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제조공정에 따른 적층형 칩 NTC 써미스터 신뢰성 특성 (Reliability Properties of Multilayer Chip NTC Thermistor on Manufacturing Process)

  • 윤중락;유장용;이헌용;여동훈
    • 대한전기학회:학술대회논문집
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    • 대한전기학회 2005년도 추계학술대회 논문집 전기물성,응용부문
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    • pp.133-135
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    • 2005
  • Mn-Co-Ni-O계를 적용한 적층 칩 NTC 써미스터의 소성온도 및 냉각 조건에 따른 전기적 특성을 연구하였다. 특히, 소결조건에 따른 저항, B-정수의 경시 변화 특성으로부터 제품의 신뢰성 측면을 검토하였다. 소결온도 및 시간에 의한 영향보다는 냉각속도에 따른 초기 저항 및 B-정수의 변화가 크게 나타났으며 냉각속도를 조절한 시편에서 경시변화율은 1%이하인 특성을 얻을 수 있었다.

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