한국정밀공학회:학술대회논문집 (Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference)

한국정밀공학회 2012년도 춘계학술대회 논문집
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Pages.843-844
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2012
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2005-8446(pISSN)

한국정밀공학회 (Korean Society for Precision Engineering)

권호 표지

반도체 TEST에서 Ni-CNT도금된 Socket Pin에 대한 연구

A Study on Ni-CNT coated socket pin in Package Test

김신규 (삼성전자공과대학교 반도체공학과) ;
심보근 (삼성전자) ;
김인식 (삼성전자) ;
최귀흠 (삼성전자) ;
정혁진 (삼성전자) ;
이기두 (삼성전자공과대학교 반도체공학과)

발행 : 2012.05.30

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초록

키워드

반도체 Test

Socket Pin;
Ni-CNT;