Abstract
CEU(Camera Electronic Unit) loaded in optical satellite for a high resolution image acquisition is composited with CC(Camera Controlloer), FPA(Focal Plane Assembly) and CEUP(CEU Power supply). EMC test and analysis results are explained in this paper. CE, CS, RE and RS test is performed in the 1st EMC test, RE, RS test which is not complied and influence considerably after shielding structure is performed in the 2nd EMC test. An effect due to the noise of CEU in the GPS/S-band receiving band is analyzed based on 2nd EMC test results. Margin more than 6dB is guaranteed when CEU is shielded.
지구관측을 위한 광학위성에 탑재되는 고해상도 영상 획득을 목적으로 하는 위성카메라의 카메라전자부(CEU : Camera Electronic Unit)는 CC(Camera Controller)와 FPA(Focal Plane Assembly), CEUP(CEU Power supply)로 구성된다. 본 논문은 광학위성 탑재체(CEU)의 전자파시험결과와 이를 토대로 한 시스템 양립성 검토결과를 설명하였다. CEU의 1차 전자파시험은 전도성 방출시험, 전도성 감응시험, 복사성 방출시험 및 복사성 감응시험을 수행하였고 2차 시험에서는 1차 시험에서 규격을 만족하지 못함으로서 시스템 성능에 중요한 영향을 미칠 수 있는 복사성 방출시험과 복사성 감응시험을 차폐제를 이용하여 기구적인 차폐를 보강 후 수행하였다. 2차 시험결과에 대한 시스템 양립성은 탑재체(CEU)에서 방출하는 노이즈의 주파수성분이 위성의 GPS/S-Band 수신 성능에 미치는 영향성을 분석하였다. 기구적인 차폐보강이 전제되었을 때, 두 수신대역 내에서 발생하고 있는 노이즈 주파수성분에 대하여 6dB 이상의 마진을 갖는 것으로 나타났다.
