Journal of the Korea institute for structural maintenance and inspection
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v.21
no.5
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pp.12-20
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2017
This report presents the results of an investigation on the fundamental properties of mortars high fluidity high volume slag cement(HVSC) activated with sodium silicate($Na_2SiO_3$). The ordinary Portland cement(OPC) was replaced by ground granulated blast furnace slag(GGBFS) from 40% to 80% and calcium sulfoaluminate(CSA) was 2.5% or 5.0% mass. The $Na_2SiO_3$ was added at 2% and 4% by total binder(OPC+GGBFS+CSA) weight. A constant water-to-binder ratio(w/b)=0.35 was used for all mixtures. The research carried out the mini slump, V-funnel, setting time, compressive strength and drying shrinkage. The experimental results showed that the contents of superplasticizer, V-funnel, setting time and drying shrinkage increased as the contents of CSA and $Na_2SiO_3$ increase. The compressive strength increases with and an increase in CSA and $Na_2SiO_3$. One of the major reason for these results is the accelerated reactivity of GGBFS with CSA and $Na_2SiO_3$. The maximum performance was CSA 5.0% + $Na_2SiO_3$ 4% specimens.
In order to reduce reflectance of soda-lime glass having average reflectance of 7.35% and refractive index of 1.53, single (SiO2), double (SiO2/20SiO2-80ZrO2), and triple (SiO2/ZrO2/75SiO2-25ZrO2) layers were designed and fabricated on the glass substrate by Sol-Gel method. Stble sols of SiO2-ZrO2 binary system for antireflective (AR) coatings were synthesized with tetraethyl orthosilicate (TEOS) and zirconium n-butoxide as precursors and ethylacetoacetate (EAcAc) as a chelating agent in an atmosphere environment. Films were deposited on soda-lime glass at the withdrawal rates of 3~11 cm/min using the prepared polymeric sols by dip-coating and they were heat-treated at 45$0^{\circ}C$ for 10 min to obtain homogeneous, amorphous and crack-free films. In case of SiO2-ZrO2 binary system, refractive index of film increased with an increase of ZrO2 mol%. Designed optical constant of films could be obtained through varying the withdrawal rate. In the visible region (380~780nm), reflectance was measured with UV/VIS/NIR Spectrophotometer. Average reflectances of the prepared single-layer [SiO2 (n=1.46, t=103nm)], double-layer [SiO2 (n=1.46, t=1-4nm)/20SiO2-80ZrO2 (n=1.81, t=82nm)], and triple-layer [SiO2 (n=1.46, t=104nm)/ZrO2 (n=1.90, t=80nm)/75SiO2-25ZrO2 (n=1.61, t=94 nm)] were 4.74%, 0.75% and 0.38%, respectively.
Journal of the Korean institute of surface engineering
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v.50
no.5
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pp.345-351
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2017
A double-layered anti-reflective coating with hydrophilic/abrasion-resistant properties was studied using anatase titanium dioxide($TiO_2$) and silicon oxycarbide($SiO_xC_y$) thin film. $TiO_2$ and $SiO_xC_y$ thin films were sequentially deposited on a glass substrate by DC sputtering and PECVD, respectively. The optical properties were measured by UV-Vis-NIR spectrophotometer. The abrasion-resistance and the hydrophilicity were observed by a taber abrasion tester and a contact angle analyzer, respectively. The $TiO_2/SiO_xC_y$ double-layer thin film had an average transmittance of 91.3%, which was improved by 10% in the visible light region (400 to 800 nm) than that of the $TiO_2$ single-layer thin film. The contact angle of $TiO_2/SiO_xC_y$ film was $6.9^{\circ}$ right after UV exposure. After 9 days from the exposure, the contact angle was $10.2^{\circ}$, which was $33^{\circ}$ lower than that of the $TiO_2$ single-layer film. By the abrasion test, $SiO_xC_y$ film showed a superior abrasion-resistance to the $TiO_2$ film. Consequently, the $TiO_2/SiO_xC_y$ double-layer film has achieved superior anti-reflection, hydrophilicity, and abrasion resistance over the $TiO_2$ or $SiO_xC_y$ single-layer film.
Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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2000.02a
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pp.67-67
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2000
CeO2는 cubic 구조의 일종인 CaR2 구조를 가지고 있으며 격자상수가 Si의 격장상수와 매우 비슷하여 Si 기판위에 에피텍셜하게 성장할 수 있는 가능성이 매우 크다. 따라서 SOI(silicon-on-insulator)구조의 실현을 위하여 Si 기판위에 CeO2 박막을 에피텍셜하게 성장시키려는 많은 노력이 있어왔다. 또한 metal-ferroelectric-semiconductor field effect transistor)에서 ferroelectric 박막과 Si 기판사이의 완충층으로 사용된다. 이러한 CeO2의 응용을 위해서는 Si 기판 위에 성장된 CeO2 박막의 방위성 및 CeO2/Si 구조의 전기적 특성을 알아보는 것이 매우 중요하다. 본 연구에서는 Si(100) 기판위에 CeO2(200)방향으로 성장하는 박막과 EcO2(111) 방향으로 성장하는 박막을 rf magnetron sputtering 방법으로 증착하여 각각의 구조적, 전기적 특성을 분석하였다. RCA 방법으로 세정한 P-type Si(100)기판위에 Ce target과 O2를 사용하여 CeO2(200) 및 CeO2(111)박막을 증착하였다. 증착후 RTA(rapid thermal annealing)방법으로 95$0^{\circ}C$, O2 분위기에서 5분간 열처리를 하였다 이렇게 제작된 CeO2 박막의 구조적 특성을 XRD(x-ray diffraction)방법으로 분석하였고, Al/CeO2/Si의 MIS(metal-insulator-semiconductor)구조를 제작하여 C-V (capacitance-voltage), I-V (current-voltage) 특성을 분석하였으며 TEM(transmission electron microscopy)으로 증착된 CeO2막과 Si 기판과의 계면 특성을 연구하였다. C-V특성에 있어서 CeO2(111)/Si은 CeO2(111)의 두께가 증가함에 따라 hysteresis windows가 증가한 방면 CeO2(200)/Si은 hysteresis windows가 아주 작을뿐만 아니라 CeO2(200)의 두께가 증가하더라도 hysteresis windos가 증가하지 않았다. CeO2(111)/Si과 CeO2(200)/Si의 C-V 특성의 차이는 CeO2(111)과 CeO2(200)이 Si 기판에 의해 받은 stress의 차이와 이에 따른 defect형성의 차이에 의한 것으로 사료된다.
Park, Hong-Chae;Lee, Yoon-Bok;Lee, Cheol-Gyu;Oh, Ki-Dong
Applied Chemistry for Engineering
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v.5
no.6
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pp.1044-1055
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1994
The preparation of ZrC/SiC mixed powders from $ZrSiO_4/C$ and $ZrSiO_4/Al/C$ systems was attempted in the temperature range below $1600^{\circ}C$ under Ar or $Ar/H_2$ gas flow(100-500ml/min). The formation mechanism and kinetics of ZrC/SiC were suggested and the resultant powders were characterized. In $ZrSiO_4/C$ system, ZrC and SiC were formed by competitive reaction of $ZrO_2(s)$ and SiO(g) with carbon at temperature higher than $1400^{\circ}C$. The apparent activation energy for the formation of ZrC was approximately 18.5kcal/mol($1400-1600^{\circ}C$). In $ZrSiO_4/Al/C$ system, ZrC was formed by reaction of ZrO(g) with Al(l, g) and carbon at temperature higher than $1200^{\circ}C$, and SiC was formed by reduction-carbonization of SiO(g) with Al(l, g) and carbon at temperature higher than $1300^{\circ}C$. The products obtained at $1600^{\circ}C$ for 5h consisted of ZrC with lattice constant of $4.679{\AA}$ and crystallite size of $640{\AA}$, and SiC with lattice constant of $4.135{\AA}$ and crystallize size of $500{\AA}$. And also, the mean particle size was about $21.8{\mu}m$.
Fazlinia, Abbas;Mosslemin, Mohammad Hossein;Sadoughi, Hesamaddin
Journal of the Korean Chemical Society
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v.54
no.5
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pp.579-581
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2010
Solid silica supported ferric chloride ($SiO_2-FeCl_3$) catalyzed one-step synthesis of various benzimidazoles from o-phenylenediamine and aldehydes using $H_2O_2$ as the oxidant. The salient features of this method are simple and convenient procedure, easy purification and shorter reaction times.
The equilibrium distribution of bismuth and lead between molten PbO-$SiO_2$ slag and bismuth phase was studied in the temperature range of $775^{\circ}C$ to $850^{\circ}C$ in a MgO crucible. The oxygen partial pressure of atmosphere was controlled by $P_{CO2}/P_{CO}$ ratio. The value of $(%PbO)_{slag}/[%Pb]_{metal}$ increased with increasing $SiO_2$ content of slag, and the value of $(%Bi_2O_3)_{slag}/[%Bi]_{metal}$ decreased with increasing $SiO_2$ content of slag. The concentration of Pb in metal increased with increasing temperature. These experimental results agreed well with the thermodynamic prediction.
We have fabricated a-Si:H multilayer for contact-type linear image sensor by means of RF glow discharge decomposition method. The ITO/i-a-Si:H/Al structure has relatively high dark current due to indium diffusion and carrier injection from both electrodes, resulting in low photocurrent to dark current. To suppress the dark current and to enhance interface electric field between ITO and i-a-Si:H film we have fabricated ITO/insulator/i-a-S:H/p-a-S:H/Al multilayer film with blocking structure. The photocurrent of ITO/$SiO_{2}(300{\AA})$/i-a-Si:H/p-a-Si:H($1500{\AA}$)/Al multilayer sensor with 5V bias voltage became saturated at about 20nA under $20{\mu}W/cm^{2}$ light intensity, while the dark current was less than 0.1nA. To increase the light generation efficiency we have adopted ITO/$SiO_{x}N_{y}(300{\AA})$/i-a-Si:H/p-a-Si:H($1500{\AA}$)/Al structure, showing photocurrent of 30nA and dark current of 0.08nA with 5V bias voltage. Also the spectral photosensitivity of the multilayer was enhanced for short wavelength visible region of 560nm, compared with that of the a-Si:H monolayer of 630nm. And its photoresponse time was about 0.3msec with the film homogeneity of 5% deviation.
Boron-phoshor-silicate glass was fabricated on Si substrates by FHD(Flame Hydrolysis Deposition) The microstructrue of silica soot deposited at various conditon such as composition and substrate temperature was analysed by SEM. After consolidation the refractive index and composition of the silica layer were in-vestigated. For refractive index control B, P and Ge were used as additive elements while B and Ge oxides are easily mixed into $SiO_2$, P oxide($B_2O_3$) doping is difficult because of the volatile property due to low melt-ing point. Boron-phosphorous-silicate glass (BPSG) layer were fabricated using bertical torch and optimized flame temperature substrate temperature and distance of torch and substrate. P concentration of BPSG lay-er measured 3.3 Wt% and the consolidation temperature was lower than $1180^{\circ}C$. The measured refractive index of BPSG silica layer in $1.55\;\mu\textrm{m}$ wavelength was $1.4480{\pm}1{\times}10^{-1}$ and the thickness was $22{\pm}1\;\mu\textrm{m}$.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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