• Journal of Korea Society of Industrial Information Systems
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• v.20 no.2
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• pp.73-83
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• 2015

This paper proposes a TFT-LCD defect blob detection algorithm using the sequential defect detection method. First, for every pixel, a defect possibility is determined by the intensity difference and the defect candidates are detected according to the sequential defect detection method. For detected candidate pixels, the defect probability that indicates a potential included in the defect according to the each step. By applying the morphological operation, blobs are comprised of the detected candidates and the defect blobs are detected using the defect possibility of blobs. The validity of the proposed method was demonstrated a simulated image and also then it was tested a real TFT-LCD image. By the experimental results, the proposed method is very effective in TFT-LCD detect detection.

• Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
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• 2011.10a
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• pp.168-170
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• 2011

본 논문에서는 항공 갑판의 비파괴 검사 영상에서, 조직의 이상이나 결함의 정도를 검출하는 기존의 방법보다 결함 검출의 정확도를 개선한 방법을 제안한다. 제안된 결함 검출 방법은 결함의 윤곽선을 추출하기 위하여 라플라시안 필터링 기법을 적용하여 윤곽선을 추출한다. 라플라시안 필터링 기법을 적용하여 윤곽선을 추출할 경우에는 결함 이외의 다른 객체들의 윤곽선도 검출된다. 따라서 본 논문에서는 이진화 기법과 팽창 연산을 적용하여 결함의 후보 객체들을 연결한다. 그리고 Grassfire 라벨링 기법을 적용하여 잡음을 제거하고 팽창 연산과 침식 연산을 이용하여 결함 후보 영역의 크기를 조정한다. 크기가 조정된 결함 후보 영역을 기반으로 원 영상에서 결함 후보 영역을 추출한다. 결함 후보 영역에서 결함 영역을 추출하기 위해 결함 후보 영역의 명암 대비를 증가시키고 결함 후보 영역의 주변 정보를 이용하여 이진화한다. 이진화 된 영역에서 Grassfire 라벨링 기법을 이용하여 잡음을 제거하고 최종적으로 결함 영역을 검출한다. 본 논문에서 제안한 방법으로 항공갑판의 결함을 추출한 결과, 기존의 방법보다 항공 갑판의 결함을 추출하는데 효과적인 것을 확인하였다.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2000.10c
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• pp.677-679
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• 2000

결함의 검출은 결함 허용 시스템의 결함 허용성과 신뢰도 분석에 있어서 기초가 된다. 결함 검출 기법들은 각기 다른 특성을 가지고 있어 결함의 종류에 따라 다른 검출 능력을 가지기 때문에 효율적으로 시스템의 신뢰도를 향상시키기 위해서는 결함의 종류에 따라 적절한 기법들을 선별하여 적용해야 할 필요가 있다. 하지만 기존의 연구에서는 결함 검출 기법들에 대해 비교 검토에 대한 연구가 미흡하다. 따라서 결함의 종류에 따른 결함 검출 기법들의 성능을 평가하기 위한 테스트베드가 요구된다. 본 논문에서는 결함 검출을 위해 사용되고 있는 기법들의 종류를 분류하고 특성을 서술한다. 그리고, 리눅스 환경에서 소프트웨어로 구현된 결함 삽입 도구를 이용하여 각 결함 검출 기법들의 성능을 비교하기 위한 테스트베드를 설계한다.

• Proceedings of the Korean Institute of Industrial Safety Conference
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• 2002.11a
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• pp.249-256
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• 2002

구조물의 안전성 평가와 수명예측은 구조물 내 결함에 관한 정확한 정보 즉, 결함의 종류, 크기, 위치, 형상으로 평가하고 있다 이들 결함의 분석과 해석 방법으로 실시간 평가가 가능하고, 구조물에 손상을 주지 않는 비파괴 결함 평가 방법이 널리 활용되고 있다. 특히 방사선투과시험에 의한 결함 해석과 평가는 투과사진 상에 나타나는 결함의 상으로부터 결함 형상과 결함 길이는 직접 확인할 수 있으며, 결함 깊이와 결함 높이의 해석에는 입체방사선투과검사법(Stereo-radiography)과 parallax법 등으로 현재 결함 깊이와 높이를 해석하고 있으나, 이러한 방법은 결함 검출을 위하여 조사방향을 여러방향으로 하여 방사선 투과사진을 다수 촬영하여야 하고, 촬영된 결함의 분석과 해석에도 숙련된 평가 기법이 요구되는 등 많은 문제점을 내포하고 있다.(중략)

• Korean Journal of Cognitive Science
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• v.10 no.3
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• pp.39-49
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• 1999

The space of IID([ndependently, Identically Distributed) textures was built with axes of mean luminance and contrast, and studied on what kind of mechanisms were required to mediate texture segregation in this space. The conjecture was tested that one of these mechanisms is sensitive to the differences between the means of textures to be discriminated, whereas the other is sensitive to the differences between variances. The probability of discrimination was measured for various pairs of textures in the lID space The data were well fit by a model in which discrimination depends on two mechanisms whose responses are combined by probability summation. The conjecture was rejected that two mechanisms respectively tuned to mean and variance of texture function in segregation. Discrimination within space is mediated by 2 independent channels however: the 2 independent channels are not exactly tuned to texture mean and variance. One m mechanism was primarily sensitive to texture mean, whereas the other was sensitive to b both texture mean and variance.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 2013.02a
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• pp.178-178
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• 2013

고체내의 결함을 분석하기 위한 장비로는 대표적으로 DLTS (deep level transient spectroscopy)를 이용하여 깊은 준위 결함의 활성화에너지를 구하는 분석법, 투과전자현미경을 이용한 박막의 결정살창 분석법, photoluminescence나 electroluminescence를 이용하여 광학적인 방법으로 결함을 분석하는 방법, 마지막으로 광전류 측정을 통하여 결함을 분석하는 방법 등이 있다. 이 중에서도 빛에 의해서 증가되는 광전류를 이용한 결함 분석 방법은 과거에는 종종 시행되어 왔으나 최근에는 거의 연구되어지고 있지 않고 있다. 고체 내의 많은 결함들이 빛에만 반응하는 결함도 있으며 전기적인 측정을 통해서만 발견되는 결함이 존재하기 때문에 모든 부분을 다 만족시키는 방법은 찾기가 힘들다고 알려져 있다. 한편, ZnO는 octahedral 구조로 공간이 비어있기 때문에 여러 가지 결함이 존재하는데, 그 중에서 valence band 바로 위 0.3~0.5 eV에 존재하는 결함 준위는 Zn 빈자리에 의한 결함으로 이론적으로만 밝혀졌을 뿐 실험적으로는 현재까지 발견되어지고 있지 않다. 본 연구에서는 광전류를 이용하여 n-ZnO/p-Si과 n-ZnO/p-GaN p-n 접합 다이오드 내의 결함에 대한 연구를 진행하였다. ZnO를 UHV 스퍼터링 방법으로 성장하였으며 ZnO의 결함의 양을 조절하기 위해 박막의 두께와 증착할 때의 기판 속도 등을 조절하였다. 이렇게 성장된 ZnO 기반의 다이오드를 광전류 측정을 이용하여 결함을 분석하였다. 실험결과 420 nm 파장의 빛을 다이오드에 주사하였을 때 광전류가 크게 증가하는 것을 확인하였으며 이것은 이론적으로만 주장되어져 왔던 Zn 빈자리 결함에 의한 것으로 판단되었다.

• Journal of KIISE
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• v.42 no.11
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• pp.1349-1360
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• 2015

In order to improve software quality, it is necessary to efficiently and effectively remove software defects in source codes. In the development field, defects are removed according to removal ratio or severity of defects. There are several studies on the removal of defects based on software quality attributes, and several other studies have been done to improve the software quality using classification of the severity of defects, when working on projects. These studies have thus far been insufficient in terms of identifying if there exists relationships between defects or whether any type of defect is more important than others. Therefore, in this study, we collected various types of software defects, standards organization, companies, and researchers. We modeled the defects types using an ANP model, and developed the weighted severities of the defects types, with respect to the general application software, using the ANP model. When general application software is developed, we will be able to use the weight for each severity of defect type, and we expect to be able to remove defects efficiently and effectively.

• Journal of Korea Society of Industrial Information Systems
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• v.19 no.6
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• pp.43-51
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• 2014

TFT-LCD image includes a defect of various properties. TFT-LCD image have a recognizable defects in the human inspector. On the other hand, it is difficult to detect defects that difference between the background and defect is very low. In this paper, we proposed sequentially detect algorithm from pixels included in the defect region to limited defects. And blob analysis methods using the blob size and gray difference are applied to the defect candidate image. Finally, we detect an accurate defect blob to distinguish the noise. The experimental results show that the proposed method finds the various defects reliably.

• Proceedings of the Korea Institutes of Information Security and Cryptology Conference
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• 1997.11a
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• pp.151-160
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• 1997

최근에 시스템의 불법적인 침입, 정보 유출 등의 보안 사고가 많아지면서 컴퓨터 보안을 위한 많은 방법들이 제시되고 있다. 그 중에서도 컴퓨터 시스템 자체에 존재하는 보안상의 결함을 막기 위한 노력들이 있어왔다. 그러나 시스템의 보안 결함은 기본적으로 운영체제나 어플리케이션 자체의 버그에 기인하므로 끊임없이 출현하는 실정이다. 따라서, 시스템 관리자가 이를 일일이 확인하여 보안 결함을 체크하고 대응하는 것은 상당히 힘든 일일 것이다. 본 논문에서는 HTTP 프로토콜을 이용하여 클라이언트 시스템의 보안 결함을 원격으로 점검해 주는 주문형 보안 결함 탐지 서버(Security On Demand)에 대해 설명한다. 주문형 보안 결함 탐지 서버(이하 SOD 서버)는 서버-클라이언트 모델로서 클라이언트가 원하면 보안 결함을 탐지하는 코드를 전송하여 클라이언트 측에서 실행되도록 한다. 그러므로 SOD서버 측에만 새로이 출현한 보안 결함 탐지코드를 추가하면 클라이언트는 최신의 보안 결함에 대한 점검이 가능하다. 또한 코드 자체가 클라이언트로 전송되어 수행되기 때문에 클라이언트측의 보안 결함 정보가 서버로 유출되지 않는 장점이 있다.

• Proceedings of the Korea Information Processing Society Conference
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• 2018.10a
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• pp.550-553
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• 2018

소프트웨어 시험 후 발견된 결함을 제거하기 위해서는 먼저 해당 결함의 위치를 정확히 찾아야 한다. 결함의 위치를 찾는 작업은 많은 양의 소스코드를 검토해야 하기 때문에 많은 노력을 요구한다. 해당 노력을 줄이기 위해 슬라이싱 기법, 스펙트텀 기법, 모델 기반 기법 등 많은 기법들이 연구되었다. 하지만 이들 연구들은 결함 위치로 추정한 탐색 영역의 범위가 넓어 결과의 효과가 떨어지는 단점이 있다. 그래서 결함 위치 추정의 정확도를 높이고 결함 위치 파악의 효과를 높이기 위해 본 논문은 프로그램 소스 코드 문장에 대한 시험 케이스의 커버리지 정보, 시험의 PAss/Fail 여부, Define-Use의 관계에 있는 문장 정보를 활용하여 각 문장의 결함 의심도를 산출하는 방법을 제안한다. 제안 방법을 실험을 통하여 확인한 결과, 낮은 지역화 비용으로 결함 위치 추정을 할 수 있었다.