1 |
B. J. de Gans, P. C. Duineveld, U. S. Schubert, Advanced Materials, 16, 3, 203-213 (2004).
DOI
|
2 |
B. R. Ringeisen1, C. M. Othon1, J. A. Barron1, D. Young, and B. J. Spargo1, 1, 930-948 (2006).
|
3 |
R. A. Street, W. S. Wong, S. E. Ready, M. L. Chabinyc, A. C. Arias, S. Limb, A. Salleo, and R. Lujan, Materials Today, 9, 4, 32-37 (2006).
DOI
|
4 |
C. S. Kim, S.J. Park, W. Sim, Y.J. Kim, Y. Yoo, Computers & Fluids 38, 602-612 (2009).
DOI
|
5 |
M. Cloupeau and B. Prunet-Foch, Journal of Aerosol Science, 25, 1021-1036 (1994).
DOI
|
6 |
Y. J. Kim, H. S. Ko, S. Lee, S. U. Son, D. Jung, and D. Byun, Journal of Korean Physics Society, 51, 42-46 (2007).
DOI
|
7 |
D. Byun, Y. Lee, S. B. Q. Tran, V. D. Nugyen, S. Kim, B. Park, S. Lee, N. Inamdar, and H. H. Bau, Applied Physics Letter 92, 093507 (2008).
DOI
|
8 |
J. Choi, Y.J. Kim, S. Lee, S. U. Son, H. S. Ko, V. D. Nguyen, D. Byun, Applied Physics Letters, 93, 193508 (2008).
DOI
|
9 |
J.U. Park, M. Hardy, S.J. Kang, K. Barton, K. Adair, D.K. Mukhopadhyay, C.Y. Lee, M.S. Strano, A.G. Alleyne, J.G. Georgiadis, P.M. Ferreira, and J.A. Rogers, Nature Materials 6, 782-789 (2007).
DOI
|
10 |
V. D. Nguyen, D. Byun, Applied Physics Letters 94, 173509 (2009).
DOI
|
11 |
V. D. Nguyen, M. G. Schrlau, S. B. Q. Tran, H. H. Bau, H. S. Ko, and D. Byun, Journal of Nanoscience and Nanotechnology, 9, 7298-7302 (2009).
|
12 |
S. B. Q. Tran, D. Byun, V.D. Nguyen, and T. S. Kang, Physical Review E, 82, 2, 026318 (2009).
|
13 |
H. T. Yudistira, V. D. Nguyen, P. Dutta, D. Byun, Applied Physics Letters, 96, 023503 (2010).
DOI
|
14 |
http://www.enjet.co.kr/
|
15 |
http://www.engineeringsystem.co.jp
|
16 |
E. Menard, M. A. Meitl, Y. Sun, J.U. Park, D. J. Lee Shir, Y.S. Nam, S. Jeon, and J. A. Rogers, Chem. Rev., 107, 1117-1160 (2007).
DOI
|