Techniques for Handling Uranium Particles with Micro-tools

미세도구를 사용한 미세크기의 우라늄입자 취급기술

  • Pyo, Hyung-Ryul (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute) ;
  • Park, Yong-Joon (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute) ;
  • Sohn, Se-Chul (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute) ;
  • Jeon, Young-Shin (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute) ;
  • Song, Byoung-Chul (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute) ;
  • Jee, Kwang-Yong (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute) ;
  • Kim, Won-Ho (Nuclear Chemistry Research Team, Korea Atomic Energy Research Institute)
  • 표형열 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀) ;
  • 박용준 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀) ;
  • 손세철 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀) ;
  • 전영신 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀) ;
  • 송병철 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀) ;
  • 지광용 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀) ;
  • 김원호 (한국원자력연구소 원자력화학연구팀)
  • Received : 2000.04.03
  • Published : 2000.08.25

Abstract

The techniques for manipulation of various micro-tools were essential for particle isolation and chemical analysis of micro-size particles. This report described the detailed techniques for the preparation and handling of several micro-tools. Presence of uranium particles in smeared filter paper were identified by using the solid track detector. The uranium particles were isolated using the micro-tools under the stereomicroscope and then transferred to the filament of TIMS for the determination of isotope ratios.

흔적량 입자분석을 위해서는 흔적량의 입자를 다룰수 있는 미세도구가 필요하며 이들을 능숙하게 다룰수 있는 기술 또한 필수적이다. 본 연구에서는 다양한 미세도구들의 제작 및 사용방법을 소개하고 원자력 시설의 먼지시료 중 존재하는 우라늄입자의 동위원소비를 측정하였으며 이 결과로부터 미신고 핵활동 시설에서 사용한 우라늄의 종류를 알아 낼 수 있는 기술의 가능성을 확인하였다. 원자력 시설내의 오염가능 지역에서 기기의 표면 또는 바닥을 여과지로 문질러 시료를 채취하였고 먼지 중 존재하는 흔적량의 우라늄입자는 고체트랙 검출기를 이용하여 참아내었으며, 찾은 미세크기의 우라늄 입자는 미세도구를 사용하여 절단 분리한 후 TIMS의 필라멘트로 옮겨서 우라늄입자의 동위원소 비를 측정하였다.

Keywords

References

  1. 분석과학 v.6 no.4 박만기
  2. Microscope v.47 Preparation and use of needles and micropipets for handling very small particles A. S. Teetsov
  3. Appl. Phys. Lett. v.2 P. B. Price;R. M. Walker
  4. McCrone Catalog McCrone microscopes & Accessory