1 |
P. L. M. Heydemann, C. R. Tilford, and R. W. Hyland, J. Vac. Sci. Technol. 14, 587 (1977).
|
2 |
C. R. Tilford, Applied Optics 16, 1857 (1977).
DOI
|
3 |
P. L. M. Heydemann, C. R. Tilford, and R. W. Hyland, J. Vac. Sci. Technol. 14, 599 (1977).
|
4 |
S. S. Hong, Y. H. Shin, K. H. Chung, I. T. Lim, S. Y. Woo, and S. C. Choi, J. Korean Vacuum Soc. 10, 173 (2001).
|
5 |
Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. ISO 11 (1993).
|
6 |
K. Jousten, Vacuum 45, 1205 (1994).
DOI
ScienceOn
|
7 |
K. W. T. Elliott and P. B. Clapham, NPL Mon. 28, 1 (1978).
|
8 |
S. S. Hong, Y. H. Shin, K. H. Chung, and I. Arakawa, Metrologia 42, 1 (2005).
DOI
ScienceOn
|
9 |
D. E. Weaver, J. Vac. Sci. Technol. A4, 338 (1986).
|
10 |
J. Y. Lim and K. H. Chung, Vacuum 42, 979 (1991).
DOI
|
11 |
K. H. Chung, S. S. Hong, Y. H. Shin, J. Y. Lim, S. K. Lee, and S. Y. Woo, Metrologia 36, 675 (1999).
DOI
|
12 |
K. H. Chung and S. S. Hong, IMEKO XIII, Pro XIII IMEKO World Con. Torino 5-9 Sep. 3, 1951 (1994).
|
13 |
S. S. Hong, I. T. Lim, Y. H. Shin, K. H. Chung, and I. Arakawa, J. Korean Vacuum Soc. 12, 151 (2003).
|
14 |
S. S. Hong, Y. H. Shin, and K. H. Chung, J. Korean Vacuum Soc. 5, 181 (1996).
|