1 |
H. P. Chang, F. H. Wang, J. Y. Wu, C. Y. Kung, and H. W. Liu, Thin Solid Films 518, 7445 (2010).
DOI
|
2 |
W. Yang, Z. Liu a, D. L. Peng, F. Zhang, H. Huang, Y. Xie, and Z. Wua, Appl. Surf. Sci. 255, 5669 (2009).
DOI
|
3 |
Y. M. Lu, W. S. Hwang, W. Y. Liu, and J. S. Yang, Mater. Chem. Phys. 72, 269 (2001).
DOI
|
4 |
B. D. Cullity, Elements of X-ray Diffraction, (Addison-Wesley, 1978), 102.
|
5 |
Y. Igasaki and H. Kanma, Appl. Surf. Sci. 169-170, 508 (2001).
DOI
|
6 |
H. A. Mohamed, J. Phys. D: Appl. Phys. 40, 4234 (2007).
DOI
|
7 |
K. Tonooka, H. Bando, and Y. Aiura, Thin Solid Films 445, 327 (2003).
DOI
|
8 |
G. K. R. Senadeera, K. Nakamura, and T. Kitamura, Appl. Phys. Lett. 83, 5470 (2003).
DOI
|
9 |
S. H. Cho, J. Korean Vacuum Soc. 18, 377 (2009).
DOI
|
10 |
J. S. Lee, G. C. Kim, H. H. Jeon, S. J. Hwangboe, D. H. Kim, C. M. Seong, and M. H. Jeon, J. Korean Vacuum Soc. 17, 23 (2008).
DOI
|
11 |
M. Lorenz, E. M. Kaidashev, H. von Wenckstern, V. Riede, C. Bundesmann, D. Spemann, G. Benndorf, H. Hochmuth, A. Rahm, H. C. Semmelhack, and M. Grundmann, Solid-State Electron. 47, 2205 (2003).
DOI
|
12 |
A. Maldonado, S. T. Guerra, M. M. Lira, and M. L. Olvera, Sol. Energ. Mat. Sol. C. 90, 742 (2006).
DOI
ScienceOn
|
13 |
K. Ellmer, J. Phys. D: Appl. Phys. 34, 3097 (2001).
DOI
|
14 |
S. Major, S. Kumar, M. Bhatnagar, and K. L. Chopra, J. Phys. D: Appl. Phys. 33, R17 (2000).
DOI
|
15 |
S. H. Jeong and J. H. Boo, Thin Solid Films 447, 105 (2004).
DOI
ScienceOn
|
16 |
J. Mass, P. Bhattacharya, and R. S. Katiyar, Mater. Sci. Eng. B 103, 9 (2003).
DOI
|
17 |
R. J. Honga, X. Jianga, G. Heideb, B. Szyszkaa, V. Sittingera, and W. Werner, 249, 461 (2003).
DOI
|