References
- H. Wang, T. X. Wu, X. Zyu, and S. T. Wu, J. Appl. Phys., 95, 5502 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1707210]
- B. Y. Oh, K. M. Lee, B. Y. Kim, Y. H. Kim, J. W. Han, J. M. Han, S. K. Lee, and D. S. Seo, J. Appl. Phys., 104, 064502 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.2978364]
- B. Y. Oh, Trans. Electr. Electron. Mater., 17, 109 (2016). [DOI: http://dx.doi.org/10.4313/TEEM.2016.17.2.109]
- Y. J. Kim, Z. Zhuang, and J. S. Patel, Appl. Phys. Lett., 77, 513 (2000). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.127028]
- J. M. Han and H. S. Hwang, Trans. Electr. Electron. Mater., 11, 285 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.4313/TEEM.2010.11.6.285]
- P. Chaudhari, J. Lacey, J. Doyle, E. Galligan, S.C.A. Lien, A. Callegary, G. Hougham, N. D. Lang, P. S. Andry, R. John, K. H. Yang, M. Lu, C. Cai, J. Speidell, S. Purushothaman, J. Ritsko, M. Samant, J. Stohr, Y. Nakagawa, Y. Katoh, Y. Saitoh, K. Sakai, H. Satoh, S. Odahara, H. Nakano, J. Nakagaki, and Y. Shiota, Nature, 411, 56 (2001). [DOI: http://dx.doi.org/10.1038/35075021]
- J. Stohr, M. G. Samant, J. Luning, A. C. Callegari, P. Chaudhari, J. P. Doyle, J. A. Lacey, S. A. Lien, S. Purushothaman, and J. L. Speidell, Science, 292, 2299 (2001). [DOI: http://dx.doi.org/10.1126/science.1059866]
- M. Schadt, H. Seiberle, and A. Schuster, Nature, 381, 212 (1996). [DOI: http://dx.doi.org/10.1038/381212a0]
- K. Usami, K. Sakamoto, and S. Ushioda, J. Appl. Phys., 93, 9523 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1572548]
- O. Yaroshchuk and Y. Reznikov, J. Mater Chem., 22, 286 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.1039/C1JM13485J]
- R. Lin and J. A. Rogers, Nano Lett., 7, 1613 (2007). [DOI: http://dx.doi.org/10.1021/nl070559y]
- H. G. Park, J. J. Lee, K. Y. Dong, B. Y. Oh, Y. H. Kim, H. Y. Jeong, B. K. Ju, and D. S. Seo, Soft Matter, 7, 5610 (2011). [DOI: http://dx.doi.org/10.1039/C1SM05083D]
- J. L. Janning, Appl. Phys. Lett., 21, 173 (1972). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1654331]
- J. J. Lee, J. J. Han, H. G. Park, D. H. Kim, S. U. Byun, and D. S. Seo, Opt. Mater., 35, 2658 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.optmat.2013.08.005]
- H. G. Park, Y. H. Kim, B. Y. Oh, W. K. Lee, B. Y. Kim, D. S. Seo, and J. Y. Hwang, Appl. Phys. Lett., 93, 233507 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.3046728]
- J. H. Lim, B. Y. Oh, W. K. Lee, K. M. Lee, H. J. Na, B. Y. Kim, D. S. Seo, J. M. Han, and J. Y. Hwang, Appl. Phys. Lett., 95, 123503 (2009). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.3232239]
- J. W. Lee, H. G. Park, H. C. Jeong, S. B. Jang, T. K. Park, and D. S. Seo, Opt. Express, 22, 31396 (2014). [DOI: http://dx.doi.org/10.1364/OE.22.031396]
- Y. G. Lee, H. G. Park, H. C. Jeong, J. H. Lee, G. S. Heo, and D. S. Seo, Opt. Express, 23, 17290 (2015). [DOI: http://dx.doi.org/10.1364/OE.23.017290]
- S. Jeong, Y. G. Ha, J. Moon, A. Facchetti, and T. J. Marks, Adv. Mater., 22, 1346 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/adma.200902450]
- W. J. Zhu, T. Tamagawa, M. Gibson, T. Furukawa, and T. P. Ma, IEEE Electron Device Lett., 23, 649 (2002). [DOI: http://dx.doi.org/10.1109/LED.2002.805000]
- H. Y. Yu, M. F. Li, B. J. Cho, C. C. Yeo, M. S. Joo, D. L. Kwong, J. S. Pan, C. H. Ang, J. Z. Zheng, and S. Ramanathan, Appl. Phys. Lett., 81, 376 (2002). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1492024]