최근 휴대폰용 LCD, 컴퓨터용 TFT LCD, 가정용 PDP 등 평판 디스플레이 산업의 발달에 힘입어 평판 디스플레이 장치의 구동 칩 실장 부품인 TCP(tape carrier package), COF(chip on film) 제조 산업 또한 발전하고 있다. 이들 TCP, COF는 디스플레이 장치의 경박화에 따라 보다 가는 선폭의 회로가 요구되어지는데 이를 위해 회로를 구성하는 기본소재로 얇은 두께의 동박이 사용된다. 회로기판용 동박으로는 압연동박과 전해동박이 함께 사용되어 왔으나 박막의 제조가 어려운 압연동박의 단점과 면에 수직한 주상정 조직이 발달해 있어 일반 압연 동박에 비해 접착력이 뛰어나며 전류밀도 또는 티타늄 음극 드럼 회전 속도를 조절하여 두게 조절이 용이한 전해동박의 장점으로 인해 현재 압연동박의 전해동박으로의 대체가 증가하고 있다. 전해동박의 제조공정은 크게 제박 공정과 후처리 공정으로 나눌 수 있다. 전해동박은 먼저 드럼형태의 티타늄 음극과 불용성 납 양극으로 이루어진 제박기에 고 전류를 가하여 황산구리 용액 중 구리를 티타늄 음극에 석출시킴으로서 구리 원박을 제조한 후 접착력 향상을 위한 노듈 형성, 방식, 방청, 내열성 향상 등을 위한 여러 개의 단위 셀 조합으로 이루어진 후처리 공정을 거쳐 제조된다.
나노패턴 제작은 차세대 초고밀도 반도체 메모리기술과 바이오칩 등 나노기술의 핵심 분야로, 나노패턴 구조를 나노-바이오 전자소자 및 반도체 산업분야에 적용할 경우 시장 선점 및 막대한 부가가치 창출 등을 통해 국가경쟁력 강화에 크게 기여할 것으로 기대된다. 하지만 대면적 패턴형성이 어려워 뿐만 아니라 $300^{\circ}$ 이상의 열처리 과정에 의한 생산성이 떨어진다. 또한 나노구조가 잘 이루어진 차원, 표면상태, 결정성, 화학적 조성을 갖도록 하는 합성 및 제조상의 어려움 때문이다. 이에 반해 자기정렬 ITO Dot 형성은 상기 기술한 1차원 나노구조형성을 하는 것에 비하여, 나노구조를 제작하기 위하여 공정이 단순하며, 비용 및 생산성 측면에서 유리 할 것으로 생각된다. 이에 본 연구는 E-beam을 이용하여 형성된 ITO 박막에 HCl solution을 이용하여 자기정렬 ITO Dot 형성 후 n-AlGaInP Vertical LED[VLED] 표면에 nano pillar의 두께에 각기 다르게 형성하였으며, 최종적으로 제작된 VLED의 전기적, 광학적 특성을 조사하였다.
In this paper, the physical and the volume resistivity properties due to linear low density polyethylene(LLDPE)/ethylene vinyl acetate(EVA) blends are studied. In order to measure the volume resistivity properties. the micro electrometer is used, the range of temperature and applying voltage are 25 to 120[$^{\circ}C$], form 100 to 1000[V] respectively. From FT-IR spectrum, LLDPE blended with EVA shows an absence of carbonyl and ether groups. From the experimental result of the volume resistivity properties, it is confirmed that the volume resistivity is decreased, which was attributed to the increase of molecular motions with the increase of temperature.
We have fabricated an in situ ellipsometer operating at He-Ne wavelength. It can be applied to the real-time, in-situ tracking of the ellisometric change which occurs during various sample treatments. As a rotating analyzer type, all optical elements and related parts are designed to share a common hollow-axis configuration, and hence the ellipsometer is compact in shape and simple in design. It is mountable on the spare ports of vacuum chamber with ease. Using this ellipsometer, we observed the effective density variation of previously grown $TiO_2$ thin films by using electron beam evaporation. The packing density of the as-grown film was 82%. When exposed to atomsphere, the micro-void of the film was filled with water vapor. This water-filled $TiO_2$ thin film was subject to heating/cooling cycles in vacuum and the ellipsometric variation versus temperature and cycling number was measured in real time using this in situ He-Ne ellipsometer.
The switching characteristics of As$_{10}$ Ge$_{15}$ Te$_{75}$ thin film were investigated under d.c. bias. And the frequency dependence of the conductivity was analysed with regard to the temperature dependence, in order to find the physical properties of the As$_{10}$ Ge$_{15}$ Te$_{75}$ thin film ; a characteristic relaxation time (.tau.$_{0}$ ), the spatial density of defect states (N), and the localized wavefunction (.alpha.$^{-1}$ ). It was formed that the threshold voltage depends on thickness, electrode distance, annealing time and temperature, respectively. The threshold voltage is increased as the thickness and the electrode distance is increased, while the threshold voltage is decreased in proportion to the increased annealing time and temperature.
급속 열처리 방법으로 두께가 약 80.angs.C인 산화막을 성장시킨 후 950.angs.C와 1150.angs.C의 온도에서 15초-120초 동안 질화 및 재산화 공정을 수행하여 초 박막 구조의 질화 및 재산화된 질화 산화막을 성장하였다. 성장한 질화산 화막과 재 산화된 진화 산화막의 전기적 특성은 C-V, I-V, 전하 포획 및 TDDB 측정등을 통하여 분석하였다. 측정된 소자의 특성으로부터 질화 조건이 950.angs.C, 60초이고 재산화 조건이 1150.angs.C, 60초인 재산화된 질화 산화막은 전기적 스트레스 인가후에 전하 포획에 의한 평탄전압변화(.DELTA. $V_{fb}$ )와 계면 상태밀도( $D_{itm}$)의 증가가 산화막보다 적은 우수한 특성을 나타내는 것을 알 수 있었다.
This paper presents the characteristics of Ta-N thin-film for high precision resistors, which were deposited on Si substrate by DC reactive magnetron sputtering in an argon-nitrogen atmosphere(Ar-(4~16 %)$N_2$). Structural properties studied using X-ray diffraction(XRD) indicate the presence of TaN, $Ta_3N_5$ or a mixture of Ta-N phases in the films depending on the amount of nitrogen in the sputtering gas. The chemical composition are investigated by auger electro spectroscopy(AES). The optimized conditions of Ta-N thin-film resistors were deposited in 4 % $N_2$ gas flow ratio. Under optimum conditions, the Ta-N thin-film resistors are obtained a high resistivity, $\rho=305.7{\mu}{\Omega}cm$, a low temperature coefficient of resistance, TCR=-36 $ppm/^{\circ}C$.
In older to investigate the properties of electric conduction in low density polyethylene(LDPE) for power cable, the thickness of specimen was the 30, 100($\mu\textrm{m}$) of LDPE. The experimental condition for conductive properties was measured until the breakdown occurs at temperature ranges from 30 to 110[$^{\circ}C$] and in the electric field of 1 to 5 ${\times}$10$^2$[Mv/m]. As for increase of temperature, the current density of LDPE was increased with constant ratio in low field, but changes with exponential function in high field. The tunnel current of pre-breakdown region is shifted toward low field as much as thermal excitation energy.
현대 사회가 고도의 정보화 사회로 변화하는 가운데 능동행렬 액정 표시 소자(AMLCD : Active Matrix Liquid Crystal Display)는 정보 디스플레이 분야에서 없어서는 안될 중요한 위치를 차지하게 됐다. AMOLED는 자체발광형이므로 LCD에 비해 시야각, contrast, 시인성이 우수하며, 화소를 낮은 전류 밀도로 구동시킨다는 장점이 있다. OLED 소자는 각 화소를 구동할 수 있는 박막 트랜지스타가 필요하며, OLED 소자와 결합된 TFT의 연구도 진행되고 있다. 더욱이 모바일 소자에서 낮은 구동 전압과 비용의 절감을 위해 System On Panels (SOP)에 대한 연구가 또한 진행되고 있다. LCD 패널위에 콘트롤러와 메모리와 같은 소자를 직접화시킴으로써 액정 표시 장치를 소형화시킬 수 있으며 신뢰성을 향상시킬 수가 있다. 본 연구에서는 SOP를 위한 ELA 방법을 통하여 결정화한 poly-Si TFT memory를 제작하여 전기적 특성을 조사하였다.
It is considered that the effect of radiation aging, such as electron beam due to the ultra-high voltage for transmission, on the physical properties and electrical characteristics of electrital insulating materials. Low-density polyethylene(thickness 100[${\mu}{\textrm}{m}$]) is selected as an experimental specimen. Fourier transform infra-red spectrum, X-ray diffraction, differential scanning calorimetry and scanning electron microscopy is used so as to analysis the physical properties, the morphological changes and the crystallinity of LDPE. And it is made an experiments of dielectric characteristics in the temperature range of 20[$^{\circ}C$]~120[$^{\circ}C$], in the frequency range of 30[Hz]~1.5$\times$10$^{5}$ [Hz] and in the applied voltage range of 300[mV]~1500[mV].
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[게시일 2004년 10월 1일]
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