• The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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• v.25 no.12A
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• pp.1904-1911
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• 2000

IDDQ 테스팅은 CMOS에서 발생 빈도가 가장 높은 합선고장을 효과적으로 검출할 수 있는 기법이다. 본 논문에서는 테스트 대상 회로의 게이트간에 발생 가능한 모든 단락을 고려하여, 이러한 결함을 효과적으로 검출하기 위한 테스트 패턴 생성기와 고장 시뮬레이터를 구현하였다. 구현된 테스트 패턴 생성기와 고장 시뮬레이터는 O(n2)의 복잡도를 가지는 합선고장을 효과적으로 표현하기 위한 기법과 제안된 테스트 패턴 생성 알고리즘 및 고장 collapsing 알고리즘을 이용하여 빠른 고장 시뮬레이션 수행시간과 높은 고장 검출률을 유지하면서 적은 수의 테스트 패턴의 생성이 가능하다. ISCAS 벤치마크 회로에 대한 실험을 통하여 기존의 다른 방식보다 성능이 우수함을 보여주었다.

• 한국신재생에너지학회:학술대회논문집
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• 2010.11a
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• pp.183.1-183.1
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• 2010

본 논문에서는 풍력발전기의 회전속도센서의 고장 발생 시 고장을 검출하고 회전속도센서의 사용 없이 Sensorless 제어로의 전환에 관한 연구를 기술하였다. 최근 풍력발전은 급속한 성장함에 따라 풍력발전기의 대형화 및 해상풍력화 추세에 있다. 특히 해상풍력발전은 바람 및 설치장소의 제약에서 벗어나는 이점에 반해 염해, 습도 및 파도에 의한 진동 발생으로 센서의 고장 발생률이 높을 것으로 예상된다. 이에 따라 풍력발전기의 회전속도센서 고장 발생 시 이를 검출하는 방법을 제시하였다. 또한 회전속도센서의 고장이 검출되면 회전속도센서를 이용한 풍력발전기 제어방식에서 Sensorless 제어로의 전환을 통해 안전하게 풍력발전기를 운전할 수 있도록 하였다. 연구된 제어기법은 PSIM을 이용한 시물레이션을 통해 결과를 검증하였다.

• Journal of KIISE:Computer Systems and Theory
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• v.26 no.9
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• pp.1177-1184
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• 1999

본 논문에서는 스캔플립프롭 선택 시간이 짧고 높은 고장 검출률(fault coverage)을 얻을 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 순차회로에서 테스트패턴 생성을 용이하게 하기 위하여 완전스캔 및 부분스캔 설계 기술이 널리 이용되고 있다. 스캔 설계로 인한 추가영역을 최소화 하고 최대의 고장 검출률을 목표로 하는 부분스캔 기술은 크게 구조분석과 테스트 가능도(testability)에 의한 설계 기술로 나누어 볼 수 있다. 구조분석에 의한 부분스캔은 짧은 시간에 스캔플립프롭을 선택할 수 있지만 고장 검출률은 낮다. 반면 테스트 가능도에 의한 부분스캔은 구조분석에 의한 부분스캔보다 스캔플립프롭의 선택 시간이 많이 걸리는 단점이 있지만 높은 고장 검출률을 나타낸다. 본 논문에서는 구조분석에 의한 부분스캔과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계 기술의 장단점을 비교.분석하여 통합함으로써 스캔플립프롭 선택 시간을 단축하고 고장 검출률을 높일 수 있는 새로운 부분스캔 설계 기술을 제안한다. 실험결과 대부분의 ISCAS89 벤치마크 회로에서 스캔플립프롭 선택 시간은 현격히 감소하였고 비교적 높은 고장 검출률을 나타내었다.Abstract This paper provides a new partial scan design technique which not only reduces the time for selecting scan flip-flops but also improves fault coverage. To simplify the problem of the test pattern generation in the sequential circuits, full scan and partial scan design techniques have been widely adopted. The partial scan techniques which aim at minimizing the area overhead while maximizing the fault coverage, can be classified into the techniques based on structural analysis and testabilities. In case of the partial scan by structural analysis, it does not take much time to select scan flip-flops, but fault coverage is low. On the other hand, although the partial scan by testabilities generally results in high fault coverage, it requires more time to select scan flip-flops than the former method. In this paper, we analyzed and unified the strengths of the techniques by structural analysis and by testabilities. The new partial scan design technique not only reduces the time for selecting scan flip-flops but also improves fault coverage. Test results demonstrate the remarkable reduction of the time to select the scan flip-flops and high fault coverage in most ISCAS89 benchmark circuits.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2007.05a
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• pp.192-196
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• 2007

그동안 소프트웨어의 신뢰도가 테스트중은 물론 운영중에도 고장을 검출 및 수벙함으로써 성장될 수 있다는 가정 하에 SRGM이 연구되어왔다. 한편, 어떤 논문에서는 운영중에 소프트웨어를 수정한다는 것이 특히 범용 소프트웨어인 경우 불가능에 가깝기 때문에 테스트노력이 일정한 것으로 가정하기도 하였다.. 저자는 소프트웨어의 신뢰도 현상에 접근할 수 있는 단순한 기법을 제안하여 기존신뢰도 모델을 수정하지 않고 고장률을 줄일 수 있도록 하는 방안을 제시한다.

• The Transactions of the Korea Information Processing Society
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• v.3 no.3
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• pp.572-580
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• 1996

This paper describes a test generation method for sequential circuits which improves the application limits of the IPMT method by applying the partial scan design to the IPMT method. To solve the problem that the IPMT method requires enormous computation time in image computation, and generates test patterns after the partialscan design is introduced to reduce test complexity. Scan flip-flops are selected for the partial scan design according to the node size of the state functions of a sequential circuit in their binary decision diagram representations. Experimental results on ISCAS'95 benchmark circuits show that a test generator based on our method has achieved 100% fault coverage by use of either 20% scan FFs for s344, s349, and s420 or 80% scan FFs for sl423. However, test gener-ators based on the previous IPM method have not achieved 100% fault coverage for those circuits.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.37 no.11
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• pp.105-114
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• 2000

Delay testing is essential for assurance of digital circuits as the speed and the density of the circuits improve greatly. However, delay faults in sequential circuits cannot be detected easily due to the existence of state registers. To overcome this difficulty a new test method and algorithm are devised which can be used for both stuck-at testing and delay testing. To apply the new test method, a new scan flip-flop is implemented. Experimental results on ISCAS 89 benchmark circuits show that the number of testable paths can be increased drastically over conventional scan techniques.

• Journal of Advanced Marine Engineering and Technology
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• v.22 no.5
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• pp.687-692
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• 1998

Test pattern generation is one of most difficult problems encountered in automating the design of logic circuits. The goal is to obtain the highest fault coverage with the minimum number of test patterns for a given circuit and fault set. although there have been many deterministic algorithms and heuristics the problem is still highly complex and time-consuming. Therefore new approach-es are needed to augment the existing techniques. This paper considers the problem of test pattern improvement for combinational circuits as a restricted subproblem of the test pattern generation. The problem is to maximize the fault coverage with a fixed number of test patterns for a given cir-cuit and fault set. We propose a new approach by use of a genetic algorithm. In this approach the genetic algorithm evolves test patterns to improve their fault coverage. A fault simulation is used to compute the fault coverage of the test patterns Experimental results show that the genetic algorithm based approach can achieve higher fault coverages than traditional techniques for most combinational circuits. Another advantage of the approach is that the genetic algorithm needs no detailed knowledge of faulty circuits under test.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD
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• v.43 no.8 s.350
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• pp.27-34
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• 2006

During Built-In Self-Test(BIST), The set of patterns generated by a pseudo-random pattern generator may not provide sufficiently high fault coverage and many patterns were undetected fault. In order to reduce the test time, we can remove useless patterns or change from them to useful patterns. In this paper, we reseed modify the pseudo-random and use an additional bit flag to improve test length and achieve high fault coverage. the fat that a random tset set contains useless patterns, so we present a technique, including both reseeding and bit modifying to remove useless patterns or change from them to useful patterns, and when the patterns change, we choose number of different less bit, leading to very short test length. the technique we present is applicable for single-stuck-at faults. the seeds we use are deterministic so 100% faults coverage can be achieve.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2001.10b
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• pp.1459-1462
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• 2001

혼성 신호 회로의 설계에 있어 저비용의 고효율 테스트 효율을 보장하기 위해 테스트의 노력은 계속되어 왔다. 특히 테스트를 고려한 BIST(built-in-self-test)설계 방법으로 발전해가고 있는 추세인데, 회로상에서 전체적인 테스트 용이도와 분석에 있어 보다 향상된 방법으로 접근할 수 있고 이러한 시스템에 대해 분석하는데 수월하게 할 수도 있다. 이 논문에서는 효과적인 테스트를 위한 방법을 위해 전압 검출기를 이용한 기준 전압 DC 테스트로써 테스트시간을 감소시키고 효과적인 고장 검출률을 갖는 BIST를 구현하는 것을 제안하였다. 즉 정상적인 회로와 고장회로에서의 동작에서 전압의 파이를 검출하는 회로를 하드웨어상으로 구성함으로써 비용과 시간등을 효과적으로 줄이는 방법을 제안하였다. 실험 결과에서는 기존의 BIST와 비교하여 향상된 것을 나타낸다.

• Proceedings of the Korean Reliability Society Conference
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• 2000.04a
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• pp.81-87
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• 2000

최근 신뢰성 가속 시험 분야에서 제품의 잠재 또는 취약 부위를 단기간에 효과적으로 검출할 수 있도록 개발된 HALT(Highly Accelerated Life Test) 기술을 당사에서 생산 중인 영상제품에 적용하였다. 적용 결과 HALT는 기존의 보증용 가속 시험에서 추구하는 고장 데이터의 통계적인 수명 예측이나 고장률 추정의 절차를 따르지 않고도 한계 스트레스 시험을 이용하여 제품의 잠재적인 취약부위를 단시간에 효과적으로 촉진하고 들춰 내어 전자 제품에 적용할 수 있는 유용한 가속 스트레스 시험 기술임이 입증되었다.