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카메라 모듈 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용  

Park, Sun-Yeong ((주)탑엔지니어링)
Kim, Sang-Mok ((주)탑엔지니어링)
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The Magazine of the IEIE / v.43, no.11, 2016 , pp. 33-38 More about this Journal
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Times Cited By KSCI : 2  (Citation Analysis)
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1 Jae Y. Lee and Suk I. Yoo, "Automatic Detection of Region-Mura Defect in TFT-LCD", IEICE Transactions on Information and Systems, E87-D, 2004.
2 문경수, "Robust Regression을 이용한 TFT LCD의 MURA 검출에 관한 연구", 아주대학교, 2008.
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4 주영복, 허경무, "영상기반 자동결함 검사시스템에서 재현성 향상을 위한 결함 모델링 및 측정 기법", Journal of Institute of Control, Robotics and Systems, 2013.
5 적용 분야가 확대되는 카메라(모듈)과 영상 기반 응용 시장의 신사업 전략 모색을 위한 종합 분석, IRS 글로벌, 2015.
6 송청호, 정연욱, 송준엽, 김영규, "휴대폰 카메라용 렌즈단품 이물 자동검사장비", 한국정밀공학회 추계학술대회 논문요약집, 2005.
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9 Mitesh Popat and S. V. Barai, "Defect Detection and Classification using Machine Learning Classifier", World Conference on NDT, 2004.