A selective and sensitive reversed-phase HPLC method for the determination of fenoprofen in human serum was developed, validated, and applied to the pharmacokinetic study of fenoprofen calcium. Fenoprofen and internal standard, ketoprofen, were extracted from human serum by liquid-liquid extraction with diethyl ether and analyzed on a Luna C18(2) column with the mobile phase of acetonitrile-3 mM potassium dihydrogen phosphate (32:68, v/v, adjusted to pH 6.6 with phosphoric acid). Detection wavelength of 272 nm and flow rate of 0.25 mL/min were fixed for the study. The assay robustness for the changes of mobile phase pH, organic solvent content, and flow rate was confirmed by $3^{3}$ factorial design using a fixed fenoprofen concentration $(2\;{\mu}g/mL)$ with respect to its peak area and retention time. And also, the ruggedness of this method was investigated at three different laboratories using same quality control (QC) samples. This method showed linear response over the concentration range of $0.05-100\;{\mu}g/mL$ with correlation coefficients greater than 0.999. The lower limit of quantification using 1 mL of serum was $0.05\;{\mu}g/mL$, which was sensitive enough for pharmacokinetic studies. The overall accuracy of the quality control samples ranged from 92.27 to 109.20% for fenoprofen with overall precision (% C.V.) being 5.51-11.71 %. The relative mean recovery of fenoprofen for human serum was 81.7%. Stability (freeze-thaw, short and long-term) studies showed that fenoprofen was not stable during storage. But, extracted serum sample and stock solution were allowed to stand at ambient temperature for 12 hr prior to injection without affecting the quantification. The peak area and retention time of fenoprofen were not significantly affected by the changes of mobile phase pH, organic solvent content, and flow rate under the conditions studied. This method showed good ruggedness (within 15% C.V.) and was successfully used for the analysis of fenoprofen in human serum samples for the pharmacokinetic studies of orally administered Fenopron tablet (600 mg as fenoprofen) at three different laboratories, demonstrating the suitability of the method.
A rapid, selective and sensitive reversed-phase HPLC method for the determination of promethazine in human serum was developed, validated, and applied to the pharmacokinetic study of promethazine. Promethazine and internal standard, chlorpromazine, were extracted from human serum by liquid-liquid extraction with n-hexane containing 0.8% isopropanol and analyzed on a Capcell Pak CN column with the mobile phase of acetonitrile-0.2 M potassium dihydrogen phosphate (42:58, v/v, adjusted to pH 6.0 with 1 M NaOH). Detection wavelength of 251 nm and flow rate of 0.9 mL/min were fixed for the study. The assay robustness for the changes of mobile phase pH, organic solvent content, and flow rate was confirmed by $3^{3}$ factorial design using a fixed promethazine concentration (10 ng/mL) with respect to its peak area and retention time. In addition, the ruggedness of this method was investigated at three different laboratories using same quality control (QC) samples. This method showed linear response over the concentration range of 1-40 ng/mL with correlation coefficients greater than 0.999. The lower limit of quantification using 1 mL of serum was 1 ng/mL, which was sensitive enough for pharmacokinetic studies. The overall accuracy of the quality control samples ranged from 96.15 to 105.40% for promethazine with overall precision (% C.V.) being 6.70-11.22%. The relative mean recovery of promethazine for human serum was 63.54%. Stability (freeze-thaw and short-term) studies showed that promethazine was stable during storage, or during the assay procedure in human serum. However, the storage at $-80^{\circ}C$ for 4 weeks showed that promethazine was not stable. Extracted serum sample and stock solution were not allowed to stand at ambient temperature for 12 hr prior to injection. The peak area and retention time of promethazine were not significantly affected by the changes of mobile phase pH, organic solvent content, and flow rate under the conditions studied. This method showed good ruggedness (within 15% C.V.) and was successfully used for the analysis of promethazine in human serum samples for the pharmacokinetic studies of orally administered Himazin tablet (25 mg as promethazine hydrochloride) at three different laboratories, demonstrating the suitability of the method.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2001.05c
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pp.148-152
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2001
One set of MMIC library has been developed using gate recess etching by spin processor. It is superior than that of dipping Method in the uniformity and the reproducibility of gate recess. A DC characteristics of p-HEMT have a uniform characteristics in the whole wafer than that of dipping method. The low noise p-HEMT with the $0.6{\mu}m$ and $200{\mu}m$ of gate length and gate width, respectivily, has a uniform characteristics of Idss 130~145 mA, conductances 190~220mS/nm, and threshold voltage -0.7~-1.1V in the drain voltage of 2V.
Experiments for As(V) removal using synthesized $Ca{\cdot}Al$-monosulfate was performed from the water contaminated with arsenate. Monosulfate is known as LDHs (Layered Double Hydroxides) which is one of the anionic clay minerals. Monosulfate was synthesized mixing $C_3A$ (tricalcium aluminate), gypsum (calcium sulfate), and water with an intercalation method. The product form the synthesis was characterized by FE-SEM, WDXRF, PXRD, and FT-IR. Experiments with different doses of monosulfate were carried out for kinetic. As a result of experiment, the concentration of As(V) was reduced from 0.67 mM to 0.19 mM (0.67mM of monosulfate) and 0.178 mM (1.34 mM of monosulfate). The concentration of sulfate was increased with As(V) decrease. The result of PXRD showed that the d-spacing of inter layer ($d_{003}$ peak) was shifted from 8.927 ${\AA}$ to 8.095 ${\AA}$ because the sulfate in the inter layer of monosulfate was exchanged arsenate with water molecules bonded. From the FT-IR results, a new single band (800 cm-1) was observed after the reaction of monosulfate and As(V). The arsenic removal can be regarded as anion exchange mechanism that is one of the characteristics of LDHs from the results of PXRD and FT-IR analysis.
The present study describes the process of producing low oxygen content alloy powder from Ti-6Al-4V and Ti-8Al-1Mo-1V (AMS 4972) alloy scraps using hydrogenation-dehydrogenation (HDH) and deoxidation in solid state (DOSS) processes. Each prepared powder was deoxidized with Ca contact and non-contact method to compare the deoxidation capability. It is known that the non-contact deoxidation method, using Ca vapor above the melting temperature $T_m$ of Ca, has greater deoxidation capability. However, Oxygen contents in Ti-6Al-4V and Ti-8Al-1Mo-1V powder after non-contact deoxidation method were higher than those after contact deoxidation method. Therefore, we investigate the effect of Al - the richest alloy element in theses Ti based metals - on the deoxidation processes.
UBVI CCD photometry of open cluster NGC 2324 is presented. C-M diagrams of this cluster show well-defined main sequence with a red giant clump centered at B - V =1.05, V =13.45. We derived the major cluster characteristics; E(B - V)=0.17$\pm$0.12 from color-color diagram and mean color of red giant clump stars, (m - M)o=13.1$\pm$0.1 from zero age main sequence fitting, and [Fe/H]$\~$-0.32 from comparison the theoretical model developed by Bertelli et al. (1994) to the observed C-M diagrams. We estimate the age of NGC 2324 to be log t$\~$8.8 by applying isochrone fitting and morphological age index method.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1994.05a
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pp.116-119
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1994
The characteristics of the Si-SiO$_2$ interface and the degradation in the short channel(L${\times}$W=1.7$\mu\textrm{m}$${\times}$15$\mu\textrm{m}$) SONOSFET nonvolatile memory devices, fabricated on the basis of the existing n-well CMOS processing technology for 1 Mbit DRAM with the 1.2$\mu\textrm{m}$ m design rule, were investigated using the charge pumping method. The SONOSFET memories have the tripple insulated-gate consisting of 30${\AA}$ tunneling oxide 205${\AA}$ nitride and 65${\AA}$ blocking oxide, The acceleration method which square voltage pulses of t$\_$p/=10msec, Vw=+19V and V$\_$E/=-22V continue to be alternatly applied to gale, was used to investigate the degradation of SONOSFET memories with the write/erase cycle. The degradation characteristics were ascertained by observing the change in the energy and spatial distributions of the interface trap density.
This study is concerned with the existence of positive solution for the following nonlinear elliptic system $$\{-M_1(\int_{\Omega}{\mid}x{\mid}^{-ap}{\mid}{\nabla}u{\mid}^pdx)div({\mid}x{\mid}^{-ap}{\mid}{\nabla}u{\mid}^{p-2}{\nabla}u)\\{\hfill{120}}={\mid}x{\mid}^{-(a+1)p+c_1}\({\alpha}_1A_1(x)f(v)+{\beta}_1B_1(x)h(u)\),\;x{\in}{\Omega},\\-M_2(\int_{\Omega}{\mid}x{\mid}^{-bq}{\mid}{\nabla}v{\mid}^qdx)div({\mid}x{\mid}^{-bq}{\mid}{\nabla}v{\mid}^{q-2}{\nabla}v)\\{\hfill{120}}={\mid}x{\mid}^{-(b+1)q+c_2}\({\alpha}_2A_2(x)g(u)+{\beta}_2B_2(x)k(v)\),\;x{\in}{\Omega},\\{u=v=0,\;x{\in}{\partial}{\Omega},$$ where ${\Omega}$ is a bounded smooth domain of ${\mathbb{R}}^N$ with $0{\in}{\Omega}$, 1 < p, q < N, $0{\leq}a$ < $\frac{N-p}{p}$, $0{\leq}b$ < $\frac{N-q}{q}$ and ${\alpha}_i,{\beta}_i,c_i$ are positive parameters. Here $M_i,A_i,B_i,f,g,h,k$ are continuous functions and we discuss the existence of positive solution when they satisfy certain additional conditions. Our approach is based on the sub and super solutions method.
Kim, Eun-Dong;Zhang, Changli;Kim, Sang-Cheol;Kim, Nam-Kyun
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.17
no.12
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pp.1264-1270
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2004
A fast switching thyristor with a superior trade-off property between the on-state voltage drop and the turn-off time could be fabricated by the proton irradiation method. After making symmetric thyristor dies with a voltage rating of 1,600 V from 350 $\mu$m thickness of 60 $\Omega$ㆍcm NTD-Si wafer and 200 $\mu$m width of n-base drift layer, the local carrier lifetime control by the proton irradiation was performed with help of the HI-13 tandem accelerator in China. The thyristor samples irradiated with 4.7 MeV proton beam showed a superior trade-off relationship of $V_{TM}$ = 1.55 V and $t_{q}$ = 15 $\mu$s attributed to a very narrow layer of short carrier lifetime(~1 $\mu$s) in the middle of its n-base drift region. To explain the small increase of $V_{TM}$ , we will introduce the effect of carrier compensation at the low carrier lifetime region by the diffusion current.ffusion current.t.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1993.11a
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pp.29-34
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1993
In this paper, we used one-dimensional process simulator, SUPREM-II, and two-dimensional device simulator, MINIMOS 4.0 to extract optimal process parameter that can minimize degradation of device characteristics caused by process parameter variation in the case of short channel nMOSFET and pMOSFET device. From this simulation, we have derieved the relationship between process parameter and device characteristics. Here we have presented a method to extract process parameters from design trend curve(DTC) obtained by process and device simulations. We parameters to verify the validity of the DTC method. The experimental result of 0.8 $\mu\textrm{m}$ channel length devices that have been fabricated with optimal that reduces short channel effects, that is, good drain current-voltage characteristics, low body effects and threshold voltage of 1.0 V, high punchthrough and breakdown voltage of 12 V, low subthreshold swing(S.S) values of 105 mV/decade.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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