• Title/Summary/Keyword: 소오스

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Routing for Location Privacy in the Presence of Dormant Sources (휴면 소오스들이 존재하는 환경에서의 위치 보호 라우팅)

  • Yang, G.;Shin, S.;Kim, D.;Park, S.;Lim, H.;Tscha, Y.
    • Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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    • 2008.06a
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    • pp.164-165
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    • 2008
  • 전장에서 임무 수행중인 병력이나 탱크 등을 지원하거나 보호 동물의 활동을 모니터링 하는 센서 네트워크에서는 전송 정보뿐만 아니라 그러한 대상들의 위치를 악의적 추적자로부터 보호할 수 있어야 한다. 본 논문에서는 활동 소오스 노드처럼 메시지 전송은 진행하고 있지 않지만 위치가 보호되어야 할 대상과 근접한 휴면(dormant) 소오스 노드들을 고려한 소오스 위치 보호 라우팅 기법 GSLP(GPSR-based Source-Location Privacy)를 제안한다. GSLP는 알고리즘의 간결성과 신장성(scalability)이 뛰어난 GPSR(greedy perimeter stateless routing)을 확장하여 메시지 전달 노드를 선정할 때 일정 확률로 임의의 이웃 노드를 선택하는 한편, perimeter 라우팅을 적용하여 소오스 노드들을 우회하도록 하여 위치를 보호하도록 하였다. 시뮬레이션 결과, 기존의 대표적인 소오스 위치 보호 라우팅 프로토콜인 PR-SP(Phantom Routing-Single Path)에 비해 GSLP는 휴면 소오스 노드들의 수에 거의 관계없이 높은 안전 기간(전송 메시지 수)을 일정하게 제공하면서도 전달 지연(경로의 평균 홉(hop) 수)은 도착지와의 최단 홉 수의 약 두 배 이내에 머물러 대규모 센서 네트워크에서의 소오스의 위치를 보호하기 위한 방안으로 적합한 것으로 평가되었다.

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The Elimination of ion Implantation Damage at the Source/Drain Junction of Poly-Si TFTs (이온주입에 의한 소오스/드레인 접합부 결함을 제거한 다결정 실리콘 박막 트렌지스터)

  • Kang, Su-Hyuk;Jung, Sang-Hoon;Lee, Min-Cheol;Park, Kee-Chan;Han, Min-Koo
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2002.07c
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    • pp.1410-1412
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    • 2002
  • TFT의 게이트 전극을 형성하기 전에 소오스/드레인 이온 주입과 ELA를 수행함으로써 이온 주입에 의해 발생하는 결정 결함을 줄이는 새로운 poly-Si TFT를 제안한다. 한번의 ELA 공정을 통해서 채널 실리콘 박막의 결정화와 소오스/드레인의 불순물 활성화를 동시에 이루어 접합부의 결함을 치유하였고, 이온 주입에 의해서 비정질화된 소오스/드레인 실리콘과 채널 비정질 실리콘의 용융조건 차이를 이용하여 소오스/드레인 접합부에 실리콘 그레인의 수평성장을 유도하였다. 제안된 소자는 기존의 소자(이동도 : 86 $cm^2/V{\cdot}S$, ON/OFF 전류비 $6.1{\times}10^6$)에 비해 우수한 특성(이동도 : 171 $cm^2/V{\cdot}S$, ON/OFF 전류비 $4.1{\times}10^7$)을 나타내었다. LDD나 off-set 구조 없이도 소오스/드레인 접합부의 결함이 완전히 제거되어 누설전류가 감소하였고 소오스/드레인 접합부 결함이 있던 자리에 1 ${\mu}m$ 이상의 수평성장 그레인이 위치함으로써 ON 전류도 증가하여 ON/OFF 전류비가 크게 개선되었다.

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Effects of Source and Load Impedance on the Linearity of GaAs MESFET (GaAs MESFET의 소오스 및 부하 임피던스가 선형성에 미치는 영향)

  • 안광호;이승학;정윤하
    • The Journal of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science
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    • v.10 no.5
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    • pp.663-671
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    • 1999
  • The linearity of the GaAs FET power amplifier(PA) is greatly influenced by source and load impedance for the FETs. The third order intermodulation products, IM3, from the GaAs FET PA are investigated in relation with source and load impedance. From heuristic as well as analytic point of view, e.g., Volterra series analysis, is employed to analyze the effects of nonlinear circuit elements, gate-source capacitance, $C_{gs}$, and drain-source current, $I_{ds}$. The sweet spots where soure and load impedance produce the least intermodulation products are calculated and compared with the load and source pull data with good agreements. It also shows that source impedance has a greater effect on the intermodulation products than the load impedcnce.

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Optimal Wiresizing of nets with Multiple Sources (다중 소오스를 가진 네트의 최적 배선에 관한 연구)

  • 김현기
    • Proceedings of the Korea Society for Simulation Conference
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    • 1998.10a
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    • pp.86-89
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    • 1998
  • 본 논문은 발표된 Elmore 지연 모델에 속하는 다중 소오스를 가진 네트의 최적화 배선 크기 문제를 연구했다. 소오스 서브트리(SST)에 있는 네트와 로딩 서브트리의 세트(LSTs)로 분석한다. 그리고 LST 분리성, LST 단순한 특성, SST 국부적으로 단순한 특성과 일반적으로 우월한 특성을 포함하는 특성의 수를 만족하는 최적 배선 크기 해를 보여준다. 더구나 모든 이전의 연구와 번들로 개선된 특성의 안정된 것보다도 다양한 에지 분할을 사용해 최적의 배선크기 문제를 연구하였으며 이들 특성은 최적의 해를 계산하는데 효과적인 알고리즘을 유도한다.

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Reduced Cell Pitch of Vertical Power MOSFET By Forming Source on the Trench Sidewall (트렌치 측벽에 소오스를 형성하여 셀 피치를 줄인 수직형 전력 모오스 트렌지스터)

  • Park, Il-Yong
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2003.07c
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    • pp.1550-1552
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    • 2003
  • 고밀도의 트렌치 전력 MOSFET를 제작하는 데 있어서 새로운 소자의 구조와 공정을 제시하고 이차원 소자 및 공정 시뮬레이터를 이용하여 검증했다. 트렌치 게이트 MOSFET의 온-저항을 낮추기 위해 셀 피치가 서브-마이크론으로 발전할 경우 문제가 되는 소오스 영역을 확보하고자 p-base의 음 접촉을 위한 P+ 영역과 N+ 소오스 등이 트렌치의 측벽에 형성되고, 트렌치 게이트는 그 아래에 매몰된 구조를 제안했다. 시뮬레이션 결과는 항복전압이 45 V이고, 온-저항이 12.9m${\Omega}{\cdot}mm^2$로 향상된 trade-off 특성을 보였다.

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Junction Defects of Self-Aligned, Excimer Laser Annealed Poly-Si TFTs (엑시머 레이저광의 회절에 의한 저온 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 소오스/드레인 접합부 결함 생성)

  • Kang, Su-Hyuk;Park, Kee-Chan;Lee, Min-Cheol;Han, Min-Koo
    • Proceedings of the KIEE Conference
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    • 2002.11a
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    • pp.130-133
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    • 2002
  • 엑시머 레이저를 이용한 저온($450^{\circ}C$ 이하) 다결정 실리콘 박막 트랜지스터 제작 시, 소오스/드레인 이온 주입에 의한 실리콘 박막의 격자 손상은 엑시머 레이저 어닐링(Excimer Laser Annealing; ELA) 방법으로 치유한다. 그러나 게이트 전극 모서리에서의 레이저광 회절 현상으로 인해 소오스/드레인 접합부에 도달하는 레이저 에너지 밀도가 감소하여 다량의 결정 결함이 치유되지 못한 채 남게 된다. 이러한 결정 결함은 박막 트랜지스터의 전계 효과 이동도를 저하시키는 요인이 된다. 새롭게 제안한 사선 입사 엑시머 레이저 어닐링(Oblique Incidence Excimer Laser Annealing; OI-ELA) 방법으로 소오스/드레인 접합부의 결정 결함을 제거하고 다결정 박막 트랜지스터의 특성을 향상시켰다.

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Location Privacy Enhanced Routing for Sensor Networks in the Presence of Dormant Sources (휴면 소오스들이 존재하는 환경의 센서 네트워크를 위한 위치 보호 강화 라우팅)

  • Yang, Gi-Won;Lim, Hwa-Jung;Tscha, Yeong-Hwan
    • Journal of KIISE:Information Networking
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    • v.36 no.1
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    • pp.12-23
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    • 2009
  • Sensor networks deployed in battlefields to support military operations or deployed in natural habitats to monitor the rare wildlifes must take account of protection of the location of valuable assets(i.e., soldiers or wildlifes) from an adversary or malicious tracing as well as the security of messages in transit. In this paper we propose a routing protocol GSLP(GPSR-based Source-Location Privacy) that is capable of enhancing the location privacy of an active source node(i.e., message-originating node) in the presence of multiple dormant sources(i.e., nodes lying nearby an asset whose location needs to be secured). Extended is a simple, yet scalable, routing scheme GPSR(greedy perimeter stateless routing) to select randomly a next-hop node with a certain probability for randomizing paths and to perform perimeter routing for detouring dormant sources so that the privacy strength of the active source, defined as safety period, keeps enhanced. The simulation results obtained by increasing the number of dormant sources up to 1.0% of the total number of nodes show that GSLP yields increased and nearly invariant safety periods, while those of PR-SP(Phantom Routing, Single Path), a notable existing protocol for source-location privacy, rapidly drop off as the number of dormant sources increases. It turns out that delivery latencies of GSLP are roughly less than two-fold of the shortest path length between the active source and the destination.

저온 열처리를 통한 Self-Aligned 비휘발성 메모리 특성 향상

  • Kim, Ji-Ung;Choe, U-Jin;Jo, Jae-Hyeon;Lee, Yeong-Seok;Park, Jin-Ju;Lee, Jun-Sin
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.08a
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    • pp.258-258
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    • 2012
  • 플렉시블 디스플레이를 위해 저온 공정은 필수적이며, 이를 위해 플라스틱 기판을 이용한 연구가 한창 진행 중이다. 이번 연구에서는 도핑처리 하지않고 알루미늄을 이용한 self-aligned 소오스-드레인 구조의 비휘발성 메모리를 ELA 폴리실리콘 기판 상에 제작하였다. 소오스-드레인 부분은 lift-off 공정을 이용하여 pattern 작업을 진행하였다. $250^{\circ}C$에서 1시간의 후속 열처리 공정을 진행한 self-aligned 소오스-드레인 구조의 비휘발성 메모리는 후속 열처리 공정을 진행하지 않았을 때와 비교하여 다음과 같은 메모리의 특성향상을 나타내었다. 메모리 윈도우 특성의 경우 1.15 V에서 3.47 V의 커다란 증가를 보였으며 retention 특성의 경우 12%에서 46%로 증가하였다. 이를 통해 비록 도핑 되지 않은 비휘발성 메모리 소자일지라도 self-aligned 구조와 저온 열처리를 이용할 시 향후 플렉시블 전자소자에의 적용이 가능함을 확인하였다.

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a-Si:H TFT Using Self Alignement Technology (자기 정렬 방법을 이용한 박막트랜지스터)

  • 허창우
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2004.05b
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    • pp.627-629
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    • 2004
  • 본 연구는 자기정렬 방법을 기존의 방식과 다르게 적용하여 수소화 된 비정질 실리콘 박막 트랜지스터의 제조공정을 단순화하고, 박막 트랜지스터의 게이트와 소오스-드레인간의 기생용량을 줄인다. 본 연구의 수소화 된 비정질 실리콘 박막 트랜지스터는 Inverted Staggered 형태로 게이트 전극이 하부에 있다 실험 방법은 게이트전극, 절연층, 전도층, 에치스토퍼 및 포토레지스터층을 연속 증착한다. 스토퍼층을 게이트 전극의 패턴으로 남기고, 그 위에 n+a-Si:H 층 및 NPR(Negative Photo Resister)을 형성시킨다. 상부 게이트 전극과 반대의 패턴으로 NPR층을 패터닝하여 그것을 마스크로 상부 n+a-Si:H 층을 식각하고, 남아있는 NPR층을 제거한다. 그 위에 Cr층을 증착한 후 패터닝 하여 소오스-드레인 전극을 위한 Cr층을 형성시켜 박막 트랜지스터를 제조한다. 이렇게 제조하면 기존의 박막 트랜지스터에 비하여 특성은 같고, 제조공정은 줄어들며, 또한 게이트와 소오스-드레인간의 기생용량이 줄어들어 동작속도를 개선시킬 수 있다.

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The study on memory device using amorphous transistor (박막트랜지스터를 이용한 메모리소자에 대한 연구)

  • Hur, Chang-wu
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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    • 2009.05a
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    • pp.693-696
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    • 2009
  • 본 연구는 비정질실리콘 박막트랜지스터를 비휘발성 메모리소자로 제작함으로써 스위칭 소자로 사용되는 박막트랜지스터(TFT)의 응용범위를 확대시키고, 비정질 실리콘 사용에 따라 대면적화에 적합하고 아울러 값싼 기판을 사용할 수 있게 한 비정질 실리콘 비휘발성 메모리소자에 관한 것이다. 이와 같은 본 연구는 유리기판과 그 유리기판위에 증착시켜 패터닝한 게이트, 그 게이트를 덮어씌운 제1 절연층, 그 제1 절연층위에 증착시켜 패터닝한 플로우팅 게이트와 그 플로우팅 게이트를 덮어씌운 제2 절연층, 그 제2 절연층위에 비정질실리콘을 증착시킨 액티브층과 그 액티브층위에 n+ 비정질실리콘을 증착시켜 패터닝한 소오스/드레인층 그리고 소오스/드레인층 위에 증착시킨 소오스/드레인층 전극으로 비정질실리콘 박막트랜지스터 비휘발성 메모리소자를 구성한다.

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