Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SD (대한전자공학회논문지SD)

The Institute of Electronics and Information Engineers (대한전자공학회)
권호 표지

Design of PCI/USB Interface Controller with IEEE 1149.1 Test Function

IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI/USB 통합 인터페이스 회로의 설계

  • Kim, Young-Hun (Dept. of Computer Science & Engineering, Hanyang University) ;
  • Kim, Ki-Tae (Dept. of Computer Science & Engineering, Hanyang University) ;
  • Park, Sung-Ju (Dept. of Electronical Engineering Computer Science, Hanyang University)
  • 김영훈 (한양대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 김기태 (한양대학교 컴퓨터공학과) ;
  • 박성주 (한양대학교 전자 컴퓨터 공학과)
  • Published : 2006.10.25
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Abstract

In order to test the board with IEEE 1149.1 boundary scan design, the test sequence must be applied as the bit stream However it is very tedious job to generate the test bit sequence since it requires the complete hlowledge about the 1149.1. This fuper introduces a convenient PCI/USB interface controller, named as Test-Ready PCI (TRPCI) ard Test-Ready USB (TRUSB). Test Bus Controller has been developed by TI and Lucent aiming to generate the test bit stream as an instruction level, thus even the novice test engineer can easily generate the test sequence.

IEEE 1149.1 바운더리 스캔 칩들로 구성된 보드를 테스트하기 위한 패턴은 반드시 비트 스트림으로 구성되어야 한다. 그러나 이러한 비트 스트림을 생성하는 일은 IEEE 1149.1 표준에 대한 완벽한 지식이 필요하므로, 전문지식이 없는 SoC 설계자에게는 상당히 어려운 일이다. 본 논문에서는 Test Ready PCI 와 Test Ready USB로 정의한 PCI와 USB 장치를 통해 편리하게 테스트를 수행할 수 있게 도와주는 테스트 인터페이스 컨트롤러를 제안한다. 이 제어기는 TI사와 Lucent사에서 명령어 단위의 수준에서 테스트 비트 스트림을 생성하기위해 개발한 테스트 버스 컨트롤러를 기반으로 하여 테스트 전문 지식이 없는 설계자도 쉽게 테스트 패턴을 생성하여 테스트를 수행할 수 있는 장점이 있다.

Keywords

References

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