• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2000.10a
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• pp.427-429
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• 2000

멜티미디어 표준인 MPEG-2 TS 형태의 테스트 데이터를 자동 생성하는 도구인 TDGT(Test Data Generation Tool)를 설계하고 구현하였다. TDGT는 테스터로부터 기본적인 입력사항을 받아들이고 이를 기반으로 테스트 데이터를 자동 생성한 후 결과물로 테스트 데이터 스크립트 파일과 테스트 데이터 시나리오 파일, 테스트 데이터 커버리지 분석 결과를 테스터에게 제공한다. TDGT는 복잡하고 방대한 테스트 데이터를 생성하는데 요구되는 노력, 시간을 상당히 줄여주며 전문적인 지식이 없는 이도 쉽게 테스트 데이터를 생성할 수 있게 한다. 본 논문은 TDGT가 테스트 데이터를 자동 생성하는 구조와 TDGT의 분석을 제시하였으며 이 시스템의 prototype을 기술한다.

• Journal of Internet Computing and Services
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• v.9 no.2
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• pp.89-105
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• 2008

So far, most of research on automated test data generation(ATDG) deals with programs without pointers. Recently, few works hove been done on ATDG in the presence of pointers, but they ore path-oriented techniques which require the specification of on entire program path to be tested or a program to be executed. This paper presents a new technique for generating test data even without specifying a program path completely. The presented technique is a static technique which transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for ATDG. For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2001.10a
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• pp.460-462
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• 2001

테스트 데이터의 자동 생성은 소프트웨어 테스팅에서 가장 중요하면서도 어려운 부분이다. 대부분의 데스트 데이터 자동생성에 관한 연구는 명세로부터 테스트 데이터를 자동 생성하는 방식이며 이틀 위해 정확한 정형적 명세를 필요로 한다. 본 논문에서 는 프로그램을 실 행하지 않고 프로그램의 동적인 특성을 분석할 수 있는 요약 해석(abstract interpretation) 방법과 선후 지배 관계(pre-, postdominance relationship)를 이용하여 프로그램 코드로부터 직접 테스트 데이터를 자동 생성할 수 있는 방법 을 제안한다.

• The KIPS Transactions:PartD
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• v.14D no.2
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• pp.191-202
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• 2007

In general, test data generation techniques require the specification of an entire program path for automated test data generation. This paper presents a new way for generating test data automatically een without specifying a program path completely. For the ends, this paper presents a technique for transforming a program under test into Alloy which is the first order relational logic and then producing test data via Alloy analyzer. The proposed method reduces the burden of selecting a program path and also makes it easy to generate test data according to various test adequacy criteria. This paper illustrates the proposed method through simple, but illustrative examples.

• The KIPS Transactions:PartD
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• v.16D no.3
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• pp.371-380
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• 2009

Recently, lots of research on automated test data generation has been actively done. However, techniques for automated test data generation presented so far have been proved ineffective for programs with flag variables. It can present problems when considering embedded systems such as engine controllers that make extensive use of flag variables to record state information concerning devices. This paper introduces a technique for generating test data effectively for programs with flag variables. The presented technique transforms the test data generation problem into a SAT(SATisfiability) problem and makes advantage of SAT solvers for automated test data generation(ATDG). For the ends, we transform a program under test into Alloy which is the first-order relational logic and then produce test data via Alloy analyzer.

• Journal of KIISE
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• v.44 no.2
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• pp.171-178
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• 2017

In this study, we propose an automated unit test generation technique for detecting vulnerabilities of Android kernel modules. The technique automatically generates unit test drivers/stubs and unit test inputs for each function of Android kernel modules by utilizing dynamic symbolic execution. To reduce false alarms caused by function pointers and missing pre-conditions of automated unit test generation technique, we develop false alarm reduction techniques that match function pointers by utilizing static analysis and generate pre-conditions by utilizing def-use analysis. We showed that the proposed technique could detect all existing vulnerabilities in the three modules of Android kernel 3.4. Also, the false alarm reduction techniques removed 44.9% of false alarms on average.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2005.11b
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• pp.388-390
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• 2005

본 연구는 컴포넌트로 구성된 일반 아키텍처 모델에서 개별 컴포넌트의 기능성을 컴포넌트 개발 시에 확인할 수 있도록 유닛 테스트 기반의 테스트 드라이버 코드를 자동으로 생성하는 장치 및 방법에 관한 것이다. 즉, 본 연구는 아키텍처 모델에서 컴포넌트의 인터페이스에 대해서 아키텍처 설계자가 인터페이스에 대한 예상 기대값, 컴포넌트의 상태 정보, 특정 시점에서의 인터페이스의 입력정보들을 입력하면 이 정보를 이용하여 테스트를 수행하기 전에 컴포넌트의 상대를 설정하는 테스트 준비 코드와 테스트를 수행한 후에 발생하는 결과값과 예상 기대값을 비교하여 확인하게 하는 테스트 악인 코드를 포함하는 테스트 드라이버 코드를 자동으로 생성한다. 본 연구에 의하면, 아키텍처 설계 단계에서 아키텍처 설계자가 컴포넌트 개발자에게 테스트 드라이버 코드를 제공하게 함으로써 아키텍처 설계에서 요구하는 컴포넌트의 기능이 개별 컴포넌트 별로 제대로 개발되는지 개발시에 자동으로 검증하게 할 수 있다.

• Journal of KIISE:Computing Practices and Letters
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• v.8 no.3
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• pp.268-276
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• 2002

In this paper we suggest a method to produce automatically teat data using UML development diagrams, and analytically describe the application of a tool, Automatic UML-based Test Data Generation (AUTEG) developed using XML technology, to the examples of insurance system. Our AUTEG automatically generates test diagrams that enable to detect errors existing at the interface area between modules composing the whole system, along with test data by applying the existing white-box test technique to the test diagram. Our AUTEG can be applied to the integration test as well as the system test and using the tool, users may make the unit modules of the integration test into several groups.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2012.04a
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• pp.1235-1238
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• 2012

오늘날 소프트웨어가 가지는 규모와 복잡성은 날로 심화되고 있으며, 소프트웨어 개발 시 결함을 찾아 내기 위한 테스트에 많은 시간이 소모되고 있는 실정이다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 중요한 기술 중 하나가 결함 위치 추적(Fault Localization)이다. 이 기법을 이용하여 결함을 추적하기 위해서는 다량의 테스트 케이스를 필요로 하며, 추가로 테스트 케이스를 작성하는 것은 또 다른 개발 부하이다. 본 논문에서는 이를 해결하기 위해서 분기별 입력 조합 기반 테스트 케이스 생성방법과 시드 결과 기반 테스트 케이스 생성방법을 제안하였다. 개발자는 본 생성방법을 통해 테스트 케이스 생성에 대한 비용 절감을 기대 할 수 있다. 제안하는 내용의 효용성을 검증하기 위해 실제 예제 코드에 적용하여 평가하였다. 두 가지 방법 모두 무작위 생성한 테스트 케이스에 비해 개발자가 직접 생성하는 것과 유사한 테스트 케이스를 생성하고, 제안 방법으로 생성한 테스트 케이스의 신뢰성을 확인하였다.

• The KIPS Transactions:PartD
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• v.8D no.1
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• pp.81-86
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• 2001

one key goal of software testing is to generate a 'good' test data set, which is consideres as the most difficult and time-consuming task. This paper discusses how genetic algorithns can be used for automatic generation of test data set for software testing. We employ mutation testing to show the effectiveness of genetic algorithms (GAs) in automatic test data generation. The approach presented in this paper is different from other in that test generation process requireas no lnowledge of implementation details of a program under test. In addition, we have conducted some experiments and compared our approach with random testing which is also regarded as a black-box test generation technique to show its effectiveness.