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박찬범;임병원;박종흥
- 전자통신동향분석
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- 제5권4호
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- pp.145-161
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- 1990
현재 계측기산업은 빠른 속도의 발전을 거듭하고 있는 전자산업에서의 하나의 핵심분야로 나타나고 있는바, 단일 계측기의 질적 향상에서 탈피하여 컴퓨터와 계측장비를 연결해 계측절차를 간소화 한 CAT(Computer Aided Test)가 등장하고 있으며, 또한 계측기 분야의 신혁명이라고 불리는 표준화된 VXIbus와 MMS 등이 개발되고 있어 이 분야의 새로운 장을 열고 있다. 오실로스코프, 스펙트럼 애널라이저 등 단일 계측장비의 성능 제고가 지난 80년대의 업적이라면 향후 전개될 90년대는 계측시스템 간의 통합화와 표준화라고 볼 수 있다.기술적으로 개방되고, 모듈화 된 계측기 표준에 대한 필요성이 점차로 증가함에 따라 개발된 VXIbus시스템은 모듈기기의 개방구조로서 H/W 및 S/W로 구성되어 있으며, 현재 많이 사용되고 있는 VMEbus를 계측기기에 적합하도록 확장시킨 것이다. 분문에서는 계측시스템의 일반적인 발전추세를 비롯하여 VXIbus의 세부구조, 전기적 기능, 응용 등의 세부내용을 나타내고 있다.
https://doi.org/10.22648/ETRI.1990.J.050411 인용 PDF

배영철
- 대한전기학회:학술대회논문집
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- 대한전기학회 2007년도 제38회 하계학술대회
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- pp.266-267
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- 2007
본 논문에서는 빛의 세기에 크게 영향을 받지 않고 정밀한 거리 계측과 측정 속도를 대폭 개선할 수 있는 산업용 레이저 거리 계측기를 개발하였다. 이를 위해 5m 단위의 거리 계측에는 비행 펄스 시간 방법을 사용하고, 1mm 단위의 계측에는 헤테로다인 방법을 적용하여, 장거리 계측이 가능하게 함과 동시에 측정 오차 1mm 이내, 측정 거리 1km 이내의 고정밀 거리 계측기를 제안하였다.
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김은주;배영철
- 대한전기학회:학술대회논문집
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- 대한전기학회 2008년도 제39회 하계학술대회
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- pp.1412-1413
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- 2008
본 연구에서는 산업용 거리 계측기에서 정밀한 측정에 요구되는 오차 보정 기법을 제시하였다. 제시한 기법은 본 연구에서는 산업용 거리 계측기에서 보다 정밀한 측정을 위한 방법으로 측정하고자 하는 기법을 전원회로에서의 잡음, 공급 전원의 잡음, 공통모드에서의 잡음, 중간주파수에 섞여 있는 잡음 및 비교기에서의 오차 저감 기법을 제시하고자 한다.
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제갈원;조용재;조현모;김현종;이윤우;김수현
- 한국정밀공학회지
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- 제21권6호
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- pp.15-21
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- 2004
반도체 제조산업과 나노, 바이오 산업의 비약적 발전에 따라 게이트 산화막(gate oxide)과 같이 반도체 제조공정에서 사용되는 유전체 박막(dielectric film)의 두께는 수 $\mu\textrm{m}$에서 수 nm 에 이르기까지 다양할 뿐 아니라 얇아지고 있으며, 또한 이러한 박막들이 다층으로 복잡하게 적층된 다층 박막의 응용이 높아지는 추세이다. 따라서, 반도체 및 광통신 소자, 발광소자, 바이오 칩 어레이 등과 같은 나노박막을 이용하는 산업에서는 박막의 두께 측정을 더욱 정확하고, 보다 빠르며 효율적으로 측정할 수 있는 박막 두께 측정용 계측기가 요구된다.(중략)
PDF KSCI

배영철;김천석;김이곤;조의주;박종배
- 한국전자통신학회논문지
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- 제2권4호
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- pp.228-235
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- 2007
레이저 거리 계측기는 과거에 주로 군사용으로 사용되어 헬기나 전차에 탑재하여 목표물과 발사체와의 거리를 측정하는데 사용하였다. 따라서 군사용의 경우 측정 거리가 수 km에서 수십 km 까지의 범위이며 측정하고자하는 오차도 5m 내외였다. 이와 같이 군사용 사용하던 레이저 거리 계측기를 산업용에 사용하고자 하는 노력이 계속되고 있으며 이에 본 논문에서는 산업용에 적용할 수 있는 산업용 레이저 거리 계측기를 개발하고 그 유용성을 검증하였다.
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