참고문헌
- G. I. Meijer, Science, 319, 1625 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1126/science.1153909]
- R. Waser and M. Aono, Nat. Matter., 6, 833 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1038/nmat2023]
- S. Z. Rahaman, S. Maikap, A. Das, A. Prakash, Y. H. Wu, C. S. Lai, T. C. Tien, W. S. Chen, H. Y. Lee, F. T. Chen, M. J. Tsai, and L. B. Chang, Nanoscale Res. Lett., 7, 614 (2012). [DOI: https://doi.org/10.1186/1556-276X-7-614]
- J. H. Kim, K. H. Nam, and H. B. Chung, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 25, 182 (2012). [DOI: https://doi.org/10.4313/JKFM.2012.25.3.182]
- K. H. Nam, J. H. Kim, W. J. Cho, and H. B. Chung, Appl. Phys. Lett., 102, 192106 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.4804557]
- R. Waser, R. Dittmann, G. Staikov, and K. Szot, Adv. Matter., 21, 2632 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma.200900375]
- P. Dandamudi, M. N. Kozicki, H. J. Bamaby, Y. Gonzalez-Velo, and K. E. Holbert, IEEE Trans. Nucl. Sci., 61, 4 (2014). https://doi.org/10.1109/TNS.2014.2379551
- Y. C. Yang, F. Pan, Q. Liu, M. Liu, and F. Zeng, Nano Lett., 9, 1636 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1021/nl900006g]
- J. Yoon, H. Choi, D. Lee, J. B. Park, J. Lee, D. J. Seong, Y. Ju, M. Chang, S. Jung, and H. Hwang, IEEE Electron Lett., 30, 457 (2009). https://doi.org/10.1109/LED.2009.2015687
- K. H. Song, S. W. Kim, J. H. Lee, and H. Y. Lee, Thin Solid Films, 517, 3961 (2009).