References
- T. V. Cuong, H. S. Cheong, H. G. Kim. H. Y. Kim. C. H. Hong, E. K. Suh, H. K. Cho, H. K. and B. H. Kong, Appl. Phys. Lett. 90, 131107 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2714203
- D-H. Kang, E-S. Jang, H. Song, D-W. Kim, J-S. Kim, I-H. Lee, S. Kannappan, and C-R. Lee , J. Korean Phys. Soc. 52, 1895 (2008). https://doi.org/10.3938/jkps.52.1895
- F. Dwikusuman, D. Saulys, and T. F. Kuech, J. Electrochem. Soc. 149 (11), G603 (2002). https://doi.org/10.1149/1.1509072
- K. Hiramatsu, J. Phys. Condens. Matter. 13, 6961 (2001). https://doi.org/10.1088/0953-8984/13/32/306
- B. Beaumont, P. Vennegues & P. Gibart, Phys. Stat. Sol. (b) 227, 1 (2001). https://doi.org/10.1002/1521-3951(200109)227:1<1::AID-PSSB1>3.0.CO;2-Q
- K. Tadatomo, H. Okinawa, Y. Ohuchi, T. Tsunekawa, Y. Imada, M. Kato and T. Taguchi, Jpn. J. Appl. Phys. 40, L583 (2001). https://doi.org/10.1143/JJAP.40.L583
- M. Yamada, T. Mitani, Y. Narukawa, S. Shioji, I. Niki, S. Sonobe, M. Kato, T. Taguchi, Jpn. J. Appl. Phys. 41, L1431 (2002). https://doi.org/10.1143/JJAP.41.L1431
- Y. P. Hsu, S. J. Chang, Y. K. Su, J. K. Sheu, C. T. Lee, T. C. Wen, L. W. Wu, C. H. Kuo, C. S. Chang and S. C. Shei, J. Cryst. Growth 261, 466 (2004). https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2003.09.046
- Y. J. Lee, T. C. Hsu, H. C. Kuo, S. C. Wang, Y. L. Yang, and S. N. Yen, Mater. Sci. and Eng.B 122, 184 (2005). https://doi.org/10.1016/j.mseb.2005.05.019
- Z. H. Feng, Y. D. Qi, Z. D. Lu and Kei May Lau, J. Cryst. Growth 272, 327 (2004). https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2004.08.070
- S. J. Chang, Y. C. Lin, Y. K. Su, C. S. Chang, T. C. Wen, S. C. Shei, J. C. Ke, C. W. Kuo, S. C. Chen, and C. H. Liu, Solid-State Electron 47, 359 (2003).
- Ji-Myon Lee, Ki-Myung Chang, Sang-Woo Kim, Chul-Huh, In-Hwan Lee, and Seong-Ju Park, Appl. Phys. Lett. 87, 7667 (2000).
- X. A. Cao, S. J. Pearton, A. P. Zhang, G. T. Dang, F. Ren, R. J. Shu, L. Zhang, R. Hickman, and J. M. Van Hove, Appl. Phys. Lett. 75, 2569 (1999). https://doi.org/10.1063/1.125080
- H. S. Kim, J. S. Hwang, P. J. Chung, J. Korean Chem. Soc. 39, 1 (1995).
- M. R. Krames, M. Ochiai-Holcomb, G. E. Hofler, C. Carter-Coman, E. I. Chen, I. -H. Tan, P. Grillot, N. F. Gardner, H. C. Chui, J. -W. Huang, S. A. Stockman, F. A. Kish, M. G. Craford, T. -S. Tan, C. P. Kocot, M. Hueschen, J. Posselt, B. Loh, G. Sasser and D. Collins, Appl. Phys. Lett. 75, 2365 (1999). https://doi.org/10.1063/1.125016