다. BJT의 방사선 손상 여부는 엑스선 조사 전과 후에 전류 이득을 10으로 고정하고, 콜렉터 전류에 따른 콜렉터-이미터 전압을 측정하여 변화 정도를 분석하여 확인하였다. 엑스선 발생장치의 관전압은 40 kVp, 60 kVp, 80 kVp, 100 kVp, 120 kVp 등 다섯 가지로, 조사 시간은 60초, 120초, 180초, 360초, 540초 등 다섯 가지로 변수를 두었다. 실험 결과 BJT에서 저에너지 엑스선 즉, 120 keV 이하의 엑스선을 조사하여도 방사선 손상이 발생하는 것을 확인하였고, 특히 80 kVp에서 가장 큰 방사선 손상이 발생되었다. 이는 ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity) 현상이 80 kVp을 기준으로 발생되는 것으로 판단된다. 본 연구의 결과는 저에너지 엑스선을 이용한 반도체 검사장비의 효율적인 선량관리와 엑스선 여과기의 연구 및 개발에 기여할 것으로 기대한다.