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딥러닝 기법을 이용한 머신 비젼 기술 최근 응용 동향
Kim, Jeong-Tae;Jo, Hui-Yeon;Choe, Eun-Jeong;
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The Institute of Electronics and Information Engineers
, v.43, no.11, pp.18-26,
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특징점 기반의 머신러닝 기술을 이용한 OLED 결함 분류 기술
Choe, Hak-Nam;Kim, Hak-Il;
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The Institute of Electronics and Information Engineers
, v.43, no.11, pp.27-32,
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카메라 모듈 검사 장비의 자동화를 위한 기계 학습의 활용
Park, Sun-Yeong;Kim, Sang-Mok;
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The Institute of Electronics and Information Engineers
, v.43, no.11, pp.33-38,
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공장 자동화를 위한 광학 방식 삼차원 측정 기술 연구
Jang, Hyo-Yeong;No, Yeong-Jun;
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The Institute of Electronics and Information Engineers
, v.43, no.11, pp.39-45,
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머신비젼 카메라의 특성과 동향
Hwang, Jun-Hyeon;
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The Institute of Electronics and Information Engineers
, v.43, no.11, pp.46-52,
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