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Test Case Automatic Generation for Fault Localization

결함 위치 추적을 위한 테스트 케이스 자동 생성 기법

  • Park, Changyong (Dept of Computer Electrical and Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Kim, Junhee (Dept of IT Convergence, Sungkyunkwan University) ;
  • Ryu, Sungtae (Dept of IT Convergence, Sungkyunkwan University) ;
  • Youn, Hyunsang (Dept of Computer Electrical and Engineering, Sungkyunkwan University) ;
  • Lee, Eunseok (Dept of Computer Electrical and Engineering, Sungkyunkwan University)
  • 박창용 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 김준희 (성균관대학교 IT융합학과) ;
  • 류성태 (성균관대학교 IT융합학과) ;
  • 윤현상 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과) ;
  • 이은석 (성균관대학교 전자전기컴퓨터공학과)
  • Published : 2012.04.26

Abstract

오늘날 소프트웨어가 가지는 규모와 복잡성은 날로 심화되고 있으며, 소프트웨어 개발 시 결함을 찾아 내기 위한 테스트에 많은 시간이 소모되고 있는 실정이다. 이러한 문제점을 해결하기 위해 중요한 기술 중 하나가 결함 위치 추적(Fault Localization)이다. 이 기법을 이용하여 결함을 추적하기 위해서는 다량의 테스트 케이스를 필요로 하며, 추가로 테스트 케이스를 작성하는 것은 또 다른 개발 부하이다. 본 논문에서는 이를 해결하기 위해서 분기별 입력 조합 기반 테스트 케이스 생성방법과 시드 결과 기반 테스트 케이스 생성방법을 제안하였다. 개발자는 본 생성방법을 통해 테스트 케이스 생성에 대한 비용 절감을 기대 할 수 있다. 제안하는 내용의 효용성을 검증하기 위해 실제 예제 코드에 적용하여 평가하였다. 두 가지 방법 모두 무작위 생성한 테스트 케이스에 비해 개발자가 직접 생성하는 것과 유사한 테스트 케이스를 생성하고, 제안 방법으로 생성한 테스트 케이스의 신뢰성을 확인하였다.

Keywords